废水中总砷含量检测方案(水质重金属)

应用案例Application Notes XOS-TAs 在电子半导体排放废水监测中的应用 1.背景介绍 电子半导体行业近几年发展特别快，随之而来的是生产过程中产生了大量的有毒有害废水，包括酸碱废水、含氟废水、金属废水、有机废水、氰化物废水等，这些废水必须经过处理达标后才能排放。目前，电子半导体行业没有针对性的污染物排放标准发布，其执行的标准仍为《污染物综合排放标准》，但是，电子半导体企业对废水排放有严格的内控指标。电子半导体企业除了监控 COD、氨氮等常规指标外，也非常重视砷、铅等一类重金属污染物的排放量。 厦门某电子公司于2015年采购了一台 XOS 总砷分析仪，用于排口废水总砷监测，测试数据通过 MODBUS 通讯(仪表自带 RS485 接口)传输至 PLC， 实时上传至当地环保局。仪表从企业正常生产后开始运行，连续运行两个多月无需维护，测量数据稳定，用户反馈较好。 2.应用情况 hina Applical 主要仪器： XOS总砷分析仪、CYQ预处理器。 右图为现场安装图。仪表初次安装不需要校准，为检查仪表的测量准确性，配制了 0.4 mg/L的标液，使用仪表自带的标样核查功能，测量结果为 0.399 mg/L.XOS 总砷分析仪与 CYQ预处理器联联，按设定时间定时抽取水样进行分析。CYQ 预处理器的作用是自清洗进样管路和提供连续的流速稳定的水样，确保仪表正常运行，减少维护量。 为保证测量准确性，仪表每天设置1次背景修正，以去除悬浮物附着在膜片上对测量结果的影响。安装后连续测量两个多月，测量数据稳定在0.15~0.30 mg/L 之间，满足 0.5mg/L 的排放要求。运行期间无需人为维护，仪器表现出较好的测量稳定性，与实验室测量结果比对一致性较好，用户较为满意。 应用案例Application Notes 3.总结 (1)XOS总砷分析仪采用单色波长色散X射线荧光法，运行期间不需使用任何化学试剂，不受悬浮物、色度及其他金属离子干扰，测量稳定性较好，维护量极低，可满足电子半导体废水的在线监测要求。 (2) XOS 总砷分析仪初次安装无需校准，校准周期为3-6个月；与动力窗模块配套使用时，可大大降低维护量，最大限度降低维护成本。 (3)XOS 重金属已获得环保认证，可用于废水排口总砷、总铅监测。 案例类型： 应用案例-XOS-TAs 在电子半导体排放废水监测中的应用-电子半导体行业-2017.6.9 aAPT 20176gation HACH中国APP ir Tel： 021-22879200|E-Mail： appchina@HACH.COMHCAH Be Right 背景介绍电子半导体行业近几年发展特别快， 随之而来的是生产过程中产生了大量的有毒有害废水，包括酸碱废水、含氟废水、金属废水、有机废水、氰化物废水等，这些废水必须经过处理达标后才能排放。 目前， 电子半导体行业没有针对性的污染物排放标准发布， 其执行的标准仍为 《污染物综合排放标准》，但是，电子半导体企业对废水排放有严格的内控指标。电子半导体企业除了监控 COD、氨氮等常规指标外，也非常重视砷、铅等一类重金属污染物的排放量。厦门某电子公司于 2015 年采购了一台 XOS 总砷分析仪，用于排口废水总砷监测，测试数据通过 MODBUS 通讯(仪表自带 RS485 接口)传输至 PLC，实时上传至当地环保局。仪表从企业正常生产后开始运行，连续运行两个多月无需维护，测量数据稳定，用户反馈较好。更多关于本案例的详情，请您下载后查看。