高纯度次磷酸钠产品中的杂质阴离子分析

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发布时间: 2014-12-12
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扬州华明仪器设备有限公司

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高纯次磷酸钠在电容器生产领域有着广泛的应用,本文讨论了高纯度次磷酸钠产品中Cl-和SO4-的离子色谱测定方法,获得了较低的检出限和良好的回收率,该方法能够满足纯度99%以上的次磷酸钠样品的杂质含量分析,解决了高纯度次磷酸钠产品杂质中阴离子含量分析困难的现状。

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高纯度次磷酸钠产品中的杂质阴离子分析 侯彩丽 罗地亚-恒昌(张家港)(Rhodia)精细化工有限公司,江苏省张家港市215617,CaiLi.HOU@ap.rhodia.com 摘 要:高纯次磷酸钠在电容器生产领域有着广泛的应用,本文讨论了高纯度次磷酸钠产品中Cl-和SO4-的离子色谱测定方法,获得了较低的检出限和良好的回收率,该方法能够满足纯度99%以上的次磷酸钠样品的杂质含量分析,解决了高纯度次磷酸钠产品杂质中阴离子含量分析困难的现状。 关键词:离子色谱;次磷酸钠;杂质;阴离子 1. 前言 在电容器生产中的化学镀要用到高纯次磷酸及次磷酸盐,而电容器生产对化学试剂的品质要求极高,其中影响次磷酸质量的主要杂质有Cl-和SO4-和重金属等离子。目前常用的Cl-和SO4-的测定方法是传统的滴定法,而滴定法的检测下限并不能满足高纯度产品中痕量阴离子的检测。因此,有必要对离子色谱法测定高纯度次磷酸钠中杂质阴离子的方法进行探讨和开发。本文针对99%以上纯度的次磷酸钠产品中的Cl-和SO4-含量的离子色谱测定方法进行了讨论,方法新颖,在精细化工质量控制领域少有报道。 2. 实验部分 2.1 仪器及试剂 Metrohm-761型离子色谱仪(瑞士万通),配有电导检测器、化学抑制器、低脉冲串联式双活塞往复泵、电子六通进样阀、双通道化学抑制泵。 标准样:Cl-、SO42- (上海市计量院)。碳酸钠、碳酸氢钠均为分析纯,溶液均用电阻率大于18M超纯水配制。 2.2 色谱条件 色谱柱:Metrosep A Supp5 250 型阳离子分析柱(250×4mm),Metrosep A Supp4/5 Guard 保护柱;流动相:3.2mmom/L碳酸钠+1.0mmol/L碳酸氢钠淋洗液,进样体积:20μL,流速:0.7mL/min。 3. 分析步骤 3.1 样品制备 准确称取0.1克样品(准确到0.1mg),用超纯水定容到100mL,使用一次性水相过滤头,过滤头使用前须用超纯水洗涤3~5次,进样前使用注射针吸取样品通过过滤头进样。 3.2 标准曲线的绘制 分别吸取Cl-、SO42-标准液按下表配制混标准,用电阻率大于18M超纯水定容。以峰面积(A)为横坐标,标样浓度为纵坐标绘制标准工作曲线,相关参数如表1。按公式:检测限MDL=3×Noise / H×C可以计算检出限(表2)。结果表明,待测离子Cl-、SO42-分别在0.02~1.0和0.1~1.0ppm的浓度范围内有良好的线性,并且方法检出限低于1ppb,能很好的满足样品中痕量阴离子的检测。 表1 线性方程、相关系数 项目名称 浓度范围,ppm 回归方程 r Cl- 0.02~1.0 C = 0.075284×A-0.002462 0.9999 SO42- 0.1~1.0 C = 1.56683×A-0.17706 0.9998 表2 方法检出限 项目名称 仪器噪音(ns/cm) H(μs/cm) C(ppm) 检测限(ppb) Cl- 0.138 1.41359 1 0.3 SO42- 0.138 0.44319 1 0.9 3.3 样品测定 使用注射器注入待测样品,根据保留时间确定离子种类。软件自动测量各阴离子对应的峰面积,用外标法定量。根据样品的峰面积,通过标准工作曲线得出各种离子的浓度。 4. 分析结果 将配制好的样品分别进样5次,软件记录样品峰面积,并自动计算得到样品浓度和多次进样的相对标准偏差。 本文选用其中一种产品进行了加标回收试验,结果表明回收率在95%105%之间。 标准及样品色谱图如图1和图2所示。 表3 样品浓度及精密度 样品名称 项目名称 平均值,ppm RSD,% 070749A Cl- 0.116 0.262 SO42- 0.058 0.919 070707C Cl- 0.0216 0.359 SO42- 0.0259 0.184 图1 1ppm Cl-、SO42-标准溶液分离色谱图 图2 样品中Cl-、SO42分离谱图 5. 结论 本文讨论了离子色谱法测定高纯度次磷酸钠产品中痕量阴离子含量的可行性,获得了良好的线性和较低的检出限。并且使用了中高容量的色谱柱分离高浓度次磷酸根中其他阴离子,结果标明该分离条件能很好的分离次磷酸根离子和氯离子,不干扰痕量氯离子的定量,为产品质量的控制提供了一个有效、稳定的测定方法。 参考文献 [1] 韩晓丽等,高纯度次磷酸制备新工艺研究,研究与开发,2005,12(2)
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