照射和特殊的氧化刻蚀在惰性的PVDF表面引入了
酸性功能基团。这些基团使等电点（IEP）从未修
饰聚合物表面时的PH4移到了修饰后的PH3.2。并
且修饰后的外表面等电点和孔内表面等电点相
同。从Zeta电位负值的大小我们可以获知内孔表
面亲水性更强，处理效果更明显。
方案详情
SurPASS Application Flash 径迹蚀刻PVDF膜的Zeta电位 ：：：Zeta电位可以给出包括内部和外部膜表面带电情况的综合信息。 对聚偏二氟乙烯(PVDF)先进行照射然后进行化学刻蚀可以得到带有可控尺寸纳米孔的的薄膜。这些薄膜常用来完成捕获血细胞或已知尺寸颗粒的工作。 带有50nm孔的PVDF薄膜的外表面和孔的内表面的带电情况进行了表征。50nm孔让薄膜所具备的渗透性以及孔的密度允许以穿透的模式测试其流动电势。内孔与外表面以及未经处理的PVDF膜的Zeta电位进行了比较。 照射和特殊的氧化刻蚀在惰性的PVDF表面引入了酸性功能基团。这些基团使等电点(IEP)从未修饰聚合物表面时的PH4移到了修饰后的PH3.2。并且修饰后的外表面等电点和孔内表面等电点相同。从Zeta电位负值的大小我们可以获知内孔表面亲水性更强，处理效果更明显。 Zeta 电位 vs pH曲线： 未处理的 PVDF 薄膜和纳米孔 PVDF 薄膜'正切和穿透模式) 在正切模式中，电解液流过膜的表面；在穿透模式中，电解液穿过膜内的孔。 ：：： Reference O. Cuscito， M.-C. Clochard， S. Esnouf， et al， Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B 265 (2007) 309-313
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安东帕(上海)商贸有限公司为您提供《PVDF水处理膜中表面及内孔Zeta电位分析检测方案 》，该方案主要用于环境水（除海水）中其他检测，参考标准--，《PVDF水处理膜中表面及内孔Zeta电位分析检测方案 》用到的仪器有固体表面Zeta电位分析仪SurPASS
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