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上海华岭集成电路技术股份有限公司

上海市 企业

上海华岭集成电路技术股份有限公司拥有超大规模集成电路测试系统、移动通讯芯片测试系统、指纹高性能CPU测试系统、金融卡IC测试系统、指纹识别芯片自动测试系统、3G/LTE多模基带芯片测试系统、智能制造核心芯片测试系统、4G+核心芯片测试系统、自动探针台、千万门级FPGA测试系统等科研仪器。

自动探针台

型号:UF3000

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000

品牌:SK

集成电路测试仪

40nm芯片测试探针台

型号:UF3000

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF200A

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF200A

品牌:SK

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF200A

品牌:SK

集成电路测试仪

智能制造核心芯片测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

射频芯片测试系统

型号:V93000

品牌:爱德万

集成电路测试仪

20/28nm扇出型晶圆测试系统

型号:V93000

品牌:爱德万

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000

品牌:东京精密

集成电路测试仪

芯片测试探针台

型号:UF3000-TSV

品牌:东京精密

集成电路测试仪

3G/LTE多模基带芯片探针系统

型号:UF3000-LTE

品牌:东京精密

集成电路测试仪

射频器件探针系统

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

自动探针台

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

高性能导航芯片探针系统

型号:UF3000EX-e

品牌:东京精密

集成电路测试仪

混合信号芯片测试探针台

型号:UF3000EX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

移动多媒体芯片晶圆测试探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:东京精密

集成电路测试仪

12英寸集成电路全自动探针系统

型号:UF3000EX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

移动通讯芯片测试探针台

型号:UF3000EX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

平板电脑芯片测试探针台

型号:UF3000EX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

加速度计传感器芯片探针系统

型号:UF3000LX

品牌:东京精密

集成电路测试仪

虚拟现实VR芯片晶圆测试探针台

型号:UF3000EX-e

品牌:东京精密

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:V93000

品牌:爱德万

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

高性能CPU与事务处理型CPU测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

高性能CPU与事务处理型CPU测试系统

型号:V93000-E8000Y-CTH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:V93000-E8000Y

品牌:爱德万

集成电路测试仪

3G/LTE多模基带芯片测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:IP750

品牌:泰瑞达

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:IP750

品牌:泰瑞达

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

金融卡IC测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:T2000

品牌:爱德万

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

超大规模集成电路测试系统

型号:J750EX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

智能制造核心芯片测试系统

型号:J750EX-HD

品牌:泰瑞达亚洲

集成电路测试仪

指纹识别芯片自动测试系统

型号:V93000-E8000Y-S-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

指纹高性能CPU测试系统

型号:V93000-E8000Y-CTH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

混合信号芯片测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

超大规模集成电路测试系统

型号:UltraFLEX

品牌:泰瑞达

数模混合信号测试系统

4G+核心芯片测试系统

型号:V93000-E8000Y-ATH

品牌:爱德万

集成电路测试仪

移动通讯芯片测试系统

型号:V93000-E8000Y-CTH

品牌:爱德万

集成电路测试仪
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