超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

J750 1024 CHANNEL TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

数字板：测试通道1024，测试频率200MHz；PPMU：-2～7V，0-2mA;BPMU：-24～24V，0-200mA；DPS：0-10V，0-1A；

主要功能：

用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品，覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。