智能制造核心芯片测试系统
集成电路测试仪
品牌:爱德万
型号:V93000-E8000Y-ATH
仪器名称:
智能制造核心芯片测试系统
英文名称:
V93000 TEST SYSTEM
所属分类:
电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他
学科领域:
电子与通信技术
主要技术指标:
"数字板:128ch per board, 1600Mbps data rate,112MV vector memory、EPA=80ps per board;
PPMU(force/measure):-2~6.5V,40mA; per pin TMU:800Mhz 带宽;
MS-DPS:±8V@8ch、 MAX 8A@per channel;
"
主要功能:
V93K主要用于测试片上系统SoC芯片等复杂度较高的产品,满足集成度高、测试引脚多的产品要求,上海华岭具备强大的程序开发和硬件设计能力,满足客户从测试开发、分析、验证、优化、量产测试的整体测试解决方案。