智能制造核心芯片测试系统

仪器名称：

智能制造核心芯片测试系统

英文名称：

J750EX-HD 512 CHANNEL TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

数字板：测试通道1024，测试频率400MHz；PPMU：-1.5～6.5V，0-50mA; (HSD800/HSD200)BPMU：-24～24V，-200mA-200mA； DPS：0-10V，0-1A；HVDPS: 0-50V，0-100mA； 0-35V，0-250mA；

主要功能：

用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品，覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。