超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

UltraFLEX TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

射频载波频率：12GHz，通讯协议：GSM/GPRS、EDGE、WCDMA、CDMA ONE (IS95)、CDMA2000、Bluetooth、ZigBee、802.11a/b/g/n、 WiMax-e、FM等；8对6.4Gbps高速接口；1024个测试频率1Gbps高速数字测试通道

主要功能：

用于测试高性能微处理器、芯片组、图像处理器、硬盘驱动器、视频游戏设备、SoC、SiP、存储器、基带、网络和宽带等芯片