20/28nm扇出型晶圆测试系统

仪器名称：

20/28nm扇出型晶圆测试系统

英文名称：

20/28nm TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

速率1.6Gbps，电压范围6.5V，全接口协议支持，高精度VI源，高精度时序测量

主要功能：

具有更多组件的测试能力涵盖更多个功耗域(Power Domain)，且能进行快速的同步触发，以提高稳定一致性和提供最快的量测速度。