3G/LTE多模基带芯片探针系统

仪器名称：

3G/LTE多模基带芯片探针系统

英文名称：

3G/LTE Probing Machine

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

"综合精度：3.6um适用晶圆尺寸：8英寸、12英寸温度范围：常温 ～ 150℃X/Y轴最大速度：500mm/sec"

主要功能：

可以提供OCR 标识自动识别，程序控制、自动机械走步，兼容12 英寸/8 英寸晶圆