超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

J750 512 CHANNEL TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

数字板：测试通道512测试频率200MHzLVM:64MDPS:32DSMTO:2

主要功能：

用于测试数字逻辑芯片、高速高精度转换器、片上系统SoC芯片等产品，覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品