典型用户

移动通讯芯片测试探针台

集成电路测试仪 品牌:东京精密 型号:UF3000EX

仪器名称:
移动通讯芯片测试探针台

英文名称:
Auto Probing Machine

所属分类:
电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域:
电子与通信技术

主要技术指标:
"综合精度:2um 适用晶圆尺寸:8英寸、12英寸 温度范围:-50℃~ 150℃ X/Y轴最大速度:500mm/sec"

主要功能:
可以提供OCR 标识自动识别,程序控制、自动机械走步,兼容12 英寸/8 英寸晶圆

典型用户

上海华岭集成电路技术股份有限公司

上海市 企业

上海华岭集成电路技术股份有限公司拥有超大规模集成电路测试系统、移动通讯芯片测试系统、指纹高性能CPU测试系统、金融卡IC测试系统、指纹识别芯片自动测试系统、3G/LTE多模基带芯片测试系统、智能制造核心芯片测试系统、4G+核心芯片测试系统、自动探针台、千万门级FPGA测试系统等科研仪器。

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所使用品牌

东京精密

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