超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

T2000 TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

测试通道：512数据速率：250Mbps配置功能：ALPG、SCANGenerator: 400Msps to 1MspsDigitizer: 128Msps to 1MspsDPS:32Voltage Source: -2V to 12V, VBUMP, Ganging

主要功能：

用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品，覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。