超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

V93000 768 CHANNEL TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

数字板：128ch per board, 1600Mbps data rate,112MV vector memory、EPA=80ps per board； PPMU（force/measure）：-2～6.5V，40mA; per pin TMU：800Mhz 带宽； MS-DPS：±8V@8ch、 MAX 8A@per channel；

主要功能：

支持高速数字、复杂混合信号、Memory、Flash等各类应用，可满足无线通讯集成电路、消费性数字设备、微处理器、图形处理器、高速接口、高速内存等诸多领域产品测试