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核心参数
产地类别： 进口
仪器类别： 光学图形化缺陷检测设备
检出率： 缺陷检出率
Candela®7100系列缺陷检测和分类系统
Candela 7100系列为硬盘驱动器基板和介质提供了高级缺陷检测和分类功能。7100系列硬盘驱动器缺陷检测和分类系统以经过生产验证的Candela产品系列为基础，可帮助制造商对关键的亚微米缺陷进行检测和分类，如微凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷，从而最大限度地提高良率并降低总检测成本。
产品说明
Candela 7100系列高级缺陷检测和分类系统是专为硬盘驱动器基板和介质而设计的。高功率双波长激光器针对当前的关键缺陷挑战进行了优化，多通道散射检测器为全系列基板上亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷的分类提供了更高的灵敏度。7100系列的功能和稳定性确保了一个平台可用于多个工艺控制应用点。
功能
通过整个磁盘的缺陷图对金属和玻璃、基板和介质上的亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷进行检测和分类
通过整个磁盘的缺陷图来更快地获得结果，同时附带对缺陷进行分类以及数据输出可操作的功能
减少对离线检测技术(AFM、SEM、TEM等)的依赖，从而降低总拥有成本
提供手动(7110)或全自动(7140)配置
应用案例
缺陷检测
划痕和隆起检查
微粒和沾污检测
激光纹理分析
碳均匀性分析和碳空洞检测
对记录层和软衬层进行检测
润滑油均匀度分析
磁共振成像
选项
精密的金刚石划线
高灵敏度选项
磁共振成像
离线软件
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KLA晶圆缺陷光学检测设备Candela®7100报价含票含运吗？
KLACandela®7100有现货吗？
企业名称
科磊半导体设备技术（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
外资
信用代码
913100007630299604
成立日期
2004-02-01
注册资本
400万美元
经营范围
半导体及微电子产品生产设备的研发，提供相关工程程序控制和生产管理解决方案，软件开发，提供相关技术转让和技术咨询服务，机械设备及零部件的进出口。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动】
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