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核心参数
产地类别： 进口
仪器类别： 光学图形化缺陷检测设备
主要应用： 采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测
工艺节点： 详见参数
晶圆尺寸： 200mm
产率： 详见参数
分辨率： 详见参数
检出率： 详见参数
Candela 8720表面缺陷检测系统
Candela 8720先进的集成式表面和光致发光(PL)缺陷检测系统可以捕获各种关键衬底和外延缺陷。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。
产品说明
Candela 8720晶圆检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。应用包括射频、功率和高亮度LED的氮化镓检测，能够检测裂纹、晶体位错、小丘、微坑、滑移线、凸点和六角凸点以及外延缺陷。8720检测系统还可用于其他高端化合物半导体工艺材料的缺陷检测，例如用于LED、垂直腔面发射激光器和光子学应用的砷化镓和磷化铟。
功能
对直径达200毫米的高端化合物半导体材料进行缺陷检测。
支持各种晶圆厚度
适用于宏观和微观缺陷，如裂纹、多量子阱扰动、微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污缺陷
应用案例
衬底质量控制
衬底供应商对比
入厂晶圆质量控制(IQC)
出厂晶圆质量控制(OQC)
CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制
晶圆清洗工艺控制
外延工艺控制
衬底与外延缺陷关联
外延反应器供应商的对比
工艺机台监控
行业
高亮度LED、微型LED包括AR|VR
氮化镓的射频和氮化镓的功率应用
通信（5G、激光雷达、传感器）
其他高端化合物半导体器件
选项
SECS-GEM
信号灯塔
金刚石划线
金刚石划线
校准标准
离线软件
光学字符识别(OCR)
光致发光
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KLACandela 8720有现货吗？
企业名称
科磊半导体设备技术（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
外资
信用代码
913100007630299604
成立日期
2004-02-01
注册资本
400万美元
经营范围
半导体及微电子产品生产设备的研发，提供相关工程程序控制和生产管理解决方案，软件开发，提供相关技术转让和技术咨询服务，机械设备及零部件的进出口。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动】
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