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核心参数
产地类别： 进口
F10-AR薄膜厚度测量系统
易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层
F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的第一台仪器。 虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项独家先进技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。
在用户定义的任何波长范围内都能进行最低、最高和平均反射测试。
我们有专门的算法对硬涂层的局部反射失真进行校正。 我们独有的 AutoBaseline 能极大地增加基线间隔，提供比其它光纤探头反射仪高出五倍的精确度。
利用可选的 UPG-F10-AR-HC 软件升级能测量 0.25-15um 的硬涂层厚度。 在减反层存在的情况下也能对硬涂层厚度进行测量。
无须处理涂层背面
我们独一无二的探头设计能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的镜头抑制的更多。
就像我们所有的台式仪器一样，F10-AR 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内即可完成设定。
包含的内容：
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
CP-1-1.3 探头
BK7 参考材料
整平滤波器 (用于高反射基板)
备用灯
额外的好处：
每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
应用工程师可立刻提供帮助（周一 - 周五）
网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
硬件升级计划
常见的选购配件：
UPG-F10-AR-HC 硬涂层厚度测量升级软件
透射测量升级软件
携带箱
KLA白光干涉测厚F10-AR的工作原理介绍
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KLAF10-AR多少钱一台?
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白光干涉测厚F10-AR使用的注意事项？
KLAF10-AR的说明书有吗？
KLA白光干涉测厚F10-AR的操作规程有吗？
KLA白光干涉测厚F10-AR报价含票含运吗？
KLAF10-AR有现货吗？
企业名称
科磊半导体设备技术（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
外资
信用代码
913100007630299604
成立日期
2004-02-01
注册资本
400万美元
经营范围
半导体及微电子产品生产设备的研发，提供相关工程程序控制和生产管理解决方案，软件开发，提供相关技术转让和技术咨询服务，机械设备及零部件的进出口。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动】
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