核心参数
产品种类: 接触式轮廓仪/粗糙度仪
产地类别: 进口
工作原理: 触针式轮廓仪
Zeta™ -20HR高分辨率光学轮廓仪(专用于太阳能电池)
KLA Instruments™ 推出 Zeta™-20HR 高分辨率 光学轮廓仪,专为满足新型太阳能电池的结构表 征和下一代生产工艺的量测需求而设计。
Zeta-20HR提高了光学轮廓仪的分辨率,将对太阳能电 池结构的表征能力拓展至 1μm 以下。这款新型的 Zeta 设备,基于具有 ZDot™ 技术的 Zeta-20 设计,最高可 配备 230mm x 230mm 尺寸的样品载台,并具备所有 标准化且易用的多模测量能力。Zeta 光学轮廓仪是太 阳能电池工艺开发和控制的理想量测工具。
概览
1、横向分辨率相较于 Zeta-20 标准版提升 30%
样品台拓展至 230mm x 230mm,
支持先进的太阳能电池生产工艺
2、用于下一代太阳能电池生产工艺的结构形貌表征
3、改进的数据可视化方式
应用
1、太阳能电池金字塔结构的形貌测量
2、特征结构的形貌和粗糙度测量
太阳能细栅、主栅测量
3、晶圆翘曲和应力测量
4、 金刚石切割线测量
5、激光开槽测量
30nm至100μm的透明薄膜厚度测量,并生成厚度分布图
6、横向尺寸灵敏度>1μm的自动化缺陷检测
太阳能应用
Zeta 光学轮廓仪可对太阳能电池的研发、生产过程中的关键步骤进行量测,包括:(1)金刚石切割线测量,用于监控金刚石切割线 的使用寿命;(2)晶片翘曲和线痕测量;(3)金字塔结构形貌测量,用于监测光能的吸收和转化效率;(4)太阳能电池片的细栅 和主栅的测量,用于监测载流子的传导能力;(5)背电极的测量,用于监测电子流向逆变器的传导能力。
Zeta-20HR 具有比标准版 Zeta-20 更高的横向分辨率;如右图轮廓线所示,在同一个测量点位上对比了Zeta-20HR、 AFM和SEM的测量结果;Zeta 测量时间小于30秒。
硅基太阳能电池表面形貌
可对已镀膜或未镀膜的电池表面金字塔结构进行量测。更强的金字塔结构表征 能力,可测量特征尺寸小至 1μm 的金字塔结构。
太阳能电池金属栅线
太阳能金属细栅和主栅的自动化测量。Zeta-20HR 使用 HDR 技术调整光强, 在单张图像中同时捕捉低反射率减反层和高反射率表面的形貌信息,并结合 自动化检测算法,快速报告测量值。
光刻工艺制备金属栅线
光刻工艺制备金属栅线测量。透明光刻胶对于光学轮廓仪来说是一个挑战,
ZDot点阵技术可自动采集透明光刻胶的上下表面信息和金属表面信息,从而为 先进金属连线导线工艺提供解决方案。
大型样品台
采用 230mm x 230mm 的 XY 测量台,适配新一代太阳能电池的工艺规格, 并兼容传统工艺的尺寸要求。
KLA轮廓仪Zeta™ -20HR的工作原理介绍
轮廓仪Zeta™ -20HR的使用方法?
KLAZeta™ -20HR多少钱一台?
轮廓仪Zeta™ -20HR可以检测什么?
轮廓仪Zeta™ -20HR使用的注意事项?
KLAZeta™ -20HR的说明书有吗?
KLA轮廓仪Zeta™ -20HR的操作规程有吗?
KLA轮廓仪Zeta™ -20HR报价含票含运吗?
KLAZeta™ -20HR有现货吗?
更多
产品手册—Zeta-20HR高分辨率光学轮廓仪
KLA Instruments™ 推出 Zeta™-20HR 高分辨率光学轮廓仪,专为满足新型太阳能电池的结构表征和下一代生产工艺的量测需求而设计。 Zeta-20HR提高了光学轮廓仪的分辨率,将对太阳能电池结构的表征能力拓展至 1um 以下。这款新型的 Zeta设备,基于具有 ZDot™ 技术的 Zeta-20 设计,最高可配备 230mm x230mm 尺寸的样品载台,并具备所有标准化且易用的多模测量能力。Zeta光学轮廓仪是太阳能电池工艺开发和控制的理想量测工具。 横向分辨率相较于 Zeta-20 标准版提升 30% 样品台拓展至 230mmx230mm支持先进的太阳能电池生产工艺 用于下一代太阳能电池生产工艺的结构形貌表征 改进的数据可视化方式 应用 太阳能电池金字塔结构的形貌测量 特征结构的形貌和粗糙度测量 太阳能细栅、主栅测量 品圆翘曲和应力测量 金刚石切割线测量 激光开槽测量 30nm至100um的透明薄膜厚度测量, 并生成厚度分布图 横向尺寸灵敏度>1um的自动化缺陷检测
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2024/05/07
应用说明—太阳能电池量测解决方案KLA Instruments Zetam 光学轮廓仪
太阳能被广泛用于为照明、供暖、泵送、卫星和计算器等小型设备提供电源。太阳能电池大多由单品硅或多品硅制成,是利用光电效应将太阳光直接转化为电能的基本装置。 将品硅锭加工成太阳能电池需要一系列制造工艺,包括晶圆切割、表面制绒、酸洗、扩散、刻蚀、减反膜沉积、激光开槽、接触印刷等。图1为工艺流程中的测量节点,包括金刚石切割线的表面形貌、硅片翘曲/表面粗糙度/边缘倒角、电池片表面金字塔绒面高度和宽度的表征、减反膜厚度和反射率,以及激光开槽、太阳能金属栅线和主栅线的形貌。各项制造工艺中的微小误差都会对电池片的整体能量转换效率造成不利影响,因此对每个工艺环节的质量管控都至关重要。
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2024/05/06
产品手册Zeta -20HR高分辨率光学轮廓仪(专用于太阳能电池)
Zeta™ -20HR高分辨率光学轮廓仪(专用于太阳能电池) KLA Instruments™ 推出 Zeta™-20HR 高分辨率 光学轮廓仪,专为满足新型太阳能电池的结构表 征和下一代生产工艺的量测需求而设计. Zeta-20HR提高了光学轮廓仪的分辨率,将对太阳能电 池结构的表征能力拓展至 1μm 以下。这款新型的 Zeta 设备,基于具有 ZDot™ 技术的 Zeta-20 设计,最高可 配备 230mm x 230mm 尺寸的样品载台,并具备所有 标准化且易用的多模测量能力。Zeta 光学轮廓仪是太 阳能电池工艺开发和控制的理想量测工具。 概览 1、横向分辨率相较于 Zeta-20 标准版提升 30% 样品台拓展至 230mm x 230mm, 支持先进的太阳能电池生产工艺 2、用于下一代太阳能电池生产工艺的结构形貌表征 3、改进的数据可视化方式
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2024/02/21
企业名称
科磊半导体设备技术(上海)有限公司
企业信息已认证
企业类型
外资
信用代码
913100007630299604
成立日期
2004-02-01
注册资本
400万美元
经营范围
半导体及微电子产品生产设备的研发,提供相关工程程序控制和生产管理解决方案,软件开发,提供相关技术转让和技术咨询服务,机械设备及零部件的进出口。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】