核心参数
产地类别: 进口
现在可以很容易地测量曲面样品,包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层, 仅需其他设备一小部分的的价格就能在几秒内得到精确的色彩读值和反射率测量. 您也可选择升级薄膜厚度测量软件, 操作上并不需要严格的训练, 您甚至可以直觉的藉由设定任何波长范围之最大, 最小和平均值.去定义颜色和反射率的合格标准.
只需将F10-ARc插上到您计算机的USB端口, 感谢Filmetrics的创新, F10-ARc 几乎不存在停机时间, 加上40,000小时寿命的光源和自动板上波长校准,你不需担心维护问题。
自动基准功能大大增加基准间隔时间, 量测准确性优於其他光纤探头反射测量系统5倍
可选择UPG - F10-AR - HC软件升级 测量0.25-15μm硬涂层的厚度. 即使在防反射涂层存在时仍可测量硬涂层厚度
我们独家探头设计可排除98%背面反射,当镜片比1.5mm 更厚时, 可排除比例更高
修正了硬膜层造成的局部反射扭曲现象
型号 | 厚度范围* | 波长范围 |
---|---|---|
F10-ARc | 200nm - 15µm** | 380-1050nm |
致电我们的应用工程师提供即时的24小时援助(週一至週五)
网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
硬件升级计划
UPG-F10-AR-HC 硬涂层厚度测量升级软件
携带箱
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KLAF10-ARc有现货吗?
企业名称
科磊半导体设备技术(上海)有限公司
企业信息已认证
企业类型
外资
信用代码
913100007630299604
成立日期
2004-02-01
注册资本
400万美元
经营范围
半导体及微电子产品生产设备的研发,提供相关工程程序控制和生产管理解决方案,软件开发,提供相关技术转让和技术咨询服务,机械设备及零部件的进出口。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】