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安捷伦科技(中国)有限公司
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解决方案
使用 Agilent 5800 ICP-OES 在稀释/ 非稀释模式下同时测定磷酸锰铁锂 (LMFP) 中的主量元素与杂质元素含量
应用领域
材料检测样品
合金检测项目
/本文介绍了一种使用 ICP-OES 同时准确测定磷酸锰铁锂中主量元素与杂质元素含量的方法。该方法将稀释模式与非稀释模式相结合，通过一次分析即可测定主量元素和杂质元
素，而无需单独测定，方便快速；具有出色的灵敏度、准确度和稳定性，能够满足日常测定磷酸锰铁锂中主量元素与杂质元素的分析要求，且分析效率优于传统分析方法。
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采用 Agilent 5 μm MIXED-E 柱以及 RI 和 ELS 检测器 GPC/SEC 法分析聚硅氧烷
应用领域
材料检测样品
聚合物基复合材料检测项目
聚硅氧烷引言
聚硅氧烷是一类重要的商品化聚合物，可用作润滑油、消泡剂和密封剂。聚硅氧烷类材料的凝胶渗透色谱法 (GPC) 分析是其加工及质量控制程序中的一个重要环节。虽然聚硅氧烷溶于四氢呋喃 (THF)，但它与该溶剂的折光率相同。因此，使用THF做溶剂时不能采用示差折光检测器
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安捷伦 ICP-MS 联用技术应用文集
应用领域
材料检测样品
橡胶检测项目
/前言
经过多年发展，元素形态分析作为一种分析方法，已经在分析科学领域有了一席之地。与常规元素分析相比，元素形态分析提供的信息不仅在学术研究方面具有价值，回答了有关生命活动中的重要问题，例如元素在环境中的循环、污染物分解的代谢途径、元素的毒性等，也为食品安全，环境保护提供了权威有力的表征指标。今天的元素形态分析方法，不仅被应用于法规要求的日常检测中，在科研领域也不断发展。
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利用便携式傅立叶变换红外光谱 (FTIR) 分析等离子体处理过的碳纤维增强复合材料 (CFRP)
应用领域
材料检测样品
无机非金属基复合材料检测项目
/前言
由于兼具质量轻、伸缩性好和抗冲击性强等独特性质，工程级的 CRFP 广泛应用于商用和军用航空领域 。CFRP 是一种有机材料，其物理和化学应力与航空制造业中使用的金属有明显的不同 。Agilent 4100 ExoScan FTIR 是一种实用性很高的无损分析仪，可用于检测由于高温暴露对 CFRP 造成的破坏性的化学氧化变化 。在本应用简报中，我们将展示 4011 ExoScan 同样能够有效地测量等离子体处理对 CFRP 剥离层的修复和激活特性，以使 CFRP 各部分之间实现最佳的键合 。
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涂层光学晶片的自动分光光度空间分析
应用领域
材料检测样品
其它检测项目
/前言
频繁且经济有效的光谱表征对于开发具有竞争力的光学薄膜涂层非常重要。完全自动化且无人值守的光谱测量有助于降低每次分析的成本、提高分析效率，还有助于扩展质保程序。在生产过程中，满负荷运转的沉积室中常会涂覆大面积、通常呈圆形的衬底晶片。高效的光学表征工具必须能够在晶片被切割之前从用户指定的晶片表面的特征点获得准确且有意义的信息。
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使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析
应用领域
材料检测样品
其它检测项目
/前言
反射率 (R) 和透射率 (T) 是用于表征材料和光学涂层光学特性的基本测量指标。多角度光度光谱 (MPS) 可对样品从接近垂直到倾斜入射角 (AOI) 之间各种角度 (Θi ) 的反射率和/或透射率进行测量。近期,由安捷伦科技公司开发的 MPS 领域新产品 Cary 7000 通用型分光光度计 (UMS)，可在样品表面的同一点完成反射率和透射率测量，多
次测量间无需移动样品。减少了对多个附件和附件更换/重新配置的需求，可确保获得无与伦比的数据质量，避免一次测量中采用多种分析技术时，产生样品不均匀效应或光谱图不一致的情况。
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了解的价值——安捷伦原子光谱： AA、MP-AES、ICP-OES、ICP-MS、ICP-MS/MS
应用领域
材料检测样品
半导体材料检测项目
/在正确时间了解正确信息
信息可以帮助您突破日常事务中复杂性的束缚，包括样品、仪器、法规需求以及时间和资源上的其他需求 ― 并帮助您应对意料之外的挑战。分析解决方案可以提供的最重要价值，就是使您确信，在任何有需要的时候您均能得到可靠的答案。基于全球客户的反馈和建议，安捷伦开发了涵盖仪器、消耗品、标准品、服务、软件等多个方面的创新原子光谱产品组合，为您的实验室带来从容应对的信心。
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采用安捷伦新型手持式 4300 FTIR 对复合材料热损伤进行无损式评价
应用领域
材料检测样品
聚合物基复合材料检测项目
对复合材料热损伤进行无损式评价在许多行业中，如航空、一般运输、高性能汽车以及体育用品行业，碳或者石墨纤维复合材料正逐渐取代金属结构和部件 。 与传统金属部件相比，这些材料因其重量轻且强度高而受到青睐 。 例如，空客 A350 和波音 787 中采用了大约 50%的复合材料，其中包括机翼和机身部分 。 军用喷气式战斗机和舰艇也采用了这种材料来帮助提高性能 。 随着这些关键而复杂的复合材料应用的发展，人们需要一些新的精密分析工具来执行研发、维护及维修工作。
本应用简报讨论了 4300 手持式 FTIR 在现场无损分析飞机复合材料热暴露及损伤方面的优势。
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材料可靠性鉴别：采用移动 FTIR 光谱仪进行聚合物材料的资格认证、组成验证和伪造品检测
应用领域
材料检测样品
聚合物基复合材料检测项目
聚合物材料的资格认证、组成验证和伪造品检测先进材料开发的进展产生了各种类型的聚合物、塑料、复合材料以及弹性体产品、组分及物体 。 虽然这一系列的材料都具有相似的结构，但由于配方的改变使得这些混合物具有不同的用途和磨损性能 。 因此，这些先进材料及商用物品的开发和制造推动了对分析方法和技术的需求，以便对这些材料的组成进行快速检验和确认 。 此外，随着组分来源日益全球化，保证其可靠性并检测伪造品、贴错标签或不符合指标的聚合物材料和组分是至关重要的 。
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探讨手持式 FTIR 光谱仪的人机工程学设计与测量质量之间的关系
应用领域
材料检测样品
无机非金属基复合材料检测项目
人机工程学设计与测量质量之间的关系专为实验室设计的光谱仪与现场原位检测时使用的光谱仪有着很大的不同 。 例如，实验室使用的仪器通常设计用于水平的平面（如工作台）上，然而手持式光谱仪通常要用于几乎所有场合 。 实验室用 FTIR 光谱仪中采用的干涉仪，在上述的水平条件下工作性能良好。但是处于竖直状态时，这些干涉仪几乎不能工作。鉴于此，安捷伦手持式 FTIR 系统采用了创新的干涉仪设计理念，可以在多种应用要求条件下得到同等质量的数据。
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使用手持式 FTIR 对镀膜材料进行定性和厚度分析
应用领域
材料检测样品
薄膜材料检测项目
对镀膜材料进行定性和厚度分析镀膜材料具有多种用途。有些材料镀膜纯粹是为了美观，而大多数材料镀膜都是根据其物理性质进行应用的，例如能否抑制产品氧化或风化引起的磨损，能否粘结两种互不相容的材料（例如使用底漆的情况）等等。此类保护性镀膜通常为多层工业镀膜，其工艺流程中涉及基底材料、基底预处理、底漆/粘合剂施涂以及用于密封镀膜的面漆或膜压层。为了确保镀膜得到有效施涂和固化，在生产过程中工程师进行下一道工序之前必须等待一段规定的时间。然而，时间的长短可能随着工艺相关条件的不同而变化，因此必须要等待最长的时间才能确保产品可以进入下一工序。
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利用 FTIR 光谱实现整个生命周期的塑料材料鉴定——使用配备 ATR 的 Agilent Cary 630 FTIR 鉴定塑料的 聚合物类型
应用领域
材料检测样品
塑料检测项目
塑料材料鉴定鉴于塑料广泛应用于我们日常的生活中，更充分地了解塑料的生命周期非常有用。从地下开采出来后，原油和天然气会被精炼成多种烃产品，例如乙烷和丙烷[1]。这些产品用作塑料颗粒或微粒的起始材料或结构单元，然后用于生产塑料产品。根据成品的不同，可以使用不同的工艺（如注塑、成型机械和吹塑）对塑料颗粒进行成型加工。最终塑料产品包括大多数行业中使用的各种物品，包括饮料和液体装瓶、包装材料、婴儿用品、玩具、纺织品、建筑以及许多其他样品类型[2]。
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分束器和四分之一波长反射镜的质量控制——多层光学镀膜的多角度 UV-Vis-NIR 测量
应用领域
材料检测样品
薄膜材料检测项目
分束器和四分之一波长反射镜的质量控制光学镀膜和镀膜技术经过多年发展，在设计、生产和表征工艺方面已非常成熟。现在，光学镀膜已非常普及，从研究和空间光学到消费品和工业的应用中都能找到它的身影。光学镀膜应用广泛，包括眼镜、建筑和汽车玻璃、照明和灯光系统、显示器、滤光片、专业反射镜、光纤和通信，以及医用光学。光学镀膜的性能取决于镀膜的规格和基底材料。
设计和制造高质量多层光学镀膜不仅需要精确测量最终生产组件，还需要精确测量薄膜层中材料的光学常数。这些测量结果能够用于（有时）非常复杂的多层镀膜的详细设计。在生产结束时和生产过程中的测量结果也可以用于光学镀膜的逆向工程，提供有关设计制造工艺的反馈[1]。逆向工程的主要目的是检测单层参数中的系统误差和随机误差，有助于改善层控制，优化光学镀膜沉积。
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深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
应用领域
材料检测样品
薄膜材料检测项目
薄膜的光学特性关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129，2012 年 7 月 2 日，第 20 卷，14 号[1]。
高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源（随机或系统）将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
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无人值守的自动化多角度透射率和绝对反射率测量——使用 Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS)
应用领域
材料检测样品
玻璃检测项目
自动化多角度透射率和绝对反射率测量玻璃和玻璃制品已被使用了上千年，形状功能多种多样。上个世纪以来，随着汽车、摩天大楼、家庭住宅和消费品包装大量使用玻璃制品，玻璃的生产和用途多样性得到显著提高。二十世纪五十年代开始，大批量商业化浮法玻璃生产工艺的开发和优化使得激增的需求得到满足。
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薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
应用领域
材料检测样品
薄膜材料检测项目
薄膜的光学表征该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。
精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。
通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
共1台
共1台
深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
应用领域
材料检测样品
塑料检测项目
薄膜的光学特性关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129，2012 年 7 月 2 日，第 20 卷，14 号[1]。
高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源（随机或系统）将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
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使用分光光度法研究二色性
应用领域
材料检测样品
玻璃检测项目
二色性多色性（源自古希腊语 πλέον «更多» + χρόμα «色彩»）是一种从不同角度观察透明晶体时会呈现不同颜色的光学现象[1]。有时颜色变化仅限于明暗变化，例如从淡粉色
到深粉色[2]。
晶体分为光学各向同性（立方晶系）、光学各向异性单轴（六方晶系、三角晶系、四方晶系）和光学各向异性双轴（斜方晶系、单斜晶系、三斜晶系）。
最大的变化限于三种颜色。此现象可以在双轴晶体中观察到，称为三色性。在单轴晶体中可以观察到两种颜色的变化，称为二色性。多色性通常是涵盖上述两种现象的术语[2]。
共1台
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
应用领域
材料检测样品
塑料检测项目
薄膜的光学表征该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。
精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。
通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
共1台
使用 UV-Vis-NIR 漫反射光谱进行高温脱水研究
应用领域
材料检测样品
塑料检测项目
高温脱水研究使用配备 Praying Mantis 附件的 Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR 研究高达 300 °C 下的化学转化
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使用分光光度法测量单晶光学材料的折射率
应用领域
材料检测样品
光学材料检测项目
折射率高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件，采用两种分光光度法，对不同类型的材料，特别是单晶光学材料的折射率进行了研究。两种方法分别为：布鲁斯特定律方法以及在样品表面接近法线的低角度入射测试反射的方法。通过测试表明，两种方法获得的折射率几乎一致。
共2台
利用 Cary 全能型测量附件深入研究薄膜响应 —解决光谱振动问题
应用领域
材料检测样品
薄膜材料检测项目
薄膜响应关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129，2012 年 7 月2 日，第 20 卷，14 号。 高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确性和任何误差的来源（随机或系统）将可以得到更可靠的样品表征数据 。 测量数据集中每一个点的随机误差（随机噪音）都会有所不同，文献指出，随机误差对于表征结果影响很小。但是，系统误差一般来说会造成光谱表征偏移，或导致 T 和 R 曲线的大幅度波长变化，尤其对于薄膜参数精确测定的影响更为显著。
共2台
使用 Agilent 7700x ICP-MS 进行单颗粒分析
应用领域
材料检测样品
纳米材料检测项目
颗粒大小（粒度）及其分布纳米颗粒 (NP) 被定义为尺寸在 1–100 nm 之间的超细颗粒 [1]。由于其体积小，相对于自身重量的表面积非常大，所以它们的反应性质往往不同于相同成分的大体积固体或溶解态材料。因此这种颗粒可为广泛应用带来新颖独特的性质。纳米颗粒现有和潜在的应用范围涵盖食品添加剂、化妆品和药品，直至灭菌包装、燃料电池技术和电子行业。但随着纳米颗粒使用范围的不断增加，人们越来越关心它们的安全性以及对健康的影响。因此，我们亟需开发出适用于纳米颗粒特性评估的分析方法。这些方法必须适合纳米颗粒的特定性质，应不仅能够测定纳米颗粒的质量浓度，还应该可以评估颗粒大小（粒度）及其分布。
共1台
使用高灵敏度 Agilent 8900 ICP-MS/MS 分析 10 nm 金纳米颗粒
应用领域
材料检测样品
纳米材料检测项目
10 nm 金纳米颗粒根据欧盟委员会 (EC) 建议 (2011/696/EU)，出于监管的目的，纳米材料是“含有呈未结合态、聚集体或聚结物颗粒的天然材料、人为偶发 材料或制造材料，其中 50% 以上颗粒的粒径分布数量中，三维尺寸 至少有一维介于 1 nm-100 nm 之间”。具有纳米级外形尺寸或内部 结构的材料表现出材料宏观尺度形态中不存在的独特性质。Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 具有低背景 (< 0.2 cps) 和高达 Gcps/ppm 的灵敏度，非常适合小颗粒检测。此外，8900 系统能够以极短的 (0.1 ms) 驻留时间运行，支持非常快速的时间分辨分析 (TRA) 采集，从而可提高信噪比。
共1台
