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涂层光学晶片的自动分光光度空间分析
2024/04/02 16:28
阅读：31
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方案摘要：
产品配置单：
Agilent Cary 7000 全能型分光光度计（UMS）
型号： Cary 7000
产地： 马来西亚
品牌： 安捷伦
¥150万 - 200万
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方案详情：
专为 Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 和全能型测量附件包 (UMA) 设计的安捷伦固体自动进样器可容纳直径达 200 mm (8") 的样品，并提供 UV-Vis 和NIR 光谱范围内的角度绝对反射率和透射率数据。
此前的研究已经证明，将 Cary 7000 UMS 与自动进样器相结合，能够对 32x 样品支架上的多个样品进行自动化、无人值守的分析 [1]，并对氧化锌锡(ZTO) 涂层的线性能带隙梯度进行空间测绘 [2]。本研究使用配备自动进样器的 Cary 7000 UMS 对直径 200 mm 晶片上的涂层均匀性进行了自动化的角度分辨测绘。
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