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束蕴仪器（上海）有限公司

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应用分享 | 异形器件的失效分析测试方案之原位XPS+AES

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

元器件

失效分析（Failure Analysis）是探究元器件失效根源的重要手段，旨在为元器件设计、工艺、制造等流程提供改进方向，从而提升产品良率和可靠性。

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PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

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应用分享 | 固态电池中电解质/金属锂界面的XPS-HAXPES表征

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

固态电池

以立方石榴石型Li7La3Zr2O12 (LLZO)作为固态电解质的固态电池（SSB），具有高锂离子电导率、低电子导电率（EC）、高机械和热稳定性以及宽电化学窗口等特点，有望成为推动下一代储能技术腾飞的“种子选手”。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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应用分享 | Bruker SkyScan XRM 在电池与清洁能源领域的应用

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

电池

随着全球对清洁能源需求的日益增长，电池技术的进步成为推动这一转变的关键因素之一。Bruker SkyScan X射线显微镜（XRM）因其在非破坏性高分辨率成像方面的优异表现，正在电池材料研发与质量控制中扮演着日益重要的角色。

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三维X射线显微镜（XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版

SKYSCAN 2214 CMOS版

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晶体日记（十六）：APEX4 -从“数据库”里寻找答案

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

晶体学有时会让人觉得很神奇，透过一个晶体，我们可以看到微观的结构细节。但是晶体在肉眼下就只是晶体，没有X射线我们就只能看着它，可能对它无从下手。而且晶体结构解析需要有一些已知的信息，不然我们就没有办法知道这里面会有什么。

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布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

D8 Advance

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晶体日记（十四）- 真实的数据质量（1）

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

晶体数据很清晰的显示的原子的位置，在Checkcif里却认为是有问题的Alert。如果是修，自然是可以修掉的，但是作为一个晶体学工作者的尊严，为了修而修，这不是科学，就成了画画了。

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布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式（台式）衍射系统（XRD）D6 Phaser

多功能桌面式衍射系统（XRD）D6 Phaser

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晶体日记（十五）- 真实的数据质量（2）

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

也许是历史传统的问题， Rint （Rsym，Rmerge）被选中了作为评判数据标准的指标。甚至在很多不是很专业的书里，学生们都被告知Rint 需要低于多少，I/σ高于多少才能表示数据可用。

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布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

D8 Advance

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晶体日记（十一）-寻找“Q”峰背后的原因(4):“单选题”or“多选题”

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

对于非缺面孪晶导致|Fo|不对的问题，如果我们养成了良好的习惯：对于所有的晶体都应在RLATT里检查倒易点阵的排列，那么我们就会马上去发现晶体的问题。然而除了非缺面孪晶，晶体的问题还包括很多。。。。。。

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布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

D8 Advance

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晶体日记（十）- 寻找“Q”峰背后的原因(3)：孪晶有“鬼”

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

关于很多同学眼中的“鬼峰”，我们看过了“答案”起源于基本的数据处理（数据还原和数据校正）对|Fo|的影响。很多时候在遇到偏大的Q峰的时候，不管是一些审稿人还是学生，都会马上去想到“吸收校正”（不知道这个想法起源于何处），然后很多同学会莫名地把90%的原因归结于此。

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布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

D8 Advance

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应用分享 | GCIB团簇离子尺寸的自主调控和实际测量

应用领域

材料

检测样品

金属材料

检测项目

金属材料

离子溅射源，作为表面分析设备（如XPS、AES和TOF-SIMS）的重要组件之一，不仅能清洁样品表面，还能辅助深度剖析，揭示样品的内在结构。

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GCIB-70 离子源系统

GCIB-70

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应用分享 | 燃料电池电极界面的XPS-HAXPES表征

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

燃料电池

质子交换膜燃料电池（PEMFC），作为化石燃料极具潜力的可替代者而备受关注。燃料电池由阳极、阴极和电解质组成，其中电催化氧气还原和氢气氧化分别在不同的电极上单独进行，电子和质子分别通过电路和离子交换膜传输。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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晶体日记（十三） - “心结”

应用领域

材料

检测样品

新材料/先进材料

检测项目

晶体

有些有意思的晶体只在书里看到过，现实中总也碰不到就觉得特别的惋惜。不过就算遇到了，心里也在那里犯嘀咕，不到后面解出合理的结构，总不能确定到底猜谜猜的对不对。

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布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

D8 Advance

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晶体日记（十二）-寻找“Q”峰背后的原因(5)：无意的无序

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

晶体

读书时，老师和师兄们总教导我们要把蛋白提纯了再去长晶体。纯度越高越好（>95%），这样晶体才能长得漂亮。于是各种层析柱子的提纯成了日常较多的工作。

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布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式（台式）衍射系统（XRD）D6 Phaser

多功能桌面式衍射系统（XRD）D6 Phaser

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应用分享 | FIB-TOF‖高效的TOF-SIMS深度分析

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

合金

聚焦离子束（Focused Ion beam，简称FIB）技术是利用静电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割技术。离子束轰击样品时，其动能会传递给样品中的原子/分子，产生溅射效应，从而达到不断蚀刻，进而切割样品的效果。

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 | 钙钛矿太阳能电池中的能级调控和改性

应用领域

能源/新能源

检测样品

太阳能

检测项目

太阳能电池

钙钛矿材料因具备较长的电子-空穴扩散长度、较大的光学吸收系数、较强的激子跃迁及可低温制备等诸多优点, 成为了光伏太阳能领域的研究热点。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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应用分享 | TOF-SIMS在光电器件研究中的应用二

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

光电器件

宽带隙钙钛矿（1.68 eV）是两端钙钛矿/硅叠层太阳电池的重要前电池吸光材料。然而，这类宽带隙钙钛矿太阳电池中存在大量缺陷诱导的非辐射电荷复合，导致器件开路电压（VOC）远低于理论值，严重限制了器件效率的进一步提升。

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 |PHI XPS对碳纤维复合材料和分析

应用领域

材料

检测样品

复合材料

检测项目

碳纤维复合材料

我们的用户利用PHI VersaProbe设备对嵌入磁性CoNi合金颗粒的掺氮碳纤维复合材料表面进行了表征，研究发现该材料表现出优异的电磁波吸收性能。该项工作发表于《Colloid and Interface Science》1上，引用频次相当高(一年内已被引用24次)。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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应用分享 | TOF-SIMS在光电器件研究中的应用

应用领域

半导体

检测样品

光电器件

检测项目

电池器件

光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来，基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展，目前报道的光电转化效率已接近26%。

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 | HAXPES∣多层结构器件界面的无损深度分析案例

应用领域

半导体

检测样品

光电器件

检测项目

电子元器件

XPS的探测深度在10nm以内，然而对于实际的器件，研究对象往往会超过10 nm的信息深度，特别是在一些电气设备中，有源层总是被掩埋在较厚的电极之下。因此，利用XPS分析此类样品，需要结合离子刻蚀技术。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

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应用分享 | Bruker D6 PHASER对钨薄膜进行反射率应用分析

应用领域

材料

检测样品

新材料/先进材料

检测项目

薄膜

XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法，是一种纳米尺度上的分析方法，同时可实现无损分析。

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布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式（台式）衍射系统（XRD）D6 Phaser

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应用分享 | 原位冷冻TOF-SIMS对斑马鱼RPE组织的生物成像

应用领域

生物产业

检测样品

其他

检测项目

斑马鱼

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。因其免标记、高灵敏、多组分检测和高空间分辨成像等优势，为诸多生命科学问题的研究提供了重要的技术支持。

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 | 锂离子电池充放电下的原位XPS表征

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

锂离子电池

锂离子电池(LIBs)和锂金属电池(LMB)都是多层的复杂体系，具有多种材料和界面，每个膜层和界面在性能和稳定性方面都起着关键作用。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

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布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列（五）— 残余应力分析

应用领域

材料

检测样品

其他

检测项目

薄膜

残余应力是材料在经过焊接、铸造、成型、机械加工或薄膜沉积等过程中残留在材料中的内应力。残余应力分析对于了解这些内应力如何影响部件的性能和使用寿命非常重要

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布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式（台式）衍射系统（XRD）D6 Phaser

多功能桌面式衍射系统（XRD）D6 Phaser

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应用分享 | PHI X射线光电子能谱仪在光学中的应用

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

带隙（Band Gap）

带隙（Band Gap），亦被称为禁带宽度，是半导体材料的重要参数之一。它不仅揭示了价电子被束缚的紧密程度，还是衡量半导体光学性能优越与否的重要指标。

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PHI X射线光电子能谱仪

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应用分享 | PHI TOF-SIMS助力锂电的绿色可持续发展战略

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

锂电

随着国内新能源汽车销量高速增长，动力电池装机量也随之迅速攀升。鉴于新能源汽车动力电池的平均使用寿命约为6~8年，动力电池在未来2-3年内将迎来大规模退役潮，因此动力电池的回收已成为全国甚至全球相关产业可持续发展的关键。锂的回收需要考虑诸多问题，如回收效率、回收成本、环境污染以及方法的可行性等。传统的废锂回收方法主要有火法冶金、湿法冶金、生物冶金和电化学萃取等。然而，根据全球环境规划署（United Nations Environment Programme）的报告，欧盟的废LIB回收率不5%，这意味着废锂的回收仍然面临着极大的挑战。

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

薄膜

角度分辨X射线光电子能谱（Angle resolved XPS，ARXPS）是通过改变光电子起飞角，能量分析器检测到样品表面不同深度区域激发出来的光电子，进而得到样品化学信息的深度分布。ARXPS常用于对具有不同膜层结构的超薄膜样品进行分析，通常测试的膜层厚度要小于7.5 nm。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列（四）— 分子筛表征

应用领域

材料

检测样品

新材料/先进材料

检测项目

介孔

X射线衍射（XRD）是表征有序材料结构的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以观察到相干信号，这些信号可以用来表征分子筛材料（比如ZSM-41或SBA-15）中圆柱形孔的周期性排列。

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布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式（台式）衍射系统（XRD）D6 Phaser

多功能桌面式衍射系统（XRD）D6 Phaser

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应用分享 | 反光电子能谱IPES专辑

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

酞菁铜

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态（occupied state）和非占据态（unoccupied state）电子结构的共同影响。

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PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

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应用分享 | AES在月壤研究中的应用

应用领域

材料

检测样品

新材料/先进材料

检测项目

月壤

表面是指固体表面一个或数个原子层的区域，是与外界进行物质交换和能量交换的通道，其性质（如化学组成、原子排列、电子状态等）与体相具有诸多不同，但是材料的表面行为往往决定了材料/器件的功用和性能。

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PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 710

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应用分享 | 二次离子质谱中的基体效应

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

基体

在使用二次离子质谱（SIMS）技术对样品进行定量分析时，常遇到一系列棘手的问题：即便在浓度相同、测试条件一致的情况下，同一组分在不同的化学环境中二次离子产额可能跨越几个数量级；

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飞行时间二次离子质谱仪

PHI nanoTOF3+

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应用分享 | AES在钛合金增材制造中的应用

应用领域

材料

检测样品

合金

检测项目

钛合金

Ti-6Al-4V是一种典型的α+β型两相钛合金，在航空、医疗器械、舰船等方面应用普遍。鉴于钛对氧的亲和性好，电子束熔炼（EBM）是钛合金增材制造推荐工艺。

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PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 710

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公司地址：上海市松江区新桥镇千帆路288弄3号楼602室-1 联系人：蒋健林邮编： 201106 联系电话： 400-860-5168转4058

主营产品：

X射线衍射仪(XRD) 少子寿命测试仪 X光电子能谱仪(XPS/ESCA) 其它X射线(衍射)仪其它无损设备

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晶体日记 （十五）- 真实的数据质量（2）

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晶体日记 （十）- 寻找“Q”峰背后的原因(3)：孪晶有“鬼”

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晶体日记 （十二）-寻找“Q”峰背后的原因(5)：无意的无序

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晶体日记（十四）- 真实的数据质量（1）

晶体日记（十五）- 真实的数据质量（2）

晶体日记（十一）-寻找“Q”峰背后的原因(4):“单选题”or“多选题”

晶体日记（十）- 寻找“Q”峰背后的原因(3)：孪晶有“鬼”

晶体日记（十三） - “心结”

晶体日记（十二）-寻找“Q”峰背后的原因(5)：无意的无序