您好,欢迎访问仪器信息网
注册
束蕴仪器(上海)有限公司

关注

已关注

金牌7年 金牌

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转4058

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 束蕴仪器 > 解决方案 > 布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列(四)— 分子筛表征

布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列(四)— 分子筛表征

2024/07/02 13:51

阅读:9

分享:
应用领域:
材料
发布时间:
2024/07/02
检测样品:
新材料/先进材料
检测项目:
介孔
浏览次数:
9
下载次数:
参考标准:
其他

方案摘要:

X射线衍射(XRD)是表征有序材料结构的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以观察到相干信号,这些信号可以用来表征分子筛材料(比如ZSM-41或SBA-15)中圆柱形孔的周期性排列。

产品配置单:

分析仪器

布鲁克BrukerX射线衍射仪(XRD)多功能桌面式(台式)衍射系统(XRD)D6 Phaser

型号: 多功能桌面式衍射系统(XRD)D6 Phaser

产地: 德国

品牌: 布鲁克

面议

参考报价

联系电话

方案详情:

X射线衍射(XRD)是表征有序材料结构的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以观察到相干信号,这些信号可以用来表征分子筛材料(比如ZSM-41或SBA-15)中圆柱形孔的周期性排列。
案例分析

低角度数据采集需要严格控制空气散射和照在样品上的光斑面积。通过适当地选择一个固定尺寸的主光路发散狭缝和一个固定的防空气散射屏,可控制上述的两个条件。在D6 PHASER上使用动态光束优化(DBO)系统,从而使光路和光斑的控制更加的方便和优化可调。DBO包含可变发散狭缝(VDS)、马达驱动防空气散射屏(MASS)和可变的探测器窗口。

 ▲图1. D6 PHASER配备可变发散狭缝(VDS)、动态光束优化系统(DBO)、马达驱动防空气散射屏(MASS)和LYNXEYE XE-T探测器。

Santa Barbara Amorphous 15(简称SBA-15)是一种基于均匀的六角取向孔骨架的介孔二氧化硅基分子筛。SBA-15具有很高的内表面面积,通常为400-900 m2/g,孔径分布较窄,孔径约为5-15 nm,壁厚为3.1-6.4 nm。   

▲图2:SBA-15的结构,由短程有序的二氧化硅基质(浅蓝色)和有序的六方排列的圆柱形纳米孔(白色)组成,孔距为a。

图3中的数据显示了从0.5-4°的2θ角范围收集的图谱,其中可以识别出几个峰。峰可以通过二维六角形对称性进行索引,观察到的一个峰的角度低至0.82°。使用反映六边形对称性的空间点群(P6mm)来精修数据(图4)。拟合得到的晶格参数a=12.5 nm,在六方平面上对应的是孔与孔之间的距离。

▲图3:SBA-15的低角度衍射峰。

(数据采集的条件:使用D6 PHASER衍射仪, 功率1200 W,Cu靶辐射线,无Ni滤光片,1.5°soller狭缝,使用可变主光路发散狭缝、马达驱动防空气散射屏和LYNXEYE XE-T探测器(探测器窗口0.3°),总扫描时间为21分钟。)

▲图4:使用DIFFRAC. TOPAS软件对SBA-15进行Pawley拟合。

衍生应用

D6 PHASER不仅提供了介孔的排列和间距。这些孔还可以用作基质,一些纳米材料可以被附载到其中,这为SBA-15和其他介孔材料开辟了广泛的应用,如催化、吸附和分离的环境处理、药物递送系统或气体传感器。D6 PHASER还有助于确保附载后的介孔结构的完整性,并监测孔之间的间距的任何变化。

下载本篇解决方案:

资料文件名:
资料大小
下载
全新台式D6PHASER应用报告系列(四)——分子筛表征.docx
1736KB
相关仪器

更多

PHI 硬X射线光电子能谱仪

型号: PHI GENESIS 900

面议

PHI 710俄歇电子能谱仪

型号:PHI 710

面议

飞行时间二次离子质谱仪

型号:PHI nanoTOF3+

面议

相关方案

应用分享 | TOF-SIMS在光电器件研究中的应用

光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来,基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展,目前报道的光电转化效率已接近26%。

半导体

2024/07/17

应用分享 | HAXPES∣多层结构器件界面的无损深度分析案例

XPS的探测深度在10nm以内,然而对于实际的器件,研究对象往往会超过10 nm的信息深度,特别是在一些电气设备中,有源层总是被掩埋在较厚的电极之下。因此,利用XPS分析此类样品,需要结合离子刻蚀技术。

半导体

2024/07/17

应用分享 | Bruker D6 PHASER对钨薄膜进行反射率应用分析

XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法,是一种纳米尺度上的分析方法,同时可实现无损分析。

材料

2024/07/17

应用分享 | 原位冷冻TOF-SIMS对斑马鱼RPE组织的生物成像

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。因其免标记、高灵敏、多组分检测和高空间分辨成像等优势,为诸多生命科学问题的研究提供了重要的技术支持。

生物产业

2024/07/10

束蕴仪器(上海)有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 束蕴仪器(上海)有限公司

公司地址: 上海市松江区新桥镇千帆路288弄3号楼602室-1 联系人: 蒋健林 邮编: 201106 联系电话: 400-860-5168转4058

仪器信息网APP

展位手机站