核心参数
仪器种类: 原子力显微镜
产地类别: 进口
仪器类型: 材料型
定位检测噪声: X-Y≤0.25nm, Z≤0.03nm
样品尺寸: 直径≤50mm, 厚度≤20mm
样品台移动范围: 20mm*20mm
用户单位
采购时间
采购数量
湖南大学
2017/11/11
1
东北电力大学
2017/08/11
1
陕西科技大学
2017/06/14
1
浙江大学
2017/07/04
2
天津大学
2018/07/03
1
Park 原子力扫描探针Park NX10的工作原理介绍
扫描探针Park NX10的使用方法?
Park 原子力Park NX10多少钱一台?
扫描探针Park NX10可以检测什么?
扫描探针Park NX10使用的注意事项?
Park 原子力Park NX10的说明书有吗?
Park 原子力扫描探针Park NX10的操作规程有吗?
Park 原子力扫描探针Park NX10报价含票含运吗?
Park 原子力Park NX10有现货吗?
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电化学原子力显微镜(EC-AFM)实时监测铜在金表面的电沉积
近年来,对电化学过程的理解如电沉积(也称电镀)在各种科学技术中的作用变得非常凸显,包括括微电子、纳米生物系统、太阳能电池、化学等其他广泛应用。〔1,2〕电沉积是一种传统方法,利用电流通过一种称为电解质的溶液来改变表面特性,无论是化学的还是物理的,使得材料可适合于某些应用。基于电解原理,它是将直流电流施加到电解质溶液中,用来减少所需材料的阳离子,并将颗粒沉积到材料的导电衬底表面上的过程[3 ]。此项技术会普遍增强导电性,提高耐腐蚀性和耐热性,使产品更美观。良好的沉积主要取决于衬底表面形貌〔4〕。因此,一项可以在纳米等级上测量,表征和监测电沉积过程的技术是非常必要的。有几种方法被应用到了这种表面表征。例如像扫描电子显微镜(SEM)和扫描隧道显微镜(STM)。 这些技术可以进行纳米级结构的测量,但是,其中一些为非实时下的,一些通常需要高真空,而另一些则由于其耗时的图像采集而不适用于监测不断变化的过程。[2,5] 为了克服这些缺点,电化学结合原子力显微镜(通常称为EC-AFM)被引入进来。 这种技术允许用户进行实时成像和样品表面形貌变化的观测,并可以在纳米级的特定的电化学环境下实现。[ 6 ] 在此次研究中,成功地验证了铜颗粒在金表面的沉积和溶解。利用Park NX10 AFM在反应过程中观察铜颗粒的形态变化,并在实验过程中使用恒电位仪同时获得电流-电压(CV)曲线。
钢铁/金属
2019/07/04
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Park SThM USER'S MANUAL 扫描热显微镜用户操作手册
SThM技术通过使用带有电阻元件的热探针来绘制样品表面的热特性。扫描热显微镜(SThM)在两种模式下是可用的,热力模式(TCM)和热传导模式(CCM)。TCM允许用户测量样品表面的温度变化。CCM允许用户测量样品表面的热导率变化。
1858KB
2019/11/26
Park NX系列MFM USER'S MANUAL 磁力显微镜用户操作手册
磁力显微镜(MFM)是一种通过测量磁化尖端和磁性表面之间的磁力来绘制样品表面磁性的技术。MFM图像包含有关磁性的信息,如磁域的分布。
2060KB
2019/11/26
Park NX系列 EFM User's Manual 静电力显微镜用户操作手册
静电力显微镜(EFM)是一种通过测量样品表面和偏压AFM悬臂之间的静电力来反映样品表面电学性质的技术。EFM图像包含有关电子特性的信息,如样品表面的表面电位和电荷分布。
2641KB
2019/11/26
Park NX系列 C-AFM Users Manual 操作手册
在C-AFM测量中,导电尖端以接触模式AFM扫描表面,以映射出同一表面的形貌。同时,通过测量针尖与样品之间的电流,来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下,针尖与样品之间的电流非常小,需要用电流放大器放大后才能加工成图像。NX系列SPMs支持10^6~10^12 V/A可变增益的内部电流放大器,满足各种测量条件的需要。
2158KB
2019/11/26
网络讲座:导电原子力显微镜(C-AFM)在二维材料及纳米电子器件中的应用
导电原子力显微镜(C-AFM)是一种非常有用的扫描探针显微镜(SPA)纳米表征技术,它不仅可以对样品的形貌进行表征,更重要的是可以探测许多介质材料和电子器件的局部电学性质。C-AFM技术已经成功表征了介质薄膜的许多重要的纳米级现象,比如:局部缺陷、电荷捕获和释放、应力诱导漏电流、负偏置温度不稳定性等。   目前,随着电子器件尺寸和介电材料厚度的不断缩减,纳米级电学性质表征技术手段的应用和发展变得日益重要。本讲座首先简要介绍C-AFM技术的发展历程、工作原理、工作特点及方式;其次重点介绍C-AFM技术在二维材料和忆阻器中的电学表征应用。   具体内容是利用C-AFM技术:1.研究化学气相沉积法制备的六方氮化硼(h-BN)的电学性质:介质击穿特性和厚度及电学性质均一性;2.在不同环境(大气和真空)下探测h-BN基忆阻器的阻变特性及导电细丝的形态表征;3.通过与其它电学设备相结合,实现更高性能的技术表征。最后,探讨未来多探针SPA技术的发展概念,有望实现在真空环境下对材料或器件的原位制备和表征。 主讲人: 惠飞博士 现以色列理工学院博士后,2018年7月获得巴塞罗那大学和苏州大学双博士学位。在攻读博士期间,她曾先后到世界顶级名校美国麻省理工学院和英国剑桥大学进行为期12个月和6个月的访学。在科研方面,5年时间内,她共参与发表SCI期刊学术论文38篇,其中,一作论文11篇,包括顶级期刊Nature Electronics, AdvancedFunctional Materials, ACS Applied Materials & Interfaces, 2D Materials, Nanoscale等。另外,她还参与德国Wiley出版的专著篇章一部,获批国家发明专利一项,申请国际专利两项,参与申请国际间/国家自然科学基金项目等8项。曾获得2019 ParkAFM博后奖学金、英国皇家化学会学者奖学金等。她的主要研究领域是化学气相沉积法制备二维材料及其在电子器件领域内的应用。
2941KB
2019/11/06
Park NX-Wafer 产品彩页介绍
具有自动缺陷检测&原子力轮廓仪功能的低噪声,高吞吐量原子力显微镜。NX-Wafer原子力显微镜提供精确的形貌量测,可用来监控化学机械研磨平面化制程,检测因材料差异所造成异质材料间的凹陷(dishing)效应与浸蚀(erosion)效应
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2019/11/06
Park NX-Hivac产品彩页介绍
用于失效分析应用的高真空扫描,再高真空条件下进行SSRM(Scanning Spreading-Resistance Microscopy-扫描扩展显微镜)测量能够减少所需的针尖-样品相互作用力,并减少对样品和针尖的损伤,延长针尖的使用寿命,并能通过提高空间分辨率和信噪比从而提供更准确的结果。
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2019/11/06
Park原子力显微镜NX12彩页
Park NX12有纳米级分辨率成像以及电,磁,热和机械性能测量的能力;纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜(SICM)。
1392KB
2019/11/06
帕克原子力显微镜XE15使用手册
Park XE15具备多个特殊功能,是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析时研究晶片等的不二选择。合理的价格搭配强健的性能设置,使其成为业内性价比最高的大型样品原子力显微镜。
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2018/07/17
Park原子力显微镜NX20使用手册
作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器,其主要目的是对样品进行缺陷检测。 而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20,这款全球最精密的大型样品原子力显微镜,凭借着出色的数据准确性,在半导体和超平样品行业中大受赞扬。
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2018/07/17
帕克网络讲堂:原子力显微镜测定力—距离曲线的原理和应用
1. 力和距离曲线在表面科学,纳米技术,生物科学 和许多其他研究领域中也扮演了非常重要角色。 2. 力和距离曲线是Park所有机台的默认配置,不需要 特殊的模块配合使用,但是很少人充分利用。 3. 操作简单,但是涉及的难点却很多。如探针的选择, 参数的设定,悬臂的校准等等。 4. 不仅有一般力和距离曲线,还包括液下力和距离曲 线,还有Park 推出的PinPoint模式也都是这个领域的 延伸。 5. 对于特殊材料进行力曲线分析,如细胞等样品,探 针的改良也是一种保护样品不被破坏的途径,并能够 让测量变成更容易的几何运算。它也是一种力曲线的分析难点之一。
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2018/07/12
利用Park NX系统的全自动原子粒显微镜测量及分析
多年来,为了不断满足市场需求和同比更快更高效的设计,半导体元件尺寸已经达到甚至小于1X纳米节点。元件制造方法一直在提高,从2006年的65纳米达到了2014年的14纳米1X节点。国际半导体技术路线图目前预测第一个替代1X的7纳米元件或许会在2017年初次登场。[1]为了延续这样的速度,制造商必须有满足分辨率、精密度和精确度的计量要求的能力。满足这些需求的器械必须提供用于临界尺寸测量的纳米成像技术,测量结果可重复并且在大规模生产环境中能精确到提高生产力。[2] 为了应对这些挑战,通过Park系统,用原子力显微镜(AFM)工具和为自动采集和分析数据而特别定制的软件研发出一个引人注目的纳米测量方案。该软件被命名为Park XEA [3],设计这个软件的目的是为了让过程控制工程师使用AFM系统获得目标元件准确和可重复的纳米级图像,依据用户自定义的程序定制配套文件。相应的增加生产力,使这种结合的软件和硬件方案吸引各个圆片级元件制造工厂。
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2018/06/28
使用扫描电容显微术(SCM)和扫描开尔文探针显微术(SKPM)成像的半导体器件的电学表征
由于半导体器件(如晶体管、二极管以及集成电路)在电路系统中的重要性,半导体器件构成了现代电子学的基础。这些半导体器件应用广泛。最普遍的应用是设计和制造1)常见的模拟设备,如无线电广播设备以及2)数字电路,用于计算机硬件。[1]影响半导体器件性能的基本因素是主要的电参数,如掺杂剂浓度水平、载体类型以及缺陷密度。因此,评估半导体器件可靠性必须用到一种能够测量这些特征并研究纳米样品的技术。对于半导体器件来说,有好几种表征方法。例如,扫描电子显微镜检查法(SEM)、透射电子显微镜法(TEM)、二次离子质谱法(SIMS)、电子束诱生电流法(EBIC)以及一维电容电压测试法(C-V)等[2]。但是,一些方法具有破坏性,一些方法的样品制备要求很苛刻,还有一些仍然不能有效的测定子器件的二维量。这些缺陷的存在以及行业内开始盛行对半导体器件不断缩小的尺寸和高可靠性的要求,促进了对新一代表征工具的需要。为了解决半导体器件工艺计量中的这一新的难度,各种类型的扫描探针显微术(SPM)被用来迎接这一挑战。扫描电容显微术(SCM)和扫描开尔文探针显微术(SKPM)与原子力显微术(AFM)相结合是半导体器件表征最有力的方法,因为它们具有无损扫描能力,在测量纳米样品方面具有较高的精确度,且无需制备任何样品。此外,这些方法与原子力显微术(AFM)的结合,使得同时获取表面状态数据和电学性质数据成为可能,而且无需改变样品或探针尖端。为此,扫描电容显微术(SCM)和扫描开尔文探针显微术(SKPM)被用来探究静态随机存取储器(SRAM)器件,而且资料表明,这些技术是半导体器件电学性质表征的有效手段。
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2018/06/28
什么是原子力显微镜(基本教程)
原子力显微镜是纳米研究技术中最常用也是最基础的一个仪器。它不仅是一种高分辨率的三维形貌成像仪器还可以为工程师和研究者提供各种类型的表面测量。特别是在埃的分辨率范围,强大的原子力显微镜可以在样品制备最小化的情况下生成原子分辨率的图像处理。 那么,原子力显微镜又是怎么操作的呢?我们用视频动画的形式特别解说了原子力显微镜的工作原理,https://i.youku.com/i/UNjA1MDIwNzUy?spm=a2hzp.8244740.0.0,详细内容可参考文章。
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2017/12/14
Park原子力显微镜XE7使用手册
Park XE7配有Park Systems的所有顶尖技术,而且价格十分亲民。与Park Systems的其他高级型号相比,XE7在细节的设计上也相当用心,是帮助您准时且不超预算地完成研究的理想之选。
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2017/12/07
Park原子力显微镜NX10使用手册
Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有 。无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间,让您可以更加专注于创新研究工作。
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2017/12/07
Park帕克原子力显微镜
公司地址
北京市海淀区彩和坊路天创科技大厦518室
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