2019/07/04 10:29
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产品配置单:
Park NX10 帕克原子力显微镜
型号: Park NX10
产地: 韩国
品牌: Park 原子力
¥100万 - 150万
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方案详情:
我们在此演示了使用电化学原子力显微镜在实时监测正在进行的电化学过程中样品的形态变化。基于循环伏安法中获得的CV曲线,施加合适的电压,成功地完成了铜颗粒在金表面上的沉积和溶解。在沉积过程中的数据表明,沉积在表面上的铜的大小在第二沉积试验中极大地增加。另一方面,溶出数据表明,在第三溶解试验中溶解了最多的铜纳米颗粒。总体而言,本研究中所描述的技术将成功地为研究者在监测电化学过程提供重要的纳米级信息。
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利用原子力显微镜对二维异质结构上莫列波纹的研究
在这里,我们将展示Park Systems公司的大样品NX20 原子力显微镜如何在石墨烯/ hBN (六角氮化硼)范德华异质结构上解析从11到15nm具有不同周期的莫列波纹。
材料
2021/05/24
利用导电探针原子力显微镜(CP-AFM)测量碳纳米管薄膜导电性
导电性测量是一种有效的方法, 可用来描述某些特殊应用中材料的特性与行为,从能量存储和能量转换元件,到分子元件电路以及纳米级半导体元件。导电探针原子力显微镜(CP-AFM)是其中一种相当有用的技术,它可以提供精确的纳米级测量和先进材料如CNTs膜的导电性的相对分布图。在过去的十年中,几种检测被引入来研究这些材料,然而,绝大多数只能测量有限的电性范围。在这项研究中,配备CP-AFM的Park NX20被用来研究具有广泛导电性的3种不同的材料。实验所得数据清晰地证明了,这项技术借由整合对数型电流放大器于系统中,可利用来测量不同导电材料的典型表征,以及提供薄膜材料的导电率空间解析图。
半导体
2019/07/04
利用AFM PINPOINT 纳米机械模式定量材料的弹性模量 比力体积谱快两个数量级
自原子力显微镜发明以来,原子力显微镜通过在纳米尺度上提供精确、可靠、无损的成像,在材料科学和元件工程中产生了革命性的影响。原子力显微镜被广泛用于纳米技术应用当中,像生物医学可植入驱动器、电池超薄阴极材料、光电探测器和存储器和逻辑电路开关。随着元件尺寸的不断缩小,材料的局部特性测量方式方法在提供精确的纳米尺度测量方面已经变得更加有效。局部的机械性能如粘附性和弹性模量是决定这些元件的可靠性和所含性能的关键参数。现有的原子力显微镜是基于纳米机械方法被引入测量机械性能,例如包括力体积谱和纳米压痕。 然而,其中一些技术相当耗时间,有些则具有破坏性,不能满足某些特定应用的高产量监测。 图1展示了Park Systems开发的原子力显微镜PinPoint纳米机械模式。Park Systems专利的PINPOINT技术比传统的力体积谱技术至少快两个数量级,这可以使用户在短时间内能够同时获取材料的定量力学特性和高分辨率形貌图。在操作过程中,探针针尖以接近-缩回的方式移动,确保两者间不会形成摩擦,消除了探针和样品间的持续接触所产生的侧向力,保持了针尖和样品间的良好状态,进而理想的测量软性或硬性样品,如硬盘和生物样品。在图像中的每一点获取力-距离曲线,用于计算被测样品的机械特性。在数据收集期间,XY 扫描器停止,并控制接触时间以给扫描器足够时间去获取精确和准确的数据。 在本实验中,成功地定量了具有不同模量范围的4种不同材料。各试验所得结果均接近所测材料的标称值,证明了PinPoint模式在力学特性的定量方面所具备的优越性。此外,它又同时获得了高分辨率图像,显示了样品的表面特征。
其他
2019/07/04
利用原子力显微镜的非接触模式对石墨烯/HBN异质结的莫尔图案进行自动且非破坏性地表征
介绍 石墨烯因其独特的带隙结构可用于高迁移率半导体器件,吸引了研究人员广泛的注意。 然而,由于缺乏合适的衬底,实现这种基于石墨烯的高性能器件一直具有挑战性。最近有研究人员发现可以通过在六方氮化硼(hBN)上外延生长石墨烯的方法来解决这个问题[1,2]。hBN具有和石墨烯高度相似的六方晶格结构,是一种合适的石墨烯衬底。莫尔图案是由于石墨烯与hBN晶格之间存在2%左右的失配而产生的超晶格,其具有周期性,晶格常扫描探针显微镜(SPM)是表征莫尔图案的关键技术。与任何其他显微技术相比,SPM可以提供最高的Z轴分辨率[4]。这是用于验证通过外延生长技术制备的石墨烯/hBN器件成功与否的基本要素。然而,SPM一直面临着如下两个问题的挑战:复杂参数优化让入门的研究者(甚至是专家)都有一个陡峭的学习曲线以及高分辨率成像所使用的专用针尖的高成本。此外,SPM的摩擦模式会导致针尖与样品之间存在机械接触,使得在表征石墨烯/ hBN器件时对样品表面产生破坏。几乎所有关于莫尔图案表征的研究都使用破坏性SPM模式[1,2,3]。 数比这两种材料的晶格常数大两个数量级[3]。 非接触模式原子力显微镜(AFM)是一种自80年代末开始使用的非破坏性的SPM技术[5]。为实现非接触模式成像,针尖与样品之间的距离必须严格精确控制。这是一个挑战,也是这项技术最初的局限性之一。但通过研发,该技术在过去十年已经达到成熟,现在Park 系统公司可以提供标准的AFM成像模式。
材料
2019/07/04