Park NX-TSH
专为大型纳米平板显示器测量而设计的自动化原子力显微镜(AFM)系统
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![park nx-tsh (17) (1).jpg park nx-tsh (17) (1).jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/8982871b-c264-4e77-ba53-867e33fb43b3.jpg)
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随着对大型平板显示器原子力显微镜计量需求的增加,Park NX-TSH 通过利用探针扫描器和龙门式气浮台的结合,克服了针对大型和重型样品进行纳米计量的巨大挑战。
Park NX-TSH能获得高分辨率的表面粗糙度测量,台阶高度测量和关键尺寸测量。为OLED面板行业整片测量,超高尺寸镜片测量,提供全自动的原子力显微镜计量解决方案。 |
Park NX-TSH的全自动特点
可灵活掌握自动,半自动和手动模式 为每个自动化程序提供可编辑测量方法 实时监控测量过程 自动分析获取测量数据
| ![park nx-tsh (5).jpg park nx-tsh (5).jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/9083d76d-732a-4e61-847e-a612904e4eee.jpg)
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高精度,高效率
![Park-NX-TSH_ATX.jpg Park-NX-TSH_ATX.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/e407d5b5-bca7-4586-be9e-1d6adc7dd4ab.jpg)
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自动换针器(ATX) ATX通过模式识别自动定位针尖,并使用一种新的磁性方法来取放新旧探针。 激光光斑通过电动定位技术自动对准。
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![NX-HDM_Ionization-System.jpg NX-HDM_Ionization-System.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/baf737b9-50cb-4d81-8623-53ed1367dec8.jpg)
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| 电离系统可提供更稳定的扫描环境 Park创新的电离系统可快速有效地去除样品环境中的静电荷。 由于该系统始终生成并保持正负离子的理想平衡,因此可以创建一个极其稳定的电荷环境,几乎不污染周围区域,并且将在样品处理过程中产品意外静电的风险降至最低。 |
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专为OLED面板行业整片测量,LCD测量提供的全自动探针扫描器解决方案
专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计 Park原子力显微镜公司已经扩展了原子力显微镜设备的测量尺寸,Park NX-TSH(龙门架设计平板式探针扫描器)可针对第八代及大于第八代的所有大型平板显示器进行测量。专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计,样品尺寸上限可达2200 mm。
| ![Gen_Display.jpg Gen_Display.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/acb0cc28-7d92-4508-bf32-badc407073ff.jpg)
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硅片直径的变化 使用导电原子力显微镜,Park NX-TSH 使用可选探针站测量样品表面,该探针站接触样品表面并向小设备或晶圆片上的设备提供电流。Park NX-TSH用于带有导电原子力显微镜的2D编码器样品,通过集成微探针站进行电气缺陷分析。 | ![wafer_size_trend.jpg wafer_size_trend.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/0a3e4c0b-aae3-489b-bb25-2bc30a6961b7.jpg)
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Park NX-TSH特点
克服了样品大小和重量的限制。
Park原子力显微镜公司新开发的探针扫描器结合了X、Y和Z扫描器,可以直接移动到所需测量的点。Park NX-TSH可以在X, Y和Z方向扫描探针头,X- Y方向可达到100µm X 100 μm和Z方向可达到15 μm ,并有灵活的卡盘,以适应超过300毫米的超大超重样品,用于OLED和LCD大样品分析。 样品固定在样品卡盘上,连接在机架上的探针扫描头移动到样品表面的测量位置。 Park NX-TSH的探针扫描头系统因此克服了样品固定在样品卡盘上时候样品大小和重量的限制。
![nx-tsh_features.jpg nx-tsh_features.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/bf97b902-12ba-4905-a022-32c5e0efc998.jpg)
闭环的100μmx 100μm柔性导向XY扫描器
XY扫描器由对称的二维挠曲和高强度压电叠层组成,它微小化的面外运动能提供高度的正交扫描,用超快的响应来完成纳米尺度上精准的样品扫描。
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具有低噪声位置传感器的15μm高速Z扫描器
NX-TSH利用其超低噪声Z检测器代替了通常使用的非线性Z电压信号,可为用户提供高精度测量。业界引领的低噪声Z检测器取代了所施加的Z电压作为形貌信号。
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专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计,样品尺寸上限可达2200mm
Park NX-TSH 通过利用探针扫描器和龙门式气浮台的结合,克服了针对大型和重型样品进行纳米计量的巨大挑战,可扫描出高分辨率图像。
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自动测量控制,简易操作测量更精准!
![wafer-aotomatic-software.jpg wafer-aotomatic-software.jpg](https://img1.17img.cn/17img/images/202404/uepic/cdbf34db-b68a-4c37-9ee8-60d5bf68d602.jpg) | NX-TSH配备自动化软件,使用测量程序便可获得精准的多点分析,并对悬臂梁调谐、扫描速率、增益和设定点参数进行优化设置。
Park人性化设计的软件可使用户自由访问NX-TSH的全部功能并获得所需的测量值。
创建新的测量程序其实很简单,从开始创建到能够自动化运行只需大约10分钟的时间,而对创建过的程序进行修改的话也只需不到5分钟。 |
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