您好,欢迎访问仪器信息网
注册
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

关注

已关注

金牌11年 金牌

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转3314

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: PHICHINA > 解决方案
解决方案

FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

关键词:聚焦离子束(FIB),TOF-SIMS,快速表征,截面,元素map

1

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF 3+

面议

查看更多配置单>>

浅谈光学带隙和电学带隙差异

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

关键词:光学带隙、电学带隙、UPS 、LEIPS

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

反光电子能谱IPES专辑之原理篇

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态(occupied state)和非占据态(unoccupied state)电子结构的共同影响。在半导体材料中,费米能级两侧的电子结构对杂质掺杂、能带调控以及器件的研发与应用至关重要,尤其是非占据态能级结构,它直接决定了电荷的转移和输运性能。虽然占据态的电子信息可通过光电子能谱,如XPS和UPS来解析,但由于非占据态没有电子填充,传统的光电效应方法无法有效获取其能带信息。

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

AES在钛合金增材制造中的应用

应用领域

材料

检测样品

合金

检测项目

关键词:AES、微区特征、化学组分、表面分析、深度分析

1

PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 710

面议

查看更多配置单>>

薄膜深度分析之角分辨XPS: ARXPS原理

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

角度分辨X射线光电子能谱(Angle resolved XPS,ARXPS)是通过改变光电子起飞角,能量分析器检测到样品表面不同深度区域激发出来的光电子,进而得到样品化学信息的深度分布。ARXPS常用于对具有不同膜层结构的超薄膜样品进行分析,通常测试的膜层厚度要小于7.5 nm。

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

AES在月壤研究中的应用

应用领域

环保

检测样品

土壤

检测项目

关键词:AES、纳米特征、表面分析、元素鉴定、元素map

1

PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 710

面议

查看更多配置单>>

锂离子电池充放电下的原位XPS表征

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

关键词:锂离子电池,充放电,原位XPS,惰性气氛转移装置,四触点样品台

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

AES俄歇电子能谱专辑之原理篇

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

AES主要于分析固体材料表面纳米深度的元素(部分化学态)成分组成,可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。AES既可以分析原材料(粉末颗粒,片材等)均匀表面组成,又可以分析材料或特定产品表面缺陷如污染、腐蚀、掺杂、吸附、杂质偏析等,同时还具备深度剖析功能表征钝化层、掺杂深度、纳米级多层膜层结构等。

1

PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 710

面议

查看更多配置单>>

UPS和LEIPS表征新型D-A型聚合物半导体的分子轨道能级和能隙

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

关键词:聚合物半导体、OTFTs、IPES(LEIPS)、UPS、HOMO/LUMO

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

PHI TOF-SIMS助力锂电的绿色可持续发展战略

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

/
随着国内新能源汽车销量高速增长,动力电池装机量也随之迅速攀升。鉴于新能源汽车动力电池的平均使用寿命约为6~8年,动力电池在未来2-3年内将迎来大规模退役潮,因此动力电池的回收已成为全国甚至全球相关产业可持续发展的关键。锂的回收需要考虑诸多问题,如回收效率、回收成本、环境污染以及方法的可行性等。传统的废锂回收方法主要有火法冶金、湿法冶金、生物冶金和电化学萃取等。然而,根据联合国环境规划署(United Nations Environment Programme)的报告,欧盟的废LIB回收率不5%,这意味着废锂的回收仍然面临着极大的挑战。

1

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF 3+

面议

查看更多配置单>>

多层结构器件界面的无损深度分析案例

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

XPS的探测深度在10nm以内,然而对于实际的器件,研究对象往往会超过10 nm的信息深度,特别是在一些电气设备中,有源层总是被掩埋在较厚的电极之下。因此,利用XPS分析此类样品,需要结合离子刻蚀技术。显然,离子刻蚀存在择优溅射效应,特别是对于金属氧化物,会破坏样品原始的化学态,导致仅凭常规XPS无法直接对埋层区域进行无损深度分析。

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

原位冷冻TOF-SIMS对斑马鱼RPE组织的生物成像

应用领域

生物产业

检测样品

其他

检测项目

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。因其免标记、高灵敏、多组分检测和高空间分辨成像等优势,为诸多生命科学问题的研究提供了重要的技术支持。近年来,TOF-SIMS在基础细胞生物学、组织生理病理学、生物医药与临床医学等领域的研究中被广泛应用。

1

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF 3+

面议

查看更多配置单>>

合作成果 | 锂金属兼容的镧系金属卤化物基(LaCl3)超离子导体

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

安全性和能量密度问题
全固态锂金属电池(ASSLMBs)在解决传统锂离子电池的安全性和能量密度问题发挥着重要的作用。作为ASSLMBs重要组成部分,固态电解质(SEs)直接影响着电池性能。金属卤化物固态电解质(LixMCl6, M为金属元素)因其宽电化学窗口、良好的室温电导率和不错的可变形性,展现出比氧化物/硫化物固态电解质更好的高电压氧化物正极适配性。2018年以来,基于Li3YCl6、Li3InCl6和Li3ScCl6等金属卤化物固态电解质的全固态锂电池实现了搭载钴酸锂、镍钴锰等4 V级正极的长循环,引起了广泛关注。然而,目前报道的大多数LixMCl6金属卤化物固态电解质采用易被还原的金属元素构建传导框架,导致对锂金属不稳定,只能采用高电位的锂铟合金,限制了高能量密度全固态锂金属电池的开发。同时,传统的LixMCl6晶格中氯离子是六方或立方紧密堆积,其空间体积较小,对锂离子的传导有一定限制,使其电导率大多在1 mS/cm。因此,开发对锂金属负极稳定的新型快离子导体框架结构是发展高比能全固态锂金属电池面临的关键挑战。

2

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

PHI XPS对科学研究的重要作用

应用领域

材料

检测样品

半导体材料

检测项目

材料/器件
回顾2022年,ULVAC-PHI各个系列的XPS仪器——VersaProbe、Quantera和Quantes对科研发展和技术进步做出了重要贡献。据不完全统计,借助PHI XPS设备,2022年已发表超过4400篇的学术出版物,包括期刊文章和书籍等。其中,有99项工作发表在《Nature》和《Science》等高影响力期刊上。

2

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

钙钛矿太阳能电池中的能级调控和改性

应用领域

能源/新能源

检测样品

太阳能电池

检测项目

钙钛矿太阳能电池
钙钛矿材料因具备较长的电子-空穴扩散长度、较大的光学吸收系数、较强的激子跃迁及可低温制备等诸多优点, 成为了光伏太阳能领域的研究热点。以钙钛矿材料作为光活性层的太阳能电池器件, 由于其简单的加工工艺和出色的能量转换效率,更是引起了广泛的研究兴趣。自2009年首次报道以来,有机无机杂化钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cells,PSCs)的效率已超过25 %,成为极具潜力的光伏器件之一。然而, PSCs 在多种环境条件下服役的稳定性仍未达到商业化使用标准,PSCs性能的提升及其应用推广仍然面临极大的挑战。

2

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

GaN MOS-HEMT器件异质结界面的无损深度分析

应用领域

材料

检测样品

半导体材料

检测项目

半导体器件
GaN因其宽禁带(3.4~6.2 eV)、高电子迁移率(2.8×107 cm/s)、高临界击穿场强(≥5 MV/CM)和高热导率(1.3 W/(cm∙K))等物理特性而在微波射频、高功率电子器件等领域应用广泛,其中GaN 基HEMT器件更是成为了半导体器件领域的研究热点。

2

PHI 硬X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 900

面议

查看更多配置单>>

TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之四

应用领域

能源/新能源

检测样品

太阳能电池

检测项目

钙钛矿太阳能电池
宽带隙钙钛矿(1.68 eV)是两端钙钛矿/硅叠层太阳电池的重要前电池吸光材料。然而,这类宽带隙钙钛矿太阳电池中存在大量缺陷诱导的非辐射电荷复合,导致器件开路电压(VOC)远低于理论值,严重限制了器件效率的进一步提升。深能级受体缺陷是影响VOC的主要因素,缺陷钝化是提供器件效率的有效策略。

1

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF 3+

面议

查看更多配置单>>

合作成果I资源所发现新矿物“白鸽矿”

应用领域

地矿

检测样品

金属矿产

检测项目

矿产
新矿物研究,是地球科学领域重要的基础性研究工作。新矿物的发现不仅可以增加自然界的矿物种类,同时也可以为人类认识和利用自然界矿物提供新的参考。截至2022年3月,全球已累计发现新矿物5794种。新矿物的发现数量、研究深度及分析技术水平展现了一个国家基础科技的软实力与硬实力,是国家综合实力的体现。近年来,我国加大了对新矿物研究的支持力度,我国新矿物事业迎来了难得的发展契机。中国地质调查局矿产资源研究所李以科研究团队长期致力于战略性关键矿产成矿作用与资源评价研究工作。

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之三

应用领域

能源/新能源

检测样品

储能电池

检测项目

钙钛矿太阳能电池、薄膜
光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来,基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展,目前报道的最高光电转化效率已接近26%。卤化物钙钛矿材料具有无限的组分调整空间,因此表现出优异的可调控的光电性质。然而,由于多组分的引入,钙钛矿材料生长过程中会出现多相竞争问题,导致薄膜初始组分分布不均一,这严重降低了器件效率和寿命。

1

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI nanoTOF 3+

面议

查看更多配置单>>

合作成果I高速固态锂传输策略和机制研究

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

电化学性能
新能源,锂电池

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

微区 XPS 在摩擦学研究与抗磨材料开发中的应用

应用领域

材料

检测样品

聚合物基复合材料

检测项目

有机-MoS2
摩擦学、有机-MoS2、XPS、SXI 导航、微区分析

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

钙钛矿太阳能电池中的能级调控和改性

应用领域

能源/新能源

检测样品

太阳能电池

检测项目

钙钛矿
钙钛矿、XPS、UPS、LEIPS、带隙、改性

1

PHI X射线光电子能谱仪

PHI GENESIS 500

面议

查看更多配置单>>

光电子能谱仪为基础的多用途分析仪器的解决方案

应用领域

检测样品

检测项目

在这一期的电子报中,希望继续就以X射线光电子能谱仪仪器作为基础,在同一仪器上再外加不一样的分析源的可能性,并最后对整个仪器做出总结。

暂无关联产品

环境磁场问题对分析仪器的影响与解决方案

应用领域

检测样品

检测项目

很多贵重仪器,对环境都会有一些特定的要求,像是温度、湿度或是震动与环境磁场等,环境磁场往往对各种仪器的分析结果造成一些似是而非的现象。这一期电子报,我们将会介绍环境磁场是什么、如何产生、对仪器的影响及如何达到有效的解决方案。

暂无关联产品

简单高效的XPS分析-从大面积到微区分析的自动队列功能演示

应用领域

石油/化工

检测样品

其他

检测项目

高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中,充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计,有效行使从大面积分析到微区分析功能,并演示了如何利用仪器的自动化设计,完成自动队列分析。可实现大量样品高效并且高质量的完成XPS分析。

暂无关联产品

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

公司地址: 江苏省南京市江宁区殷富街402号临港同策同心园1-108 联系人: 张伟 邮编: 211100 联系电话: 400-860-5168转3314

仪器信息网APP

展位手机站