您好，欢迎访问仪器信息网

搜全站

搜展位

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

关注

已关注

金牌11年

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转3314

仪器信息网认证电话，请放心拨打

全部分类

首页

简单高效的XPS分析-从大面积到微区分析的自动队列功能演示

2014/06/24 17:54

阅读：566

应用领域：

石油/化工

发布时间：

2014/06/24

检测样品：

其他

检测项目：

浏览次数：

566次

下载次数：

27次

免费下载

参考标准：

smartsoft操作手册

方案摘要：

高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中，充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计，有效行使从大面积分析到微区分析功能，并演示了如何利用仪器的自动化设计，完成自动队列分析。可实现大量样品高效并且高质量的完成XPS分析。

下载本篇解决方案：

资料文件名：

资料大小

下载

ebinar1ueueunctionmallareaanalysis.pdf

595KB

免费下载

FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析

钙钛矿太阳能电池中的能级调控和改性

相关方案

FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析

关键词：聚焦离子束（FIB），TOF-SIMS，快速表征，截面，元素map

半导体

2024/05/29

浅谈光学带隙和电学带隙差异

关键词：光学带隙、电学带隙、UPS 、LEIPS

半导体

2024/04/07

反光电子能谱IPES专辑之原理篇

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态（occupied state）和非占据态（unoccupied state）电子结构的共同影响。在半导体材料中，费米能级两侧的电子结构对杂质掺杂、能带调控以及器件的研发与应用至关重要，尤其是非占据态能级结构，它直接决定了电荷的转移和输运性能。虽然占据态的电子信息可通过光电子能谱，如XPS和UPS来解析，但由于非占据态没有电子填充，传统的光电效应方法无法有效获取其能带信息。

半导体

2024/04/07

AES在钛合金增材制造中的应用

关键词：AES、微区特征、化学组分、表面分析、深度分析

材料

2024/02/27

推荐产品

供应产品

PHI X射线光电子能谱仪

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 硬X射线光电子能谱仪