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爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
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400-860-5168转3314
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解决方案
共1台
PHI XPS对科学研究的重要作用
应用领域
材料检测样品
半导体材料检测项目
材料/器件回顾2022年，ULVAC-PHI各个系列的XPS仪器——VersaProbe、Quantera和Quantes对科研发展和技术进步做出了重要贡献。据不完全统计，借助PHI XPS设备，2022年已发表超过4400篇的学术出版物，包括期刊文章和书籍等。其中，有99项工作发表在《Nature》和《Science》等高影响力期刊上。
共2台
GaN MOS-HEMT器件异质结界面的无损深度分析
应用领域
材料检测样品
半导体材料检测项目
半导体器件GaN因其宽禁带（3.4~6.2 eV）、高电子迁移率(2.8×107 cm/s)、高临界击穿场强(≥5 MV/CM)和高热导率（1.3 W/(cm∙K)）等物理特性而在微波射频、高功率电子器件等领域应用广泛，其中GaN 基HEMT器件更是成为了半导体器件领域的研究热点。
共2台
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联系方式：
公司名称： 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
公司地址： 江苏省南京市江宁区殷富街402号临港同策同心园1-108 联系人： 张伟 邮编： 211100 联系电话： 400-860-5168转3314
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