您好，欢迎访问仪器信息网

搜全站

搜展位

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

关注

已关注

金牌11年

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转3314

仪器信息网认证电话，请放心拨打

全部分类

首页

光电子能谱仪为基础的多用途分析仪器的解决方案

2014/06/20 17:27

阅读：116

应用领域：

发布时间：

2014/06/20

检测样品：

检测项目：

浏览次数：

116次

下载次数：

12次

免费下载

参考标准：

方案摘要：

在这一期的电子报中，希望继续就以X射线光电子能谱仪仪器作为基础，在同一仪器上再外加不一样的分析源的可能性，并最后对整个仪器做出总结。

下载本篇解决方案：

资料文件名：

资料大小

下载

ol3光电子能谱仪为基础的多用途分析仪器的解决方案.pdf

649KB

免费下载

FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析

环境磁场问题对分析仪器的影响与解决方案

相关方案

FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析

关键词：聚焦离子束（FIB），TOF-SIMS，快速表征，截面，元素map

半导体

2024/05/29

浅谈光学带隙和电学带隙差异

关键词：光学带隙、电学带隙、UPS 、LEIPS

半导体

2024/04/07

反光电子能谱IPES专辑之原理篇

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态（occupied state）和非占据态（unoccupied state）电子结构的共同影响。在半导体材料中，费米能级两侧的电子结构对杂质掺杂、能带调控以及器件的研发与应用至关重要，尤其是非占据态能级结构，它直接决定了电荷的转移和输运性能。虽然占据态的电子信息可通过光电子能谱，如XPS和UPS来解析，但由于非占据态没有电子填充，传统的光电效应方法无法有效获取其能带信息。

半导体

2024/04/07

AES在钛合金增材制造中的应用

关键词：AES、微区特征、化学组分、表面分析、深度分析

材料

2024/02/27

推荐产品

供应产品

PHI X射线光电子能谱仪

飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS

PHI 710俄歇电子能谱仪

PHI 硬X射线光电子能谱仪