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复纳科学仪器（上海）有限公司
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解决方案
扫描电镜下的陶瓷材料
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
化学性质陶瓷材料通常以无机非金属粉末为原料进行制备，粉体的化学成分、物相组成决定了制得陶瓷材料的基本性能，而粉体粒度级配、显微形貌则决定了其加工性能的好坏。粒径和比表面积是生产过程中描述粉体性能的重要表征指标，但粉体粒径跟比表面积之间的对应关系比较复杂，受其形状因子和粒径分布的影响较大。借助扫描电子显微镜（SEM），可以方便地对粉体原料的微观形貌进行分析，以描述其粒径和比表面积之间的关系，并且，利用飞纳电镜颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）还可以直接对粉体一次粒径进行统计，得到更真实的粒径分布。除此之外，配有能谱仪（EDS）的扫描电镜（SEM）还可以对粉体的成分进行分析，得到其化学组分信息。
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扫描电镜在多层陶瓷电容（MLCC）中的应用
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
失效分析MLCC 外部或内部如果存在开裂、孔洞、分层等微观缺陷，会直接影响到 MLCC 产品的电性能、可靠性，给产品质量带来严重的隐患。在失效分析的过程中，微观层面的分析必不可少。值得一提的是，飞纳电镜优异的低真空技术非常适合陶瓷材料，可以实现不喷金直接观察。与此同时，我们的 Technoorg Linda 离子研磨仪可以进行不同角度的剖面切削以及表面的抛光和清洁处理，能够得到真实的样品形貌，是 MLCC 失效分析的有力设备。
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飞纳电镜和离子研磨仪在元器件封装失效分析的案例分享
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
其它器件焊线连接芯片和引脚，连接芯片一端，一般为第一焊点（DB 代称），另一端连接金属框架引脚（WB 代称），这两处的焊接性能是封装失效分析重点关注的部分，下面就以此案例，分享一些器件封装失效分析的小知识，小编抛砖引玉，大家相互交流学习。
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粉末保形包覆 —— PALD 技术的基本实现方法
应用领域
电子/电气检测样品
其他检测项目
特性与传统的表面改性不同，PALD 是真正可以实现原子级/分子层级控制精度的粉末涂层技术，并保持良好的共形性。原子层沉积技术是一种基于自限制性的化学半反应将被沉积物质以单原子膜的形式一层一层的镀在物体表面的薄膜技术。与常规的化学气相沉积不同，原子层沉积将完整的化学反应分解成多个半反应，从而实现单原子层级别的薄膜控制精度。由于基底表面存在类似羟基这样的活性位点，因此前驱体可以形成单层的饱和化学吸附，从而实现自限制性反应。而在经过单个周期反应后，新的位点暴露出来，可以进行下一个周期的反应。
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普罗米修斯助力 Air Liquid 开发新型 ALD 前驱体
应用领域
电子/电气检测样品
其他检测项目
物理性质ALD 反应依赖于多种前驱体化学物质得到最终产物的一种气相沉积技术。由于 ALD 反应的自限制特性，前驱体通常是过量的，从而保证表面的饱和化学吸附，实现均匀包覆。在半导体工艺中，ALD 技术已经得到广泛应用。
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扫描电镜下的多层压电陶瓷材料分析
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
缺陷多层压电陶瓷器件品质要求较高，其内部多层结构需要使用扫描电镜（SEM）观察，例如每一层陶瓷是否有缺陷，多层陶瓷的厚度是否均匀，作为电极的银层是否覆盖均匀，这些结构影响着器件的使用寿命。
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哪一种扫描电镜截面制样技术既高效又经济?
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
截面制样因为截面SEM研究对于很多行业都太重要了，例如电子材料、光伏材料、锂离子电池、陶瓷、金属材料、高分子材料、半导体、生物材料等；当你需要对材料内部结构进行表征，又不想因为传统制样手段破坏结晶构造的层积形状、结晶状态、断面异物形状的时候，怎么办！
飞纳电镜特别联手匈牙利 Technoorg Linda 公司为大家带来目前性价比最高的离子研磨设备，并且为了符合飞纳电镜多、快、好、省的特性，让截面 SEM 样品不再成为困扰！
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飞纳电镜助力浙江大学宋吉舟教授团队探索新型转印技术
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
转印技术转印技术可以分为接触式转印和非接触式转印两类，其中接触式转印技术由于需要印章与受主基体相接触，受主基体的性质和几何形状会限制接触式转印技术的适用范围；而现有的非接触式转印技术的实现通常需要较高的温度（约 300℃），这可能会对印章和电子器件造成损坏。
为解决上述问题，浙江大学的宋吉舟教授团队提出了一种新型激光驱动的转印技术，他们通过巧妙的力学设计，获得了一种具有微结构的薄膜的弹性印章，印章对环境温度产生响应进而调节界面黏附，其强弱黏附比最高可达 1000 倍。同时，印章制备过程通过采用商用砂纸作为模具，避开了繁琐复杂的光刻、刻蚀等工艺，使得印章的成本大大降低。
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熟悉电子在电镜中的的运动，轻松理解扫描电镜的工作原理
应用领域
电子/电气检测样品
照明产品检测项目
电子Phenom 飞纳采用逸出功更低的单晶 CeB6 灯丝，可以在低温下使电子逸出，有效地降低色差，提升灯丝亮度，延长灯丝使用寿命，并通过电场以及磁场的控制实现电子的加速以及偏转，提供优质的 BSD 和 SED 图像。
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扫描电镜热电子发射源的稳定性：CeB6、LaB6和钨灯丝
应用领域
电子/电气检测样品
照明产品检测项目
灯丝的区别通常，台式扫描电镜（SEM）利用热电子源，在加热扫描电镜灯丝时发射电子。虽然工作原理是相同的，但不同的热电子源会表现出不同的性能。由于CeB6灯丝具有较高的亮度和较长的使用寿命，所以飞纳台式扫描电镜选择CeB6灯丝作为电子源。起到关键作用的参数之一是发射电流的稳定性。CeB6灯丝在稳定性方面的表现如何？如何使飞纳台式扫描电镜最大限度地发挥CeB6灯丝的潜力？这篇博客会帮助了解这些疑问。
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深入了解扫描电镜：扫描电镜（SEM）电子透镜的介绍
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
电子束扫描电镜（SEM）利用电子束对样品进行纳米级分辨率的图像分析。灯丝释放出电子，形成平行的电子束。然后，电子束通过透镜聚焦于样品表面。电子透镜是如何工作的？存在哪几种电子透镜？电子透镜是如何聚焦电子的？在这个博客中，我们将回答这些问题，并对电子透镜的工作原理给出一个大致的解释。
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飞纳台式扫描电镜是PCB行业失效分析的利器失效分析的利器
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
表面形貌在电子元器件的研制阶段、失效分析可纠正设计和研发过程中的错误，缩短研发周期；在电子元器件的生产、测试和使用阶段，失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起失效的责任方。扫描电镜作为电子元器件失效分析的一种工具有其独特的特性，扫描电镜除了能够有效地观察试样的形貌之外，还具有能提供电压衬度像、电子束感生电流像、背散射电子像和吸收电子像等光学显微镜所达不到的功能。
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利用飞纳台式扫描电镜促进材料行业发展
应用领域
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其他检测项目
表面形貌石墨烯加工服务及创新责任公司（GMSI）为半导体和 LED 工业提供产品和支持，在公司内部，Peter Guercio 和同事都不是显微镜专家，但在日常的先进材料研究和研发中，他们能够熟练使用飞纳 Pro X 扫描电镜（SEM）。配置有能谱的飞纳电镜 Pro X 对工艺和产品的质量控制十分有益，与以前相比，实时获取结合元素分析能力使数据的采集速度提高 8 倍，在近期产品提升方面发挥了重要的作用。
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浅谈飞纳台式扫描电镜在PCB制造工厂中的常规应用
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
表面污染、孔洞、裂纹现在各种各样的电子产品，尤其手机、平板电脑等智能产品的普及，以及更新迭代的加速，也带动了PCB行业的产能，作为电子元器件的载体，PCB精度、密度也随着电子产品的发展越来越高，其制造难度也大大增加，这使得PCB制造过程中产生的问题也越来越多，要想在竞争激烈的PCB行业保持有利的地位，就需要借助一些先进的仪器来进行快速、准确、有效的分析，然后做相应的改善，其中扫描电镜在PCB工厂中越来越受欢迎。
本文简要谈一下飞纳台式扫描电镜在PCB制造工厂的常规应用：
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飞纳台式扫描电镜在 PCB 行业的应用
应用领域
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电子元器件产品检测项目
镀层表面分析印刷电路板（Printed Circuit Board，简称PCB），是电子元件的母体，将各种元件等予以导通，组合形成系统成品。PCB 工艺已经发展数十年，但近年来，随着终端产品日趋轻薄短小， PCB 层数越来越多，特别是近年来随着环保的要求，对 PCB 提出了无铅工艺，使得 PCB 组装时需要的温度更高，PCB失效的情况更为常见。因此 PCB的可靠性研究与缺陷分析越来越受到高度重视。
下面以几种常见分析为例，讲解飞纳台式扫描电镜在 PCB 行业的应用。
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飞纳台式扫描电镜在液晶显示器杂质检测方面的应用
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
杂质在液晶显示器的制造领域，由于对显示器的检验标准越来越严苛，需要的手段越来越多。传统的光学显微镜未必能够满足所有的杂质检测，例如对可见光反射强烈的一类污染物在光学显微镜下的图像都是白点，根本无法区分具体的污染物类型，更别提推断其来源了。
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飞纳台式扫描电镜的拓展功能
应用领域
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电子元器件产品检测项目
扫描电镜传统意义上来说扫描电镜即是新型的电子光学仪器。它具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。数十年来，扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中。随着各个学科的深入交叉，不同的需求越来越多，扫描电镜的附加功能也越来越多，例如，在扫描电镜上增加阴极荧光（CL）、冷热台、EBSD、电极插件等等，这些一般都是应用于科研工作中，而除此之外的针对不同样品的特殊要求的拓展却并不多。
在台式扫描电镜中却有专门针对客户不同需求所设计的不同专业的软件，对于不同类型样品和要求的客户来说，大大提高了扫描电镜的拓展功能和使用效率，可以解决许多实际问题，因此在各行各业中应用越来越广泛。
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飞纳台式扫描电镜为光子晶体光纤发展开辟新路
应用领域
电子/电气检测样品
其他检测项目
飞纳台式扫描电镜光子晶体光纤的生产中对光纤小孔的尺寸控制尤其重要，其严重影响着该光纤的性能。利用飞纳台式扫描电镜和其孔径统计分析测量系统可在生产流程中快速识别光纤中的孔洞，在低倍和高倍下孔洞边缘均可以识别准确清晰，并直接给出孔洞的面积，长轴，短轴，长宽比，平均直径等参数，为得到高质量的光子晶体光纤提供有力保障。
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公司地址： 上海市闵行区虹桥镇申滨路 88 号上海虹桥丽宝广场 T5，705 室 联系人： 樊丽丽 邮编： 201106 联系电话： 400-812-0959
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