地矿解决方案-复纳科学仪器（上海）有限公司

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复纳科学仪器（上海）有限公司

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飞纳电镜在石油化工中的应用

应用领域

地矿

检测样品

非金属矿产

检测项目

表征

随着石油资源的消耗，油气开采重点转移到了页岩油方向，高质量的压裂支撑剂可以提供更好的油气渗透率，实现油气增产。绿色低碳的发展理念也促使相关企业展开高效环保的石化催化剂、高附加值、高性能石化产品的研制。在石化产品的开采、炼制、生成过程中，扫描电子显微镜能够同时对样品进行微区形貌和成分分析，为生成工艺的改进和产品研发提供参考。

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飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G2

Phenom XL G2

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在葡萄牙无人岛，飞纳电镜悄悄参加了一个大项目｜或关火星！

应用领域

地矿

检测样品

其他

检测项目

微观形貌表征

扫描电镜的用途到底有多广？当“Microceno 项目”的科学家们把 Phenom XL G2 运送到北大西洋群岛之一的塞尔瓦任斯群岛，他们找到了答案。

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飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G2

Phenom XL G2

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最近很火的人工培育钻石是真钻石吗？值不值得买？【培育钻石篇】

应用领域

地矿

检测样品

珠宝/玉石

检测项目

痕量元素

经过上次【天然钻石篇】的揭秘，我们都知道，天然钻石的形成是碳元素在地心下，经过高温高压以后，形成一种特别的结晶，然后被火山喷发撞击带到地球表面，形成椎体的原石被挖掘出来。那么，如果模仿这种高温高压的生长环境呢？是不是就可以“种”钻石啦？

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飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2

Phenom Pharos G2

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扫描电镜带您揭秘：钻石真的坚不可摧吗？【天然钻石篇】

应用领域

地矿

检测样品

珠宝/玉石

检测项目

痕量元素

钻石恒久远，一颗永流传。不过，这些看着闪耀无比的钻石，在扫描电镜下是什么样呢？碎钻和大钻石到底有何不同呢？

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飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2

Phenom Pharos G2

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【硬核干货】为什么选择飞纳电镜全景拼图功能？

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地矿

检测样品

非金属矿产

检测项目

表征

全景拼图高清成像技术是将这个过程通过自动化来实现，允许扫描电镜在以前技术下无法使用的时间段（例如晚上和周末）以一系列分辨率对整个载玻片进行全样品自动化扫描成像，获得全样品超高分辨率照片（可达数亿像素）。由于过程是全自动的，节约了人力，并且可以在晚上、周末进行连续采集，进一步提升了设备的利用效率。

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飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G2

Phenom XL G2

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利用扫描电镜观察氢氧化钾蚀刻制备的硅微观结构

应用领域

地矿

检测样品

非金属矿产

检测项目

微观结构

氢氧化钾蚀刻（KOH）是制造微型器件的一个重要工艺，用于从硅片上去除材料。选择性地蚀刻硅片的某些部分，用一层二氧化硅或掩膜来保护剩下的部分。然而，残留物的存在成为这种技术的一个缺点，因为它会对器件的制造过程产生负面影响。在这篇博客中，我们提出了一种利用蚀刻残留物的方法，将其作为后续蚀刻的掩膜，以制造两层微结构。我们还提供了如何有效地利用扫描电镜SEM对这些微结构进行成像的例子。

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BSE 来自于样品的较深层区域，而 SE 则产生于样品的表面区域。因此，BSE 和 SE 代表不同的信息。BSE 图像对原子序数差异非常敏感：材料的原子序数越大，对应在图像中就越亮。SE 图像可以提供更丰富的表面信息——如图3 所示。在许多显微镜中，X 射线检测也被广泛用于进行样品的元素分析，这种射线产生于电子与样品的相互作用。每种元素产生的 X 射线都有特定的能量，X 射线就相当于元素的指纹。因此，通过检测未知组分的某样品出射的 X 射线的能量，就可以确定该样品所包含的各种不同元素。

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飞纳桌面型扫描电镜 Phenom XL 在金属行业（领域）的应用

应用领域

地矿

检测样品

稀土/稀有金属

检测项目

表面形态

飞纳桌面型扫描电镜 Phenom XL 为 Phenom-World 于 2015 年 6 月发布的产品。XL 样品仓尺寸与可视范围均为 100*100*60mm*，预留 36 个钉式样品台插口。可以选配二次电子探头与能谱探头。各项性能优异，自推出以来迅速得到市场认可。桌面型扫描电镜又称台式扫描电镜，是一款可以放在桌面上的扫描电镜，外形类似台式电脑。

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飞纳台式扫描电镜

Phenom ProX

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Phenom飞纳台式扫描电镜-金相学应用案例-金相样品

应用领域

地矿

检测样品

金属矿产

检测项目

METALLURGICAL INSPECTION USING THE PHENOM The properties of many engineering materials are mostly governed by a combination of metal composition and the morphology and distribution of key microstructural features. These features can be observed with conventional optical microscopy. However, when higher magnification and 3-D detail is required, a scanning electron microscope (SEM) is best suited.

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飞纳台式扫描电镜

Phenom ProX

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