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扫描电镜在半导体失效分析中的应用案例分享

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失效分析
失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义,飞纳电镜可以提供简单、高效、精确的电子半导体材料检测方案,对于失效模式的确定有极大的帮助。

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飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2

Phenom Pharos G2

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科技进步超越你的想象 | 飞纳台式场发射扫描电镜体积有多小

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光刻胶
如果放大芯片,我们就可以发现,这是一个高度复杂的纳米级城市,随着科技越来越发达,芯片可以做得越来越小,这就使得在这小小的“土地”上,可以集成更多芯片的功能,进一步提高了整体的处理能力。芯片的一小步,改变了我们生活的一大步。

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浅谈飞纳电镜能谱一体机在EMS工厂失效分析中应用

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表面缺陷
飞纳台式扫描电镜能谱一体机在 EMS工厂中失效分析的主要应用为: 放大观察样品表面缺陷、对缺陷部位进行点、线、区域、面扫等的元素定性半定量分析等。同时飞纳台式扫描电镜能谱一体机对工作环境无特殊要求,使用简便和六硼化铈灯丝的稳定性,也满足了工厂高效率的要求。

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