关注
已关注
已认证
粉丝量 0
400-812-0959
仪器信息网认证电话，请放心拨打
飞纳台式扫描电镜是PCB行业失效分析的利器失效分析的利器
2017/03/30 10:54
阅读：161
分享：
方案摘要：
方案详情：
在电子元器件的研制阶段、失效分析可纠正设计和研发过程中的错误，缩短研发周期；在电子元器件的生产、测试和使用阶段，失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起失效的责任方。扫描电镜作为电子元器件失效分析的一种工具有其独特的特性，扫描电镜除了能够有效地观察试样的形貌之外，还具有能提供电压衬度像、电子束感生电流像、背散射电子像和吸收电子像等光学显微镜所达不到的功能。
根据失效分析结果，元器件生产厂家可改进元器件的设计和生产工艺，元器件使用方改进电路板设计，改进元器件或整机的测试、试验条件及程序甚至以此为根据更换不合格的元器件供货商。因此电子元器件失效分析对加快电子元器件的研制速度，提高元器件和整机的成品率和可靠性有重要意义。
利用飞纳台式扫描电镜可快速进行电子元器件失效分析，飞纳台式扫描电镜具有所有扫描电镜厂家中独有的大视野光学导航窗口和低倍电子导航窗口结合自动马达样品台可快速移动和分析样品。如图1所示，可以快速找到电子元器件的焊点位置，从而进行结合部位的失效观察。
图1 利用导航窗口快速识别焊点位置
由于背散射电子产额随原子序数增大而明显增加，即样品平均原子序数大的部位产生较强的背散射电子信号，在荧光屏上形成较亮的区域；而平均原子序数较低的部位则产生较少的背散射电子，在荧光屏上形成较暗的区域，这样就形成原子序数衬度（成分衬度）。在电子元器件失效分析中，背散射电子像（成分衬度像）具有独特的优势，可以直观地看到电子器件的各层金属层，如图2,3所示 ，可清楚地见到电子器件上的金属镀层及镀层与基底结合情况。
图2 金属镀层与基底结合紧密 图3 金属镀层与连接线之间有空隙
飞纳台式扫描电镜得益于其高亮度的六硼化铈灯丝以及高灵敏度的背散射探头，可以获取出色的背散射电子像，结合其快速高效的导航功能非常适合用来进行电子元器件的失效分析，成为电子元器件失效分析中名副其实的利器。
下载本篇解决方案：
更多
汽车零部件清洁度检测——Particle X 颗粒全自动分析解决方案
在 3D 打印行业中，对原始金属粉料的检测和筛选工作对于最终成品的质量控制至关重要。 使用飞纳 Particle X，扫描电镜就可以自动识别每一颗颗粒，并在这些颗粒上做能谱分析。
汽车及零部件
2024/02/26
显微 CT 技术在复合材料领域的应用分享
显微 CT 技术是一种非侵入性的三维成像技术，用于对微小物体的内部结构进行高分辨率的立体成像，其主要优点包括高分辨率、非破坏性、三维成像以及能够获得样本内部的详细信息。显微 CT 技术在复合材料领域具有广泛的应用，主要用于研究和分析复合材料的内部结构、质量控制、性能评估以及缺陷检测。本文主要分享 NEOSCAN 显微 CT 技术在复合材料领域的应用案例。
材料
2023/11/24
利用火花烧蚀气溶胶技术制备核壳 Cu@Ag 颗粒及生长模型研究
核壳纳米粒子由内核材料和覆盖有不同材料的外壳组成，大量的研究工作致力于核壳纳米粒子的生产。对核壳纳米粒子的关注源于它们可以表现出优异的物理或化学性质。基于火花烧蚀的连续气相工艺能够产生均匀结构的核壳双金属纳米颗粒，其尺寸和成分能够精确控制。它的设计非常简单，利用两个电极之间的高压火花放电作为合成纳米颗粒的材料源。该方法已被用于制造各种类型的材料，如半导体纳米颗粒和复合金属纳米颗粒。
材料
2023/10/27
大气压流动气氛过程中实现尺寸可控的纳米粒子合成
大气压条件下的火花烧蚀（spark ablation）技术，可实现纳米粒子的连续气相合成。通过控制粒子生长区的温度以保证碰撞原子或颗粒的完全聚结，原则上可以调节单线态颗粒的尺寸——从单个原子的尺度到任何期望的值。结合火花烧蚀的放大和无限混合能力,可以实现在工业规模上低成本生产先进材料纳米制造的关键模块构筑。
材料
2023/10/27
公司名称： 复纳科学仪器（上海）有限公司
公司地址： 上海市闵行区虹桥镇申滨路 88 号上海虹桥丽宝广场 T5，705 室 联系人： 樊丽丽 邮编： 201106 联系电话： 400-812-0959
仪器信息网APP
展位手机站