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安捷伦科技(中国)有限公司
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解决方案
使用 Agilent 7800 ICP-MS 分析 10 nm 金纳米颗粒
应用领域
材料检测样品
纳米材料检测项目
10 nm 金纳米颗粒高灵敏度和低背景噪音对 ICP-MS 法检测小纳米颗粒至关重要。纳米颗粒电离生 成的信号随粒径的立方而减小。这就要求检测极小颗粒（如 10 nm Au 颗粒 (NIST 8011)）时，ICP-MS 仪器的灵敏度远高于检测一般 NIST 参比物质（如 NIST 8012 (30 nm) 和 8013 (60 nm)）时的要求。 本研究证明了 Agilent 7800 ICP-MS 能够轻松达到测定 10 nm Au 纳米颗粒所需的信噪比，无需复杂的反应池气体或定制调谐条件即可实现。所采用的标准操作条件可 轻松应用于含有其他元素（例如 Ag）的纳米颗粒。
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使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下对 SiO2 纳米颗粒进行高灵敏度分析
应用领域
材料检测样品
纳米材料检测项目
SiO2 纳米颗粒纳米材料正越来越多地用于工业过程、制成品、药品以及化妆品、防晒霜和食品等消费品领域。由于纳米颗粒 (NP) 的环境行为以及被人体吸收后可能产生的毒性作用尚不明确，因此对 NP 的测量是人们关注的重点。 ICP-MS 是一种测量材料元素含量的成熟技术；近期发展起来的单颗粒采集模式 (spICP-MS) 目前可提供一种表征样品中 NP 含量的强大方法。采用 spICP-MS 记录所分析溶液中单个 NP 产生的目标元素信号，从而对所含颗粒的数量、浓度和粒径，以及溶解元素浓度实现同步测量。多位研究人员已对这种方法进行了开发，如今现代 ICP-MS 仪器也能够提供支持 NP 表征的自动采集与校准方 法。当前 ICP-MS 系统具有较短的驻留时间，分析单一同位素时测量间无需稳定时间即可连续采集数据。在驻留期间总背景计数成比例下降时，来自颗粒羽流的信号并不会降低，因此这一系统可检测更小的颗粒。然而，如果驻留时间比羽流持续时间（通常在 0.5 ms 左右）短，分析物的信号也会随驻留时间的缩短而降低。这就增加了计数统计的误差。使用最高灵敏度（信噪比）和合适的驻留时间对维持计数率的统计有效性至关重要。
共1台
复合材料的热损伤 – FTIR 光谱与短梁剪切强度数据之间的关联性
应用领域
材料检测样品
聚合物基复合材料检测项目
热损伤中等模量的碳纤维树脂复合材料在飞机制造业中的应用范围在逐渐扩大。相应的，对于可以评估环境外力对复合材料所施加影响的无损检测工具这一需求也在不断增加。环境外力包括中高温、紫外线或化学品，例如脱漆剂、液压 流体、航空发动机燃料和除冰液。许多种环境外力可能会使复合材料中的树脂组分受损，从而削弱了复合材料的整体强度，最终发生断裂或分层剥离。中等模量的碳纤维树脂复合材料在飞机制造业中的应用范围在逐渐扩大。相应的，对于可以评估环境外力对复合材料所施加影响的无损 检测工具这一需求也在不断增加。环境外力包括中高温、紫外线或化学品，例如脱漆剂、液压流体、航空发动机燃料和除冰液。许多种环境外力可能会使复合材料中的树脂组分受损，从而削弱了复合材料的整体强度，最终发生断裂或分层剥离。 傅立叶变换红外光谱 (FTIR) 是一项可以评估复合材料树脂状态的技术，传统方法是将样品取下然后送往实验室进行 FTIR 分子分析。根据飞机制造商的建议，安捷伦开发出了 4100 ExoScan FTIR 光谱仪，它是一种高性能、手持式 FTIR 光谱仪。该型光谱仪的设计目的是让分析人员能够直接在现场对样品进行分析，无需破坏样品即可完成复合材料树脂的评估过程。
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Agilent 4210 微波等离子体原子发射光 谱仪直接测定氢氟酸消解的镍合金中 的 Al、B、Co、Cr、Mo、Ti、V 和 Zr
应用领域
材料检测样品
合金检测项目
Al、B、Co、Cr、Mo、Ti、V 和 Zr含量本应用中，4200/4210 系列 MP-AES 配备的惰性炬管与惰性双通道雾化室和惰性 OneNeb 系列 2 雾化器联用，在无需中和的前提下，直接分析 HF 的消解物。
共1台
利用便携式傅立叶变换红外光谱 (FTIR)分析等离子体处理过的碳纤维增强复合材料(CFRP)
应用领域
材料检测样品
其它检测项目
分析由于兼具质量轻、伸缩性好和抗冲击性强等独特性质，工程级的 CRFP 广泛应用于商用和军用航空领域。CFRP 是一种有机材料，其物理和化学应力与航空制造业中使用的金属有明显的不同。Agilent 4100 ExoScan FTIR 是一种实用性很高的无损分析仪，可用于检测由于高温暴露对 CFRP 造成的破坏性的化学氧化变化。 在本应用简报中，我们将展示 4011 ExoScan 同样能够有效地测量等离子体处理对 CFRP 剥离层的修复和激活特性，以使 CFRP 各部分之间实现最佳的键合。
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使用 Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 测量光学材料不同入射角下的反射率 — 考察小型显示器的性能
应用领域
材料检测样品
光学材料检测项目
不同入射角下的反射率视觉显示器小型化和节能化的趋势带来了设备移动性的提高，促使其在日常生活应用中的快速普及。基于发光二极管 (LED) 和液晶显示器 (LCD) 技术的光学显示器在工业和家用领域均广泛使用。常见产品有移动电话、掌上电脑 (PDA) 及笔记本电脑之类的便携式计算机、便携式数码音乐播放器、LED/LCD 台式电脑显示器和 LED/LCD 电视等。在电子设备生产领域，设备制造商竞相追求更小的 封装尺寸（甚至仅为了减少数十微米的厚度），LED/LCD 因而变得越来越薄。
共1台
无需样品制备、用于高分子复合材料的全新微型 ATR FTIR 化学成像方法
应用领域
材料检测样品
其它检测项目
全新微型 ATR FTIR 化学成像方法聚合物尤其是高分子复合材料的微型 ATR 化学成像通常需要施加相当大的压力以确保 ATR 晶体和样品之间的良好接触。为了确保此类薄样品能够承受压力而不发生弯曲变形，通常需要详细制定样品制备过程以对截面材料提供支撑：将样品包埋到树脂内，切割树脂以及抛光接触表面。此类过程极为繁琐，不仅需要将树脂过夜固化，还增加了交叉污染的风险。本文中我们展示了一种新型的超低压力微型 ATR FTIR 化学成像方法，不需要任何支撑结构。通过与 ATR 晶体直接接触，该方法可让样品“按原状”进行测量。这项独特的功能是通过采用安捷伦的“实时 ATR 成像”技术实现的，该技术不仅增强了化学对比功能，而且能够确定样品与 ATR 晶体之间发生接触的精确时刻，还可提供接触质量的可视化测量。分析人员无需样品制备即可在 50 微米厚的高分子复合材料中清晰观察到薄至数微米的粘 合层。
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使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪 对纳米材料进行单颗粒分析
应用领域
材料检测样品
纳米材料检测项目
单颗粒在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至 100 μs，TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍，可实现瞬时信号的快速测量。
共1台
