原子分辨

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原子分辨相关的资讯

  • 光学定位计量达到原子级分辨率
    英国和新加坡科学家携手推出一种非侵入性光学测量方法,检测纳米物体位置时达到原子级分辨率,比传统显微镜高出数千倍。最新研究使科学家能以十亿分之一米的比例表征系统或现象,开辟了皮光子学研究新领域,也为其他领域研究提供了令人兴奋的新可能性。相关研究论文刊发于最新一期《自然材料学》杂志。  光学成像和计量技术是生物医学和纳米技术研究领域的关键工具。最新研究负责人之一、南安普敦大学尼古拉哲鲁德夫指出,自19世纪以来,提高显微镜空间分辨率一直是一大趋势,科学家们的梦想是开发出能够用光探测原子级事件的技术。  在最新实验中,哲鲁德夫团队通过收集波长为488纳米的拓扑结构光,散射在17微米长、200纳米宽的悬浮纳米线上的衍射图案的单次拍摄图像,展示了原子尺度的计量学。  随后,他们在纳米线被放置在301个不同位置时出现的散射图案的单次拍摄图像数据集上,训练了一种深度学习算法。经过训练,该算法可根据团队传感器记录的散射光模式来预测给定纳米线的位置。  在该团队的原理验证实验中,他们的光学定位计量方法表现非常好,以92皮米的亚原子精度解析了悬浮纳米线的位置。
  • 中科院成功研制“防震”原子分辨率显微镜
    p style=" text-indent: 2em " 对物质进行原子级别的观测,是很多前沿性科研的基础。然而,在追踪单个原子时,轻微的抖动也会让追踪变得困难,让追踪原子消失在视野中。 /p p style=" text-indent: 2em " 近期,中科院合肥物质科学研究院陆轻铀研究员团队使用新技术,在国际上首次研制出混合磁体极端条件下的原子分辨率扫描隧道显微镜,可在强震动环境中获取高质量的原子分辨率图像。 br/ /p p style=" text-indent: 2em " 强磁场是探索科学前沿的一种极端实验条件,在发现新现象、催生新技术方面具有不可替代的作用,自1913年以来在高温超导、量子材料、生命科学等领域屡有重大发现,已有19项相关成果获得诺贝尔奖。 /p p style=" text-indent: 2em " 2017年我国在合肥建成重大科技基础设施“稳态强磁场实验装置”,该装置拥有3台场强创世界纪录的水冷磁体,以及场强排名全球第二的混合磁体。但由于混合磁体运行过程中产生的强震动干扰,只能用其开展宏观尺度的观测,难以实现微观尺度的观测。 /p p style=" text-indent: 2em " “追踪一个原子,要求观测仪器极其稳定,稍微晃动一下,原子就会在茫茫的微观世界中消失难觅。”陆轻铀说。 /p p style=" text-indent: 2em " 近期,陆轻铀团队基于小尺寸的“蜘蛛马达”,用新方法设计出一种新型原子分辨率扫描隧道显微镜。它采用蓝宝石绝缘材料加工,外径仅8.8毫米,可直接插入到混合磁体的孔径中并真空密封。经测试,他们成功地在混合磁体30特斯拉的超强磁场下,获得了石墨的高品质原子分辨率图像。 /p p style=" text-indent: 2em " 以上技术方案是在真空环境下实现的,难以对活性生物体进行观测。为此,陆轻铀团队进一步深入研究,又成功搭建出一套室温大气环境下的抗恶劣条件扫描隧道显微镜。经测试,可在27.5特斯拉的混合磁体超强磁场下实现原子分辨率成像。 /p p style=" text-indent: 2em " 日前,国际知名学术期刊《超显微术》和《科学仪器评论》分别发表了这两项研究成果。 /p
  • 清华大学新成果:同时实现深亚埃分辨的原子结构成像和亚纳米分辨的晶体取向成像
    近日,清华大学材料学院于荣教授课题组与李千副教授课题组在晶体取向成像方法和位错三维结构研究中取得进展。该研究基于课题组近期发展的自适应传播因子叠层成像方法,在自支撑钛酸锶薄膜中同时实现了深亚埃分辨的原子结构成像和亚纳米分辨的晶体取向成像,并揭示了钛酸锶中位错芯在电子束方向的结构变化。晶格缺陷是材料中的重要组成部分。相对于完美基体,缺陷处的对称性、原子构型、电子结构都发生变化,在调节材料整体的力学、电学、发光和磁性行为方面发挥着关键作用。然而,缺陷处的对称破缺和原子的复杂构型也给缺陷结构的精确测量带来障碍。比如,位错附近不可避免存在局域应变和晶体取向变化,但是用高分辨电子显微学表征晶体中的原子构型又要求晶带轴平行于电子束,否则分辨率会显著降低。这个矛盾一直是位错原子结构的实验分析中难以克服的困难。研究组通过自适应传播因子多片层叠层成像技术研究了钛酸锶中位错芯的原子结构。如图1所示,研究成功地将晶体倾转从原子结构成像中分离出来,同时实现了达到深亚埃分辨率的原子结构成像和亚纳米分辨率的晶体取向成像。图1. SrTiO3中位错的结构像和取向分布。a、叠层成像的重构相位。b、图a中相位图的衍射图,黄色虚线表示0.3Å的信息极限。c、叠加相位图的晶体倾转分布,白色箭头表示[001]方向在平面内的投影,黄色箭头表示位错核的横向移动。d、晶体在[100]和[010]方向的倾转的分布。标尺长1nm在图1中,位错芯看起来范围很小,只有一两个单胞。这种衬度在位错的高分辨成像中很普遍,人们通常认为这样的位错是沿着电子束方向的直线。然而,应用多片层叠层成像的深度分辨能力,可以看出该位错并不是一根直线,而是随着样品深度发生横向位移,形成位错扭折,如图2所示。图2. 刃位错的三维可视化。a、刃位错的相位图;标尺长5Å。b、图a中用A-B标记的分裂原子柱相位强度的深度变化。c、Sr、TiO和O原子柱的相位强度的深度分布。d、深度分别为2.4nm、6.4nm和12.0nm的相位图;标尺长5Å。e、图d中标记的原子柱的相位随样品深度的变化。f、位错扭折示意图该研究还比较了叠层成像和iCOM技术(其简化版即常见的iDPC技术),结果显示叠层成像在横向和深度方向的分辨率都显著优于iCOM和iDPC,如图3所示。图3.多片层叠层成像和系列欠焦iCOM的深度切片。a、多片层叠层成像和iCOM的深度切片;从上到下,切片深度分别为1nm、4nm和11nm;标尺长5Å。b、沿着位错扭折的势函数和相位图的横截面;从左到右分别是用于生成模拟数据集的势函数、多片层叠层重构的相位和系列欠焦iCOM相位;可以看出,iCOM的模糊效应显著大于叠层成像。c、图b中所示的原子柱的相位随样品深度的变化。黑色垂直虚线表示沿原子柱的转折点的真实位置(与图b中白色虚线所示位置相同);可以看出,iCOM在深度方向的模糊效应也大于叠层成像研究总结了多个位错芯的深度依赖结构与晶体取向分布,揭示了位错移动与薄膜形变方式的相互关系。如图4所示,当薄膜绕位错的滑移面法线方向扭转时,位错滑移;当薄膜绕位错的滑移面法线方向弯曲时,位错攀移。图4. SrTiO3中多个位错的晶体倾转分布。a、包含三个位错的区域的相位图。b、对应图a中区域的晶体倾转分布,其上叠加了相位图;黄色箭头表示位错的横向移动方向。图a和b中的标尺为15Å。c、晶体倾转与位错横向位移的相互关系;晶格矢量c由于倾斜矢量t变为c’,即c’=c+t;黑色方块用于说明应变状态;左边为扭转,右边为弯曲;在两种形变模式中,薄膜上部和下部的应变都是反向的,对应位错向相反方向的横向移动。图b中左上角的位错和图2中的位错对应于扭转模式;图b的中心和右上方的位错对应于两种模式的混合研究结果以“晶体取向的亚纳米尺度分布和钛酸锶位错芯的深度依赖结构”(Sub-nanometer-scale mapping of crystal orientation and depth-dependent structure of dislocation cores in SrTiO3)为题于1月11日发表在学术期刊《自然通讯》(Nature Communications)上。清华大学材料学院2018级博士生沙浩治、2022级博士生马云鹏、物质科学实验中心工程师曹国平博士、2019级博士生崔吉哲为共同第一作者,于荣教授与李千副教授为共同通讯作者。物质科学实验中心程志英高级工程师在实验数据采集中提供了重要帮助。该研究获得国家自然科学基金基础科学中心项目的支持。

原子分辨相关的方案

原子分辨相关的论坛

  • 讨论:原子力显微镜分辨率

    哪位知道,目前原子力显微镜在国产及进口方面最高的分辨率分别是多少?是哪个品牌的?原子力显微镜目前是否可以达到横向0.1纳米、纵向0.01纳米的分辨率?

  • STEM能分辨散乱分布的单原子吗?

    STEM能分辨散乱分布的单原子吗?

    请教大神:如题。一直对这样的结果持有很多怀疑。原子衬度的存在貌似都是信息分辨率极高的结果,而这都是基于thin film的理论…而散乱分布没有了周期晶格,怎么分辨出原子呢……如图所示,散乱分布的原子本身能造成那么高的衬度呢?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708101314_01_1692864_3.png[/img]

原子分辨相关的资料

原子分辨相关的仪器

  • SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式,极大提高了信号的灵敏度,是第一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像的产品,无论样品种类(薄膜、晶体、半导体、有机材料),还是不同环境(大气环境及溶液环境)。并且首次观察到固体和液体临界面(固液界面)的水化、溶剂化现象的图像,因此实现了对固液界面结构的测量分析。1. 大气及溶液中的超高分辨率观察变为现实通过提高检测悬臂振动的光检测系统的效率,以及压制激光干扰等技术开发,把检测悬臂变位的光杠杆检测系统的噪音成功地降低到了以往的1/20。由此实现了以往SPM只能在真空环境中才能实现的超高分辨率观察。2. 固液界面水化/溶剂化作用三维构造解析SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过精确测量探针在固液界面的受力,作为探针所在位置的函数,成功观察到了界面的液体结构。并且采用了新的扫描方式,不仅在二维层面,还首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态,还可以进行固液界面结构的观察分析。例如,可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化,或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究,为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。3. 更为快速便捷的操作性综合使用头部滑动结构,专用探针更换夹具以及高速扫描器,完善了用户操作的便利性,提高了工作效率。
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  • 创新研究的最佳途径Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析,Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。Park SmartScan 智能模式在SmartScan Auto独有的智能模式下,系统自动执行所有必要的成像操作,同时智能选择最佳的图像质量和扫描速度。这是通过Park的专利技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱,还可以给你您带来最好的研究结果。Park 消除串扰技术Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来无与伦比的精确度和分辨率。Park先进的原子力显微镜模式Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式,因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性,到先进的磁力显微镜, Park在原子力显微镜领域为您提供最具创新、精确的模式。Park NX10 扫描离子电导显微镜模块Park NX10扫描离子电导显微镜模块为广泛的应用,细胞生物学,分析化学,电生理学和神经科学提供纳米级成像。技术信息为通用研究提供精准的AFM解决方案低噪声Z检测器可进行精确的AFM测量Park NX10原子力显微镜的低噪声Z探测器NX平台的核心先进技术业界无可比拟的超低噪声默认的形貌信号Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。它是Park独创的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声一跃成为行业内噪声最低的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号,全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。如果Z轴探测器的噪声过高,用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶的。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号,其噪声水平与Z轴电压形貌相同。真正的非接触式™ 模式进行准确的AFM扫描针尖磨损更低=高分率扫描更长久无损式探针-样品接触=样品受损最小化可满足各种条件下对各种样品进行非接触式扫描针尖磨损更快=模糊,低分辨率扫描破坏性的探针-样品接触=样品易受损参数高依赖性优秀的设计带来最佳的用户体验简单的探针和样品更换独有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂,无需再进行繁杂的激光校准工作。闪电般快速的自动近针自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。通过监测悬臂接近表面的反应,Park NX10能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。快速精准的SLD光校准凭借我们先进的预校准悬臂架,悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。此外,作为行内唯一一家可以提供自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。由于SLD光垂直照在悬臂上,您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。此时您只需要稍微调整到最大化信号,便可开始获取数据。Park NX10特点扫描范围为50 μm x 50 μm 的2D扫描器XY轴扫描器有对称的二维高强度压电叠堆。它可为进行精确的纳米级样品扫描,提供基本的面外高效正交运动和高响应能力。Park NX10的这种紧密刚硬的构造具备低噪声高速的伺服响应能力。低噪声XYZ位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。自动步进扫描 借助驱动样品台,步进扫描可编程多区域成像,以下是它的工作流程:扫描成像抬起悬臂移动驱动平台到设定位置进针重复扫描滑动嵌入SLD镜头的自主固定方式您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置,同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD,显微镜可精确成像并可准确测定力-距离曲线。高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计,其生产线设备兼容性得到大大提高高速24位数字控制器所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。 该控制器是个全数字,24位高速控制器,可确保True Non-Contact™ 模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元,该控制器也是纳米成像和精确电压电流测量的绝佳选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能,更好的解决方案,是高级研究员的最佳选择。XY和Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴(50 μm)的分辨率为0.003nmZ轴(15 μm )的分辨率为0.001 μm嵌入式数字信号处理功能三通道数码锁相放大器弹簧系数校准(热方法)数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口
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  • 产品详情 HR-SPM: 高分辨原子力显微镜 使用调频模式空气和液体中的噪音降低到传统模式的二十分之一在空气和液体环境中也能达到高真空原子力显微镜的分辨率现有的扫描探针显微镜 (scanning probe microscopes)和原子力显微镜(atomic force microscopes) 通常使用调幅模式(amplitude modulation).从原理上, 调频模式(frequency modulation) 可以达到更高的分辨率。 SPM:扫描探针显微镜 AFM:原子力显微镜 AM:调幅模式 FM:调频模式 与现有SPM/AFM的区别 液体环境中原子分辨率观察 NaCl饱和溶液中观察固体表面的原子排列。使用调幅模式的传统原子力显微镜,图像完全被噪音遮盖(左图),但在调频模式下,原子排列清晰可见(右图)。调频模式实现了原子级分辨率。 空气中Pt催化剂颗粒的观察 TiO2基底上的Pt颗粒, 通过KPFM进行表面电势的测定,TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰识别。同时可以观察到数纳米大小的Pt粒子和基板间的电荷交换。右图中,红色区域是正电势,蓝色区域是负电势。对于PKFM观察,FM模式也大幅提高了分辨率。
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原子分辨相关的耗材

  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • PAINT 超高分辨显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换,GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外,标尺的设计中包含了三个荧光发射点,可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸:20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购:红色(ATTO 647N),绿色(ATTO 542)或蓝色(Alexa Fluor 488),或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
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