原子分辨

样品的原子序数大的更容易获得高的分辨率，还是样品的原子序数小的更容易获得高的分辨率？

哪位知道，目前原子力显微镜在国产及进口方面最高的分辨率分别是多少？是哪个品牌的？原子力显微镜目前是否可以达到横向0.1纳米、纵向0.01纳米的分辨率？

请教原子吸收分辨率如何测有大侠做过吗求教

[color=#0162f4][size=4]新进了一台原子力显微镜，配的扫描器是20μm的，不知道分辨率是多少？我也检索了关于原子力显微镜的分辨率的一些问题，但不知道原子力的分辨率是不是与扫描器有关，不同扫描器除了扫描范围不一样，得到的扫描图像的精度也不一样，是不是就是说分辨率不一样呢？关于分辨率的问题常常都在困扰这我，这个问题说简单很简单，说复杂也觉得挺复杂的，请教各位，原子力显微镜分辨率与扫描器的关系如何？如果我希望能看到更高精度的图像，是不是需要升级我现在的20μm的扫描器？衷心感谢各位的解答！[/size][/color]

该综述是我今年刚发表的，希望对作AFM高分辨工作的同仁有所帮助，也欢迎讨论！论文题目：Atomic and Subnanometer Resolution in Ambient Conditions by Atomic Force Microscopy作者：Yang Gan（甘阳）作者单位：哈尔滨工业大学期刊：Surface Science Reports年/卷期/页：2009, vol. 64, 99-121DOI：http://dx.doi.org/10.1016/j.surfrep.2008.12.001全文：请见附件内容介绍：该综述就应用原子力显微镜（AFM）在常温常压下进行表面的原子、亚纳米分辨成像的理论和实验基础进行了详细介绍，并对已发表的相关研究成果作了全面深入的总结和分析，引用相关参考文献220篇。综述全文由10个部分组成：前言，AFM的原理和工作模式，AFM的分辨率，针尖－表面作用力，实现原子、亚纳米分辨成像的条件，假相和重现性，常温常压下原子分辨结果一览和分析，AFM晶格分辨成像－如何获得有用信息，生物样品的表面亚纳米分辨成像概述，展望。摘要：This article reviews the achievements of both atomic resolution and subnanometer (molecular) resolution in ambient conditions by atomic force microscopy (AFM). The principles of AFM and AFM operation modes are first introduced. The concept of resolution is then discussed. Various types of tipsurface forces, particularly the forces prominent in liquid and in air, are introduced. Different viewpoints on the conditions for achieving atomic/subnanometer resolution are reviewed. The important issues of reproducibility and artifacts are discussed in depth, with many examples from the literature. The central portion of this article is a critical review of the published results of atomic resolution, dating from 1993 up to 2007. The achievements of subnanometer resolution on biological samples are then briefly overviewed. Examples are given to demonstrate how to obtain reliable structural information from lattice resolution or pseudo-atomic resolution topographs. Finally, the challenges of AFM as a trustworthy high resolution technique are discussed.[~151407~]

上海惠谱3200[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]的光学分辨率是多少?

球差TEM的Z-Contrast magin 能够分辨出CeO2上的单原子Co吗？ Ce-原子序数58 Co-原子序数27-不知道Z-衬度差 多大才能分辨出呢？

哪位高手有根据高分辨质谱的准确值模拟分子原子组成的软件？

http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/2174原子力显微镜由于其对样品的是否导电或是否处于液体环境没有要求被广泛应用于科学研究的各个领域。原子力显微镜可以获得样品役区域的表面形貌和力学性质（如粘性和硬度等）。随着应用领域的不断扩展和对仪器性能越来越高的要求，尤其是生物研究者希望能实时监测细胞和蛋白分子的反应过程，对原子力的扫描速度提出了越来越高的要求。传统的原子力的扫描速度已经无法满足需要了。同时因为原子力只能得到形貌和力学性质而无法获得样品的化学信息和样品内部结构，研究者希望能将原子力与光学仪器联用起来，这样，就能同时获得同区域的原子力信息和光学信息。 本次的webinar，将会为大家带来JPK公司的最新快速原子力显微镜与超分辨光学系统联用的最新进展。

比如苯环上有一个取代基，在大图上可以看出氢的种类，要分辨率多高

不知道论坛中有没申请山东省CMA 的xdjms？有个表中涉及到所用仪器的分辨力/率的问题。培训的老师讲是仪器设备的最小刻度值。我想跟大家讨论一下理化检测用的分析仪器的分辨率。在《质量专业综合知识》中有写明：对于数字式显示装置，其分辨力为末位数字的一个数码。我们的万分之一的电子天平，技术指标中的分辨力为：0.1mg，pH计技术指标的分辨力为：0.01（仪器显示到0.01）至此，我们可以认为仪器能读到的最小示值就是分辨力么？紫外，原子吸收，我们都是定波长看其吸光度，通过吸光度计算物质含量，那么仪器吸光度示值达到0.001，就认为分辨力为0.001么？懂仪器的可能知道对于光谱仪器来说，光谱带宽代表仪器的分辨力，我问过我们紫外的供应商，他说我可以直接写明光谱带宽是多少就行。此外，我们还有凯氏定氮仪，仪器显示的含氮量可以达到0.0001%，那它的分辨力就是0.0001%？还有滴定管，是不是分辨力为0.1mL？（还是因为它是带刻度的，为最小刻度值的一半？）现在我们的仪器大都是可以直接输出数据的吧？可以把它们称作数字式显示装置么？对于《质量专业综合知识》中有这样的说法：显示装置能有效辨别的最小的示值差，称为显示装置的分辨力，或简称为分辨力。它是指显示装置中对其最小示值的辨别能力。模拟式显示装置的分辨力，通常为标尺分度值的一半，即用肉眼可以分辨到一个分度值的1／2。数字式显示装置，其分辨力为末位的一个数码。对半数字式的显示装置，其分辨力为末位数字的一个分度。大家如何理解的？有论坛指出：“用标尺作为读数装置（包括带有光学机构的读数装置）的测量仪器分辨力，为标尺上任何两个相邻标记之间即最小分度值的一半。打个比方：指针式的百分表（0.01mm分度），分辨力为0.005mm数显式的百分表（0.01mm最末位），分辨力为0.01mm”我只想知道该填写什么样的数值，涉及到理论知识的最好大家可以举个例子。呵呵，有点长，希望我们可以讨论明白，谢谢了！

最近老板让我做高分辨图的分析，我不知道从哪里入手，不知道谁有高分辨的simulation软件什么的。另外关于interface 附近的dislocation分析（晶格失配造成的应力导致的刃位错）是要怎么做？晶格失配度是直接量了之后用原始公式算么？不知道crystalmaker能不能画interface的3-D结构原子图？或者有其他软件可以做的么？求高手相助！或者推荐相关的paper也行。

现在知道，在距离很近的时候，探针针尖的分子和试样的原子/分子产生排斥力〔斥力模式〕，afm利用利用这个斥力实现对样品表面的形貌分析我想问： 1.原子/分子之间有很多力，比如说范德华力等，afm主要利用的是哪一种〔几种〕？ 2.这些力的作用范围有多大？似乎都是超过了原子半径吧？如果是这样，探针检测的应该是样品表面多个原子的合力，在此情况下，怎么样实现原子级分辩率？ 3.目前，探针还没有作到单个原子水平，换句话说，探针针尖也是多个原子/分子，再加上样品表面的多个原子分子，如何实现原子级分辩率？ 这些问题让我感觉很困惑，请各位高手不吝赐教

中国原创，世界首创：INSTEMS原位原子分辨TEM力热电单场/多场耦合系统—百实创科技

EDS分析的是不同原子电子壳层之间的差值，那么对于同一元素，这种差值是不是会因为价电子的得到或者失去而引起变化？如果是，是不是因为这种变化的能量级别在几个eV，而EDS分辨率在133eV，所以根本无法分析不同价态的元素。这么类推，由于EELS的分辨率能在1eV，如果有了能量过滤，能达到0.1eV，还有XPS也能达到0.1eV甚至更小的分辨率，所以才能分析元素的价态？忽然之间的一点想法，请指正。

曾经在做培训时培训老师说锰三线可以看一台仪器分辨率的好坏，可是最近看到一本国标GB/T21187-2007 中分辨率是这样的：仪器光谱宽带0.2nm,用汞253.7 nm谱线在能量档测量。调节光电倍增管高压，使谱线峰值能量为100+1%，扫描253.5nm~253.9nm,测量谱线两侧能量为50%时所对应波长值。计算其差值。我想请教各位那种方法是对的，使用那种方法更好。

[color=#444444]高分辨质谱M+H的理论值计算是用其最大丰度的同位素的相对原子质量计算，C,H,O,N的最大丰度同位素的相对原子质量是多少呢？例如C32H55N3O2，我按C:12.0000，H:1.007285，O:15.994915, N:14.003074计算，然后再四舍五入保留小数点后四位得514.4070，但别人算得514.4372，不知道问题出在哪？[/color]

从书本上看到，高分辩像主要有晶格条纹像，一维结构像，二维晶格像（单胞尺度的像），二维结构像（原子尺度的像；晶体结构像）以及特殊像等多种。 其分别的解释分别如下： 晶格条纹像：如果用物镜光阑选择后焦平面上的两个波来成像，由于两个波的干涉，得到一维方向上强度呈周期变化的条纹花样，就是晶格条纹像。不要求电子束准确平行与晶格平面。常用与微晶和析出物的观察，可以揭示微晶的存在以及形状，但不能获得结构信息。但可通过衍射环的直径和晶格条纹间距来获得。 一维结构像：如果倾斜晶体，使电子束平行于某一晶面入射，就可以获得一维衍射条件的花样。使用这种衍射花样，在最佳聚焦条件下拍摄的高分辨率电子显微像不同于晶格条纹像，含有晶体结构的信息。即将观察像与模拟像对照，就可以获得像的衬度与原子排列的对应关系。 二维晶格像：如果电子束平行于某晶带轴入射，就可以满足二维衍射条件的衍射花样。在透射波附近出现反映晶体单胞的衍射波。在衍射波和透射波干涉生成的二维像中，能观察到显示单胞的二维晶格像。该像虽然含有单胞尺度的信息，但不含原子尺度的信息，称为晶格像。 二维结构像：在分辨率允许的范围内，尽可能多用衍射波成像，就可以使获得的像中含有单胞内原子排列的信息。一般结构像只有在比较薄的区域才能观察到，但对于轻元素在较厚的区域也可以观察到结构像。 对于以上这四个概念，我的认识非常模糊，一维晶格像的概念我还算理解，但是晶格条纹像和二维结构像、二维晶格像在电镜上是如何实现的？我记得论坛上有不少帖子里面的电镜照片的讨论中都提到了必须由多种成像的照片才能确定晶体的结构，这又是为什么？shxie大侠，ustb大侠，能否根据你们手中已有的照片或者其他资料来给个例证来解释解释呢？多谢了。

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。[align=center][b][color=#ff0000]扫描电镜的优点[/color][/b][/align]①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。[align=center][b][color=#ff0000]影响扫描电镜（SEM）的几大要素[/color][/b][/align][b][color=#ff0000]分辨率[/color][/b]影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束作用体积越大，产生信号的区域随电子束的扩散而增大，从而降低了分辨率.C. 成像方式及所用的调制信号：当以二次电子为调制信号时，由于其能量低(小于50 eV)，平均自由程短（10~100 nm左右），只有在表层50～100 nm的深度范围内的二次电子才能逸出样品表面， 发生散射次数很有限，基本未向侧向扩展，因此，二次电子像分辨率约等于束斑直径。当以背散射电子为调制信号时，由于背散射电子能量比较高，穿透能力强，可从样品中较深的区域逸出(约为有效作用深度的30％左右)。在此深度范围，入射电子已有了相当宽的侧向扩展，所以背散射电子像分辨率要比二次电子像低，一般在500～2000nm左右。如果以吸收电子、X射线、阴极荧光、束感生电导或电位等作为调制信号的其他操作方式，由于信号来自整个电子束散射区域，所得扫描像的分辨率都比较低，一般在l 000 nm或l0000nm以上不等。[b][color=#ff0000]放大倍数[/color][/b]扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学显微镜和透射电镜放大倍数的空挡。[b][color=#ff0000]景 深[/color][/b]景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其中，临界分辨本领与放大倍数有关，因人眼的分辨本领约为0.2 mm, 放大后，要使人感觉物像清晰，必须使电子束的分辨率高于临界分辨率d0 ：电子束的入射角可通过改变光阑尺寸和工作距离来调整，用小尺寸的光阑和大的工作距离可获得小的入射电子角。[b][color=#ff0000]衬 度[/color][/b]包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高分子多相体系才能利用这种衬度成像。

请教：高分辨成像时，入射电子束穿过薄晶体形成弱衍射束与透射束，衍射束与透射束相位相差π/2，各位如何解释为什么？衍射束相位是滞后透射束π/2还是超前π/2。在欠焦位置，衍射束光程比透射束多1/4倍波长位置，其相位是否又比透射束超前（增加）π/2？在正焦点位置，教材上好像说，衍射束位相比在从样品出发时的增加π，为什么不是增加2π？好像光束从样品经过透镜聚焦到达像平面（正焦位置）相位不变（即2π的整数倍）。高分辨像最佳欠焦位置的暗点可否解释为原子列位置的透射波与邻近原子间隙位置的衍射波的合成波的强度，亮点为原子间隙位置的透射波与邻近原子位置的衍射波的合成波的强度？透射波与衍射波此时相位相同，合成波振幅大小=透射波与衍射波振幅大小之和。因为原子间隙位置的透射波强而衍射波弱，原子列位置的透射波弱而衍射波强，所以对应原子列位置的合成波强度较弱，形成暗点；而对应于原子列间隙位置的合成波强度较强，形成亮点。

我用ＭＡＴＥＲＩＡＬ　ＳＵＤＩＯ　４．０建立的孪晶的模型（＊.ＣＩＦ）如何导入到ＪＥＭＳ或ＣＡＲＩＮＥ３.１中去呢？ＪＥＭＳ／ＣＡＲＩＥＮ３．１能打开的文件为＊.ＴＸＴ，是不是不能直接导入？我看金属所的好多论文是用ＭＡＴＥＲＩＡＬ　ＳＵＤＩＯ　４．０做的模型，ＥＭＳ做的高分辨模拟，如何实现的呢？中间是不是使用了什么转换的工具？是不是需要在ＪＥＭＳ里直接建立结构模型？好几十个原子，如何知道他们的ＦＲＡＣＴＩＯＮＡＬ　Ｘ／Ｙ／Ｚ？等等．

请教：请问在哪本书或者资料上可以查看时间分辨率和空间分辨率、能量分辨率的定义呢？

杂质分子量为300.1，用低分辨全扫描的分子离子301.1，二级碎片为212.2和86.2，用高分辨定性时分子离子为301.1353，但二级碎片却与低分辨质谱不太一致，分别为198.0354和86.0902，这是因为仪器不一样导致的吗？低分辨是安捷伦三重四级，高分辨质谱为waters飞行时间质谱，同一物质二级碎片不一致是可以接受的吗？