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PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等，可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。
产品特点
自主设计开发，拥有完全自主知识产权
定位测量功能及缺陷检测功能
高分辨率
高数据率和高灵敏度图像处理系统
高速并行的图像处理系统
多功能可扩展的应用软件
产品参数
产品货期: 30天
整机质保期: 3年
培训服务: 安装调试现场免费培训
晶诺微其他晶圆缺陷设备 PULSAR 系列的工作原理介绍
其他晶圆缺陷设备 PULSAR 系列的使用方法?
晶诺微 PULSAR 系列多少钱一台?
其他晶圆缺陷设备 PULSAR 系列可以检测什么？
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