产地类别： 国产
看了光学薄膜测量设备的用户又看了
QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器，操作简单，极易上手，应用广泛，快速准确的提供各种薄膜厚度的测量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。
产品特点
多参数测量
可测量材料厚度、折射率（Refractive Index）、 消光系数（Extinction Coefficient）和反射率。
各种形状样品测量
可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。
软件功能丰富
友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能，各种丰富的数据分析及查看功能。
简单、易用
测量流程简单，用户极易上手建立测量程式。
产品参数
★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差
定制功能
可根据客户需求搭配自动运动平台
可根据客户需求配置小光斑
产品货期: 30天
整机质保期: 3年
培训服务: 安装调试现场免费培训
晶诺微光学薄膜测量R100的工作原理介绍
光学薄膜测量R100的使用方法?
晶诺微R100多少钱一台?
光学薄膜测量R100可以检测什么？
光学薄膜测量R100使用的注意事项？
晶诺微R100的说明书有吗？
晶诺微光学薄膜测量R100的操作规程有吗？
晶诺微光学薄膜测量R100报价含票含运吗？
晶诺微R100有现货吗？
