产地类别： 国产
看了光学薄膜测量设备的用户又看了
QUASAR-E100是一款桌面式光谱椭偏膜厚仪，它为客户提供更加准确、稳定的厚度和折射率测量，广泛应用于科研、半导体、液晶、太阳能制造等领域，适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。
产品特点
各种尺寸样品测量
可测量如4-12英寸的晶圆及其他各种不规则形状样品
测量精度和稳定性高
相对于反射仪，QUASAR-E100可提供更高精度的测量，且可提供极薄膜的测量
多参数测量
可测量材料厚度、折射率和消光系数
操作简单且功能丰富
用户无需过多培训即可轻松掌握测量流程及建立菜单，数据查看、统计和分析功能丰富
产品参数
★Si基底上对厚度小于30nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差
定制功能
可根据客户需求配置不同的光源，以实现不同性能的测量
可根据客户需求搭配自动运动平台
可根据客户需求配置小光斑
产品货期: 30天
整机质保期: 3年
培训服务: 安装调试现场免费培训
晶诺微光学薄膜测量椭偏仪E100的工作原理介绍
光学薄膜测量椭偏仪E100的使用方法?
晶诺微椭偏仪E100多少钱一台?
光学薄膜测量椭偏仪E100可以检测什么？
光学薄膜测量椭偏仪E100使用的注意事项？
晶诺微椭偏仪E100的说明书有吗？
晶诺微光学薄膜测量椭偏仪E100的操作规程有吗？
晶诺微光学薄膜测量椭偏仪E100报价含票含运吗？
晶诺微椭偏仪E100有现货吗？
