单点少子寿命测试设备MDPspot-
单点少子寿命测试设备MDPspot-

¥100万 - 150万

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弗莱贝格仪器

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MDPspot-

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欧洲

  • 银牌
  • 第5年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 进口

少子寿命测量范围: 20ns到几十ms

贯穿深度: 500μm

样品尺寸: 小50×50 mm2 ,大12”或210×210mm2

电阻率测量范围: 0.2–>103 Ohm cm

测试材料: 硅,化合物半导体,氧化物,宽带隙材料,钙钛矿,外延层

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应用材料范围:

●  硅|化合物半导体|氧化物|宽带隙材料|钙钛矿|外延层

无接触且非破坏的少子寿命成像测试:(μPCD/MDP(QSS),光电导率,电阻率和p/n型检测。

●  符合半导体行业标准 SEMI PV9-1110

 

MDPspot单点少子寿命测试设备产品特性:

●  灵敏度: 对外延层监控和不可见缺陷的检测,具有可视化测试的高分辨率

●  寿命测试范围: 20 ns到几十ms

●  测试能力: 从切割的晶圆片到所有工艺中的样品

●  可靠性: 模块化紧凑型台式检测设备,正常运行时间> 99%

●  重复性: > 99.5%

●  灵活性: 适用于晶片和晶块,高度可进行调整

●  辅助功能: 基于IP的系统,允许在任何地方进行远程操作和技术支持

 

技术参数

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售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 安装时现场培训

免费仪器保养:

保内维修承诺: 根据具体仪器型号确定

报修承诺: 24小时内相应

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单点少子寿命测试设备MDPspot-信息由弗莱贝格仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于单点少子寿命测试设备MDPspot-报价、型号、参数等信息,弗莱贝格仪器客服电话:400-860-5168转4682,欢迎来电或留言咨询。
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