核心参数
产地类别: 进口
仪器类别: 光学非图形化缺陷检测设备
主要应用: 晶圆表面缺陷检测
晶圆尺寸: 200mm
KLA Candela光学表面缺陷分析仪(OSA)可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板,又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测,成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。
Candela系列采用光学表面分析(OSA)专用技术,可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移,为特征缺陷(DOI)进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度,使用于新产品开发和生产管控,是一套极具成本效益的解决方案。
二、 功能
主要功能
1. 缺陷检测与分类
2. 缺陷分析
3. 薄膜厚度测量
4. 表面粗糙度测量
5. 薄膜应力检测
技术特点
1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案,可实现高效的自动化缺陷检测与分离;
2. 对LED材料的缺陷进行自动检测,从而增强衬底的质量管控,迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力;
3. 满足多种工业要求,包括高亮度发光二极管(HBLED),高功率射频电子器件,透明玻璃基板等技术;
4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。
5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)
(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection)
6. 自动生成缺陷mapping。
技术能力
1. 检测缺陷尺寸0.3μm;
2. 大样品尺寸:8 inch Wafer;
3. 超过30种DOI的缺陷分类。
三、应用案例
1. 透明/非透明材质表面缺陷检测
2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控
3. PR膜厚均一性评价
4. Clean制程清洗效果评价
5. Wafer在CMP后表面缺陷分析
KLA晶圆缺陷光学检测设备Candela的工作原理介绍
晶圆缺陷光学检测设备Candela的使用方法?
KLACandela多少钱一台?
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企业名称
上海艾尧科学仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司
信用代码
91310230MA1K17UD9U
成立日期
2018-07-06
注册资本
300
经营范围
仪器仪表销售、维修,机械设备、环保设备、机电设备及配件、计算机软件及辅助设备、实验室设备、金属材料、橡塑制品、家用电器、照明设备、电气设备、消防器材、化工产品(除危险化学品、监控化学品、烟花爆竹、民用爆炸物品、易制毒化学品)、建筑材料、电缆电线、电子产品、通信设备、文化办公用品、工艺礼品(象牙及其制品除外)、日用百货、普通劳防用品、服装鞋帽的销售,市政工程,环保工程,机电设备安装工程,机械设备租赁,商务信息咨询,会务服务,展览展示服务,从事机械、仪器仪表、信息技术领域内的技术开发、技术转让、技术咨询、技术服务,物业管理,房地产经纪,市场营销策划,设计、制作各类广告,货物运输代理,从事货物及技术的进出口业务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
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