晶圆缺陷光学检测设备_报价-上海艾尧科学仪器有限公司

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全部晶圆缺陷光学检测设备关键尺寸测量设备光学薄膜测量设备四探针方阻测试仪薄膜应力测试仪

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全部安东帕布拉本德 Fastmicro TeraNova 日本理学 ELIONIX INC. FEMTOTOOLS Biosensing Instrument 理音 G&N 日本大塚电子 Osiris SCIL 维萨拉 KLA 安东帕 Sentronics Metrolo 儒米娜 CTS SPECTRUMA STARLIMS ULTECH Norcada Sairon Tech IDONUS 欧斯泰科 PMS SOL Instruments Accurion PAC Korvus Technology SciAps NANOVEA RADIANT ZEMAX linetronic App Nano 美国PSS 梅特勒托利多雷尼绍 SCAVINI 德国元素 Park 原子力 NORMALAB FSM ERALYTICS CSI

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荷兰Fastmicro表面颗粒检测仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PS-SAS-V01

产地：荷兰

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优选

美国Lumina晶圆表面缺陷检测仪

品牌：儒米娜

型号： AT1

产地：美国

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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PDS

产地：荷兰

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Candela光学表面缺陷检测仪

品牌： KLA

型号： Candela

产地：美国

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Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜

品牌： Park 原子力

型号： NX-Hybrid WLI

产地：韩国

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上海艾尧科学仪器有限公司为您提供5台晶圆缺陷光学检测设备，包括美国Lumina晶圆表面缺陷检测仪，Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜，Candela光学表面缺陷检测仪，不管是晶圆缺陷光学检测设备原理、参数，还是晶圆缺陷光学检测设备价格、型号都可咨询，公司客服电话400-860-5168,4306，售前、售后均可联系我们。

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主营产品：

石油产品蒸馏仪、馏程仪石油低温性能测试仪(倾点/浊点/冰点/冷滤点/凝固点) 闪点仪/燃点仪扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）纳米压痕仪、划痕仪激光拉曼光谱(RAMAN) 四探针方阻测试仪无掩模光刻机/直写光刻机匀胶机晶圆缺陷光学检测设备涂胶显影设备湿法清洗设备薄膜应力测试仪光学薄膜测量设备关键尺寸测量设备化学机械抛光机（CMP）有机元素分析仪椭偏仪光学平台流变仪 LB膜分析仪白光干涉测厚仪石油产品测硫仪粉质仪挤出机/注塑机轮廓仪化学气相沉积设备晶圆研磨机减薄机激光诱导击穿光谱仪（LIBS）辉光放电光谱仪

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