Park纳米科学原子力显微镜
系列讲座培训一
原子力显微镜在纳米研究中的应用:
AFM的成像原理
2021年5月25日(周二)
北京时间下午3:30-4:30
原子力显微镜(AFM)作为扫描探针显微镜家族的一员,具有纳米级的分辨能力,其操作容易简便,是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。此外原子力显微镜还具有摩擦性能,纳米机械性能和电学性能等高级性能。
在本研究中,我们将讨论接触模式、非接触模式和轻敲模式等原子力显微镜使用中的不同操作模式;内容将概括到从原子力显微镜测量中常用的原子相互作用的基本理论,到原子力显微镜的主要硬件组成。本讲座还将讨论各模式的关键点(如设定值、反馈)。
在接触模式下,系统会给探针恒定的力作为设定的基准点也就是设定点来物理接触样品。扫描期间为了维持这个设定点而进行反馈。在三种模式中,原理相对简单。然而,由于接触模式很容易对针尖和样品造成损伤。相比之下,非接触模式允许在不接触表面的情况下进行形貌测量。因此,可以很好地保护针尖和样品。轻敲模式与非接触模式原理相似,在扫描过程中,探针轻触样品表面,以获得测量材料属性分布的额外信息(例如模量分布)。
本次讲座主要针对AFM原理的基础知识,帮助大家了解探针和样品之间的相互作用。由三种模式测出的图像对比也将在讲座中呈现。
报告人 :
Park原子力显微镜应用科学家Chris Jung
Chris Jung, is an Application Scientist for Park Systems Korea - Research Application Technology Center (RATC) department. He received his Master’s degree in Physics from the Kyung Hee University, and his Bachelor’s degree in Physics from Dankook University in South Korea. His major project includes Evaluation of Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) at the perspective of resolution.
Park原子力显微镜系列讲座列表(5月-9月)
想了解更多详情,请关注微信公众号:Park原子力显微镜
400电话:400-878-6829
Park官网:parksystems.cn
更多
精益求精 创新不止——Park Systems永远在路上
厂商
2024.07.25
最新!2024 Park AFM第一批奖学金获奖名单公布
厂商
2024.05.14
以匠心映绘科技,以至诚点亮售后——Park Systems的“新”型售后
厂商
2024.04.23
积极响应国家利好政策: Park Systems 支持设备更新,助力节能提效
厂商
2024.04.01