帕克网络讲堂：仔细控制反馈力：高分辨原子力显微镜成像的物理原理，参数选择和优化

仔细控制反馈力：高分辨原子力显微镜成像的物理原理，参数选择和优化

这届讲座是我们成像技巧和诀窍系列讲座的第一讲，参数选择的原理和优化技巧。

原子力显微镜在许多领域里有着广泛的应用，这是一种非常多样化的仪器， 和电子显微镜相比有着制备样品简易，对环境和保养要求不高的优点。但是很多原子力显微镜使用者都有这样的经历：当他们选用他们所熟悉的针尖和参数去研究一个未知的样品时，往往会遇到许多困难。仪器说明书并没有仔细描述如何对实验参数的优化。这期讲座我们将讨论原子力显微镜高分辨成像中最重要的参数的物理意义和参数系统性优化的步骤。

原子力显微镜利用针尖和样品之间的力作为反馈作用来成像。针尖和样品之间的作用力有范德华力，远程静电力和近程排斥力。利用对针尖和样品作用力梯度，我们可以选用不同的成像参数来控制针尖和样品之间在不同的力区间反馈。我们可以控制的这些参数包括驱动电压，驱动频率，反馈设定点。这届讲座我们将从物理和数学角度分析讨论参数选择和针尖作用力的关系，从而决定如何系统地选择参数来达到最好分辨率成像。

徐  松  博士
帕克原子力显微镜

徐松博士现任帕克原子力显微镜高级应用科学家。徐博士于1991毕业于中国科技大学近代化学系并获得学士学位，他在1999年毕业与美国底特律韦恩州立大学化学系并获得博士学位。 徐博士的论文研究方向为原子力显微镜在单分子自组膜形成机理的观察应用, 他在许多原子力显微镜的应用领域有着丰富的实践经验并发表了三十多篇论文并拥有多项专利。 有着二十年的原子力显微镜的应用研究经验。

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