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微纳（香港）科技有限公司

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仪器（69）耗材配件试剂标物品牌（0）

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全部 Sentronics Metrolo Fastmicro NANOVEA Korvus Technology Sairon Tech CTS TeraNova Osiris SCIL Powatec Acoulab ULTECH Thermic Edge 标乐

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Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量系统

品牌： Sentronics Metrolo

型号： SemDex A32

产地：德国

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Sentronics 晶圆厚度系统、翘曲度测量系统

品牌： Sentronics Metrolo

型号： M1

产地：德国

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Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量仪

品牌： Sentronics Metrolo

型号： SemDex A

产地：德国

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荷兰Fastmicro颗粒沉降扫描仪/超净间颗粒检测仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PS-PFS-V01

产地：荷兰

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荷兰Fastmicro表面颗粒度检测系统

品牌： Fastmicro

型号： FM-PS-SAS-V01

产地：荷兰

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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测系统

品牌： Fastmicro

型号： FM-PDS

产地：荷兰

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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒度测量仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PS-PRS-V01

产地：荷兰

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ST500型三维表面轮廓仪

品牌： NANOVEA

型号： ST500

产地：美国

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NANOVEA公司ST400型光学轮廓仪

品牌： NANOVEA

型号： ST400

产地：美国

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NANOVEA公司PS50型三维表面形貌仪

品牌： NANOVEA

型号： PS50

产地：美国

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JR25便携式三维表面形貌仪

品牌： NANOVEA

型号： JR25

产地：美国

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CB500纳米划痕仪

品牌： NANOVEA

型号： CB500纳米划痕仪

产地：美国

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CB500型纳米压痕仪

品牌： NANOVEA

型号： CB500

产地：美国

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英国Korvus公司磁控溅射/热蒸发/电子束镀膜系统（PVD）

品牌： Korvus Technology

型号： HEX

产地：英国

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CTS AP200型CMP化学机械抛光机

品牌： CTS

型号： AP200

产地：韩国

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CMP化学机械抛光机

品牌： CTS

型号： AP300

产地：韩国

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CTS AIP300型全自动CMP化学机械抛光机

品牌： CTS

型号： AIP300

产地：韩国

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SPA-4000棱镜耦合仪

品牌： Sairon Tech

型号： SPA-4000

产地：韩国

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T2000型多功能摩擦磨损试验机

品牌： NANOVEA

型号： T2000

产地：美国

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T50型多功能摩擦磨损试验机

品牌： NANOVEA

型号： T50

产地：美国

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T100型多功能摩擦磨损试验机

品牌： NANOVEA

型号： T100

产地：美国

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荷兰TeraNova光栅尺寸无损检测仪（散射仪）

品牌： TeraNova

型号： LabScatter

产地：荷兰

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德国Osiris UNIXX D20型晶圆显影机

品牌： Osiris

型号： UNIXX D20

产地：德国

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德国Osiris UNIXX HTe20型半自动晶圆烘焙热板系统

品牌： Osiris

型号： UNIXX HTe20

产地：德国

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德国Osiris UNIXX HTp20 型手动晶圆烘焙热板系统

品牌： Osiris

型号： UNIXX HTp20

产地：德国

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德国Osiris CHEMIXX 1201型全自动湿法处理系统

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX 1201

产地：德国

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德国Osiris CHEMIXX 760型大尺寸清洗系统

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX 760型

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德国Osiris CHEMIXX E 30Pm 湿法刻蚀专用系统

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX E 30Pm

产地：德国

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德国Osiris CHEMIXX CMP 30pm型CMP后清洗机

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX CMP 30pm

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德国Osiris CHEMIXX 30pm型标准湿法处理系统

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX 30pm

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