核心参数
产地类别: 进口
仪器种类: 数字式
扫描范围: 350mm*350mm(XY方向)
分辨率: 0.5μm(XY方向)
n主要用途:
测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷,如空洞、分层、裂缝、异物等;
n优势简介:
- 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构
- 可分层扫描、多层扫描
- 噪声低,成像质量高
- 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计
- 可显示材料内部的三维图像
- 对人体是没有伤害的
- 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)
n产品特色
SAM-DENEB是一款高性能声学显微镜,可以对塑封集成电路IC、IGBT大功率模组,各型电容、以及铜基板器件进行无损检测,分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机,扫描速度快,同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式,如点扫描(A-)、纵剖扫描(B-)、横剖扫描(C-)、多层横剖扫描(X-)等。
n主要参数
- 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz
- A/D 换能器:2GHz 取样频率, 1GHz带宽
- 扫描台XY方向扫描范围:350mm*350mm
- XY方向扫描速度:1000mm/s
- XY方向扫描分辨率:0.5μm
- XY方向重复定位精度:±0.5μm
- Z方向扫描范围:70mm
- Z方向扫描分辨率:2.5μm
n产品应用
半导体方向 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB
材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone
Acoulab超声波探伤仪SAM-DENEB的工作原理介绍
超声波探伤仪SAM-DENEB的使用方法?
AcoulabSAM-DENEB多少钱一台?
超声波探伤仪SAM-DENEB可以检测什么?
超声波探伤仪SAM-DENEB使用的注意事项?
AcoulabSAM-DENEB的说明书有吗?
Acoulab超声波探伤仪SAM-DENEB的操作规程有吗?
Acoulab超声波探伤仪SAM-DENEB报价含票含运吗?
AcoulabSAM-DENEB有现货吗?
企业名称
微纳科仪(北京)科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91110105596091635X
成立日期
2014-02-24
注册资本
500
经营范围
生产,经营
微纳(香港)科技有限公司
公司地址
北京市亦庄经济技术开发区大族广场T4-504室
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