全自动超声波扫描显微镜
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PVA Tepla

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SAM全自动系列

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美洲

  • 银牌
  • 第2年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

全自动超声波扫描显微镜SAM Autotray 系列:SAM Auto Tray是专门为电子器件、电路板、IGBT和其他复杂部件的生产控制而开发的产品系列。该系统符合10级洁净室标准,主要应用包括验证缺陷,如:缝隙、气泡、孔洞、夹杂物、脱层区域、焊接或银烧结界面的厚度变化等,支持同时检查多个界面。





全自动超声波扫描显微镜SAM Autowafer 系列:SAM 300 AutoWafer系列是专门为内联生产控制而开发的产品系列,符合100/1000级无尘室标准,该系统专为检测晶圆界面、晶圆键合、 MEMS 产品、或者混合粘合应用而设计,可用于检测空洞、夹杂物或分层或微空隙。多传感器配置可使得晶圆检测通过率





全自动超声波扫描显微镜SAM 大视场扫描系统:SAM大视场系列是专门为分析DCBs或电源模块而开发的产品系列,可支持检测扫描范围为300µm x 300µm1300mm x 1300mm。多至8个传感器可实现超高检测通过率。该系统包括自动缺陷审查软件、GEM/SECS通讯,以及MES通讯。激光打标站和分类输出端口可供选择。





售后服务承诺

产品货期: 60天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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PVA Tepla关键尺寸测量SAM全自动系列的工作原理介绍

关键尺寸测量SAM全自动系列的使用方法?

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全自动超声波扫描显微镜信息由深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于 全自动超声波扫描显微镜报价、型号、参数等信息,深圳市矢量科学仪器有限公司客服电话:400-860-5168转5919,欢迎来电或留言咨询。
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