晶粒取向分析

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晶粒取向分析相关的耗材

  • 高取向热分解石墨
    高取向热分解石墨由于其独特的 平整性、可剥离性和高取向性可 用于原子力显微镜样品的制备和 表征工作。 1级:马赛克角度小至0.4° +/- 0.1° (极佳的结晶完整性),价 格比其它同品质的HOPG更低。此 级是最高度有序的产品,横向晶粒 尺寸通常3 mm左右,但也可达到 10 mm。此级产品通一般于仪器校 准或特殊的科研实验(对HOPG有 序性要求很高)。此种最优质的材 料,价格也是很贵的。适用于要求苛刻的校准程序和研究领域。 2级:马赛克角度小至0.8° ± 0.2° 。此级产品有序性方面比SPI-1 级稍差一些,但已经可以满足大多数使用者的要求了。横向晶粒尺 寸0.5 mm左右,也可达到1 mm。此级产品的可剥离性比马赛克扩 散0.4° 的SPI-1级产品稍差一些。适用于多数常规场合,价格便 宜。与SPI-1相比,一些用户更喜欢此种HOPG,因为其裂片梯级 稍呈波纹状,样品更容易固定(有更好的附着力)。
  • 单晶取向金标样晶面间距0.204nm
    【产品详情】此单晶取向金标样为负载于金网上的高取向超薄单晶金箔,可通过晶面间距0.204nm(200晶面),0.143nm(220晶面)和0.102nm校正检测TEM的分辨率、成像质量、放大倍率和高倍率下的稳定性,尤其适用于TEM样品阶梯上的高度调整。产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 单晶取向金
    CP646 该标样为搭载在金网上的高取向 生长的超薄单晶金箔。金箔是利 用外延生长技术制备的, 其晶 面间距为0.102nm,0.143nm, 0.204nm。它可以对TEM的分辨 率、成像质量、放大倍率、和高 倍下的稳定性参数指标进行校正 和检测。

晶粒取向分析相关的仪器

  • 钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm,支持升级30kV电压,可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围,适用于快速筛选待测样品,更多的扩展接口,可搭载BSED、EDS等附件,使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯,即使是新手用户,简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散,均可一键调节,提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧,灵敏度高,采用4分割设计,无需倾斜样品,可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下,荷电效应明显减弱,并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大,完全满足高分辨EBSD的测试需求,能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图,能够识别晶粒大小和取向,判断晶界和孪晶,对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数
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  • 布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪,材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计,配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件,附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换,包括:反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用:高分辨XRD(HRXRD)外延多层膜厚度晶胞参数晶格错配组份应变及弛豫过程横向结构镶嵌度X射线反射率(XRR)薄膜厚度组份粗造度密度孔隙度倒易空间图谱(RSM)晶胞参数晶格错配组份取向弛豫横向结构面内掠入射衍射 (in-plane GID)掠入射小角X射线散射(GISAXS)晶胞参数晶格错配横向关联性取向物相组成孔隙度应力和织构分析取向分布取向定量应变外延关联硬度物相鉴定(Phase ID)物相组成d值确定择优取向晶格对称性晶粒大小应用实例:HRXRD 硬件设置 LEPTOS(布鲁克公司高分辨数据分析软件)分析多层膜数据
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  • [产品简介]作为Xradia Versa系列中的前沿产品,蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 在科学探索和工业研究领域为您开启了多样化应用的新高度。采用光学和几何两级放大成像架构,可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于出色的高分辨率和衬度,蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 拓展了无损成像的研究界限,大大提高了研究灵活性,加快您的研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索和发现的感兴趣区域进行高分辨成像,实现从探索到发现的工作流无缝衔接。全系列的Xradia Versa系统都兼容ART3.0高级重构工具箱,利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。[产品特点]&bull 三维无损成像&bull 真实空间分辨率: 500nm@ Xradia 610&620 Versa, 450 nm@ Xradia 630 Versa,最小体素40nm&bull 更快的成像速度&bull 独特的大工作距离下高分辨率,可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像&bull 吸收、相位和衍射衬度成像模式&bull 4D 原位成像能力&bull 可升级和拓展[应用领域]&bull 材料科学,如三维无损分析&bull 生命科学,如微观结构成像&bull 地球科学,如地质、油气、矿产、古生物等三维成像&bull 电子和半导体行业,如形貌测量及失效分析&bull 原位力学、变温试验&bull 衍射衬度成像,实现三维晶粒取向分析 复合材料 电子半导体 生命科学(脑神经) 古生物 油气地质(致密砂岩)
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晶粒取向分析相关的试剂

晶粒取向分析相关的方案

  • 布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列(一)——晶粒尺寸分析
    D6 PHASER非常适合通过粉末X射线衍射技术进行快速的晶粒尺寸分析。该分析是基于对多个晶体衍射峰的评估,通常它们会随着晶粒尺寸变小而出现特征性展宽。晶体衍射峰的展宽必须与仪器自身的展宽进行分离,后者决定了晶粒尺寸的上限值。而晶粒尺寸分析的下限则是由从仪器自身背景中分离出宽的、低强度信号的能力所决定的。
  • XRD测定磷酸铁锂晶粒尺寸
    利用岛津X射线衍射仪,依据Scherrer公式,利用岛津分析软件“Xtal Size & LatticeStrain”,可以快速、准确的完成磷酸铁锂材料不同方向晶粒尺寸的测定。
  • 天津兰力科:铁素体不锈钢晶粒细化及耐腐蚀性研究
    本文介绍了在工业纯铁和0Cr17铁素体不锈钢中加入不同含量的强碳氮化合物形成元素钛,并加入适量的硅、锰、铝,利用钛与C、N原子的强烈亲和作用,来固定C、N等间隙原子,生产含钛铁素体不锈钢。包括试验钢的化学成分设计,冶炼、锻造及普通的轧制工艺设计。采用了金相显微镜、透射电子显微镜等显微分析手段和力学性能、电化学试验等试验方法,观察和分析了试验钢的组织、晶界、析出物的特点,考察了钛对试验钢的强韧性的影响,研究了试验钢的耐腐蚀性能,并对不锈钢的微合金化问题进行了较为全面的探讨。通过对试验钢的力学性能和显微分析后可以认为,当材料在低于奥氏体再结晶温度而高于Ar3相变温度时变形,能够促使相变在较高的温度下发生,并且能得到较小半径的临界核胚。要想得到超细晶铁素体组织,必须对钢铁材料进行较大程度的变形。强碳氮化合物形成元素钛可以通过其碳氮化合物在均热时阻止奥氏体晶粒的长大,热轧过程中阻止奥氏体再结晶及钢中存在的细小未溶的钛的碳氮化合物促进γ→α转变这几个方面来细化铁素体晶粒。试验结果表明,钛可以细化0Cr13铁素体不锈钢晶粒,提高其强度,改善其韧性,使之具有较好的加工性能。钛的添加量有一最佳范围,过多过少都不能获得理想的强化效果,当钛的含量为碳含量的6~9倍时具有较好的效果。分析计算表明,第二相析出粒子Ti(C,N)粒子对铁素体晶界的拖曳力主要取决于其大小及所占体积分数。Ti(C,N)粒子越小,所占体积分数越大,越能有效地细化铁素体晶粒,从而提高钢铁材料的综合性能。通过对沉淀析出第二相粒子的热力学与动力学分析可知,Ti(C,N)析出粒子越细小,越容易粗化,因而要得到极细的第二相析出粒子比较困难。通过实验室的电化学试验结果分析,表明:普通的0Cr13型铁素体不锈钢耐晶间腐蚀的能力较差。引入钛之后,钢中的碳与强碳氮化合物形成元素钛可以生成很稳定的钛碳化物,(Fe,Cr)7C3在晶界上的析出受到抑制。钛元素的引入,消除了钢中的C、N间隙原子,抑制了珠光体组织的生成,净化了铁素体晶界,提高了铁素体组织的均匀性,使其耐腐蚀性能显著提高。

晶粒取向分析相关的论坛

  • 判断晶粒取向

    问一个可能比较傻的问题啊,如果给出一种薄膜材料晶体结构的晶体常数a,b,c,怎么在TEM下判断薄膜中很多不同晶粒的晶体取向,比如说我要找a轴取向晶粒是通过高分辨梁静面间距=a吗?

  • 求助:晶粒取向

    请问各位高手: 我想知道,通过SEM表面形貌图片能够判定晶粒的取向吗? 谢谢各位!!!

晶粒取向分析相关的资料

晶粒取向分析相关的资讯

  • 微量元素分析?应力、取向分析?电镜-拉曼联用应对有妙招!
    《RISE大招》前情回顾:与RISE之相遇、相知、相恋和相爱。本系列前几集讲述了RISE拉曼-电镜一体化系统在传统扫描电镜“心有余而力不足”的分析困境下一跃而出到它对于无机材料分析的武功路数:无机相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析等等。(前三集链接:点击下列文字即可快速查看)。01 “我的前半生”结束了,后面的科研之路就靠它了!02 无机材料分析,RISE还有这些大招!03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析今天呢,主要给大家讲讲RISE对于无机材料中微量元素分析、取向分析和取向应力分析的解决方案。无机材料之微量元素分析在传统的电镜中,由于EDS的检出限为0.1%,所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说,EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析,但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。 如下图,为某矿物试样。Nd元素含量较低,EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。 如果要点扫描,虽然单点数据可以比mapping更准确的测出Nd的含量,但是无法得到分布。如果要仔细分析,需要用户选择很多个测试点进行分析。但是这样得到的数据工作效率很低,数据整理困难,且准确性也难以评价。 而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描,发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近,含量偏低的和蓝色谱图接近,所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。根据RISE图像,我们还可以再去进行EDS分析,对含量偏高或偏低的区域做更精确的EDS定量分析。这比没有RISE图像仅根据SEM图像随机选点采集很多个数据点,再进行后期分析,无论是准确度还是效率上均要提高很多!无机材料之取向分析取向是晶体材料的重要基本参数,拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析,但是对于很多无机材料来说,取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。 如下图,试样为白铁矿晶体,主要成分为FeS2,结构属斜方双锥晶类,对称性较低。在RISE系统下,SEM图像获得了明显的ECC衬度,然后再进行拉曼光谱面扫描,发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化,其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后,得到了随取向变化的RISE图像。虽然我们不能得到每个晶粒的精确的取向,但是晶粒的分布及大小却可用非常清楚的从RISE图像获得。RISE不同于EBSD识别衍射花样,它另一个角度为分析晶粒提供了一定新的方法。 无机材料之取向应力分析应力测试也是无机材料分析的重要方面,目前微区应力分布测试主要手段是EBSD,通过测试取向差的分布来间接的反应的情况下。但是EBSD分析手段又有一定的局限性。 拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力,特征峰会往高波数方向移动;反之,若存在拉伸应力,特征峰会向低波数方向移动。且应力越大,特征峰的位移越大。 RISE系统的拉曼成像能力非常强大,可以用特征谱线的位移来进行成像。如下图,对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区,特征峰往高波数方向移动,周边往低波数方向移动。根据此规律成像后,得到了纳米压痕区域,硅表面的压缩和拉伸应力分布图。 RISE七十二般武艺,招招新奇,但一招一式,每一个路数都为更好地帮助您的科研分析而生。除了应对传统扫描电镜分析能力薄弱的问题,RISE系统还切实突破并解决了传统意义上的电镜-拉曼联用系统的种种分析弊端,采用了扫描电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计,使得综合分析更加行之有效。《RISE大招》下集看点:说了这么多,是时候总结一下啦~Hahaha...关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno,是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司,有超过60年的电子显微镜研发和制造历史,是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者,也是行业领域的技术领导者。↓ ↓ ↓ 观看RISE大招全系列,请戳:01 “我的前半生”结束了,后面的科研之路就靠它了!02 无机材料分析,RISE还有这些大招!03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析
  • 课堂 | Leica EM TIC3X应用实例:高应变率作用下高导无氧铜(OFHC)的晶粒细化分析
    通过leica em tic3x 对样品进行离子束切割,样品ebsd mapping解析率得到明显提升,可达80%-90%以上,并且结果稳定可重复,更好地表征了晶粒的变形,以及大小角晶界的转变。实验样品高应变率作用下高导无氧铜(ofhc)实验目的通过电子背散射衍射技术(ebsd)对在高应变率、高温和大变形条件下获得的材料进行晶粒变形细化以及再结晶行为的表征,以期达到表征材料力学属性的目的。实验过程 1 原始样品的制备高速切削是一种集合高应变率、高温和大变形的一种材料变形的复杂材料変形条件,通过改变切削速度来改变上述的变形边界条件,高速切削的过程示意图如下:(图1 高速切削过程示意图)获得的切屑经过金相镶嵌和腐蚀之后的试样如图所示:(图2 经过镶嵌和腐蚀之后的切屑)从图2中可知晶粒已经严重变形,光镜已经无法分辨,而且对于晶粒到底发生了什么变化,光镜也无法做到表征的目的,因此对于材料ebsd表征十分必要。 2 实验样品的制备ebsd制样是本次实验的重中之重,本次实验较难主要体现在3个方面:一是因为经历了严重塑形变形的材料自身的晶粒内部就会存在一定的残余应力,在表征的时候有一定的难度;二是高导无氧铜是一种特别软的材料,在制样的时候非常容易带入应力,或者划伤测试面;三是经过高速切削得到的样品宽度非常细长,不是传统的块体,制样过程比较困难。目前解决方案主要有四种:机械抛光,电解抛光,振动抛光,离子抛光,这几种方法目前都有所尝试,解析率都不太高,究其原因,主要还是因为我的样品细长弯曲的原因,经过镶嵌之后,电解抛光无法满足,机械抛光很容易带入划痕,离子抛光镶嵌之后的样品效果不是十分理想,很多方法都不太适用。通过与徕卡电镜制样技术人员沟通,认为离子切割的方法能比较好的解决目前存在的问题,经过leica em tic 3x离子切割出来的样品解析率超过了80%,部分区域甚至能够达到90%以上,最重要的是这种制样方法非常稳定,实验的结果能够比较方便的被复现出来,可较好地满足我的研究需要。 3 实验观测通过ebsd测试,获得的mapping图的解析率有了较为明显的提升,更高的解析率意味着晶粒的变形,以及大小角晶界的转变也能更好的表征出来。图3 经过振动抛光之后获得的ebsd角度取向分布图图4 经过离子切割之后获得的ebsd角度取向分布图总结通过上述实验的结果可以得出结论,相比于目前主流的振动抛光、电解抛光和离子抛光,在进行一些形状比较特殊的样品的ebsd试样的制备时,离子切割方法所具备的不受样品自身形状限制,效率高,稳定性好,可重复性高等都是目前比较常用的制样方法所不具备的,因此离子切割为ebsd的制样方法做了一个十分重要的扩充!致谢:西安交通大学 机械学院 许祥关于徕卡显微系统leica microsystems 徕卡显微系统是全球显微科技与分析科学仪器之领导厂商,总部位于德国维兹拉(wetzlar, germany)。主要提供显微结构与纳米结构分析领域的研究级显微镜等专业科学仪器。自公司十九世纪成立以来,徕卡以其对光学成像的极致追求和不断进取的创新精神始终得到业界广泛认可。徕卡在复合显微镜、体视显微镜、数码显微系统、激光共聚焦扫描显微系统、电子显微镜样品制备和医疗手术显微技术等多个显微光学领域处于全球领先地位。 徕卡显微系统在全球有七大产品研发与生产基地,在二十多个国家拥有服务支持中心。徕卡在全球一百多个国家设有区域分公司或销售分支机构,并建有遍及全球的完善经销商服务网络体系。
  • 循丝探理│碳纤维取向度如何测?
    导 读碳纤维作为高性能纤维的翘楚,具有耐高温、抗摩擦、导电、导热及耐腐蚀等特性,并且沿纤维轴方向有很高的强度和模量,其外形呈纤维状、柔软、可加工成各种织物,一直以来,是航空航天、风电叶片、汽车、压力容器等高端应用场景的核心材料之一。 老话常说:心往一处想,劲儿往一处使。其实说的就是“方向一致进而形成强大的合力”。类似,对纤维材料而言,其分子链、微晶在拉伸等加工过程中产生的方向效应,即取向效应,亦对纤维的机械性能有着直接影响。岛津XRD(X射线衍射仪),配有纤维取向度专用附件,可方便、迅捷的对聚合物等纤维材料取向程度进行测定。 什么是纤维取向度?定义:表示纤维的晶体轴沿着纤维长度方向排列的平行程度或择优取向程度。 先来看两张示意图:左图给各位看官直观的感觉是不是就像一群散兵游勇? 而右图则是整齐队列的既视感?整齐划一、万众一心、众志成城!!! 是的,合成纤维等线形聚合物在未发生取向时,大分子链或链段、微晶的排列是随机的、无序的;而在纺丝、拉伸等加工过程中,大分子链或链段、微晶受到外力的作用,则会表现出不同程度的取向效应。 发生取向后,由于在取向方向上原子之间的作用力以化学键为主,而在与之垂直的方向上,原子间的作用力以较弱的范德华力为主,因而纤维取向度越高,则纤维长度方向上的机械强度、弹性模量等机械性能越好。 XRD测试纤维取向度原理 XRD作为材料结构分析的典型手段,可对纤维材料取向度进行有效表征。图1 纤维取向度测试时光路示意图 在正交透射模式下(图1),将纤维束置于子午线方向,保持光管、样品位置固定不动,探测器作2θ扫描收集衍射信号,此过程称为子午扫描。将纤维束置于赤道线方向,重复上述过程,即为赤道扫描;存在高度取向的纤维,赤道扫描与子午扫描谱图差异较大。 选取某特征衍射峰,将探测器固定于该特征峰峰位处,纤维束在垂直于入射X射线的平面内旋转(图1),测得β-I角度-强度分布曲线,此过程称之为方位角扫描,并采用以下经验公式即可计算纤维取向度π。 式中:π—纤维取向度 H—方位角扫描谱峰半峰宽(单位°) 岛津解决方案 针对纤维取向度测试,岛津XRD开发有纤维取向度专用附件,纤维专用样品架(图2)可保证纤维束平直拉紧,旋转样品台(图3)可实现正交透射模式及平面内旋转,以及数据处理模块“Preferred Orientation”可一键给出纤维样品取向度。 以某碳纤维样品实际测试为例,其赤道扫描及子午扫描谱图叠加见图4;显然,纤维束在两种方向放置测试,测得谱图差异十分明显,例如黑色箭头标示处,赤道扫描,该衍射峰强度非常高,而在子午扫描时该处基本未出峰,这表明该碳纤维存在很强的取向。 图4 碳纤维样品赤道扫描与子午扫描谱图叠加 利用岛津分析软件“Basic Process”模块,对赤道扫描谱图进行处理,读取最强峰衍射角2θ=25.69°,将探测器固定在25.69°进行方位角扫描,测得的强度分布曲线如图5所示。 图5 碳纤维样品方位角扫描谱图 利用岛津分析软件“Basic Process”模块,对方位角扫描谱图进行平滑、扣除背底、寻峰等操作后,利用岛津分析软件“Preferred Orientation”模块即可直接计算出碳纤维样品取向度为83.7%。 结语 纤维取向度对纤维的机械强度、弹性模量及其它机械性能有着直接影响,因此对纤维取向度进行测定有着非常重要的实际意义。类似的测试可拓展用于不同批次、不同工艺下纤维产品的对比,进而指导工艺优化。 撰稿人:崔会杰 *本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。
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