荧光材料

仪器信息网荧光材料专题为您整合荧光材料相关的最新文章,在荧光材料专题,您不仅可以免费浏览荧光材料的资讯, 同时您还可以浏览荧光材料的相关资料、解决方案,参与社区荧光材料话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

荧光材料相关的耗材

  • 荧光塑料环模具 铝杯模具 压片磨具
    荧光专用塑料环模具 铝杯模具 压片磨具
  • 标准品和参比材料
    标准品和参比材料订货信息:标准品和参比材料说明部件号密封充满水的荧光池 用于拉曼水荧光带的信噪比测量6610021800二氧化硅漫射滤光片,备件1106748001.5 Abs 中密度衰减器,备件110677500PMMA 中的罗丹明 B6610021900PMMA 中的铕6610022200密封在三角荧光池中的罗丹明 B 溶液 三角荧光池中的饱和玫瑰精 B 溶液用于收集激发校正因子6610021700密封在石英荧光池中的 4% 高氯酸钬的高氯酸溶液 密封荧光池用于在发射单色仪上精确测量波长。要求使用池支架,部件号110678600。包括可追溯的证书和性能证书6610022100高氯酸钬荧光池支架 特殊池支架用于在标准池支架前方安装一个比色池。这个附件用于安装高氯酸钬荧光池支架以获得准确的波长测试,这允许将漫射滤光片安装在标准池支架且高氯酸池定位在这个池支架上,从而可使用高氯酸钬溶液测试 Cary Eclipse 的精确波长110678600荧光样品,PMMA 中含有六种烃类化合物 其中四种在 300-700 纳米波长范围内有宽荧光带,另两种有窄发射荧光带,用于波长校正和带通检测;包括 Anthracence/Napthalene,Ovalene,p-三联苯,四苯基丁二烯,化合物 610 和 PMMA 中的Rhodamine B6610010300荧光演示工具包 包括 PMMA 中的铕,PMMA 中的卵苯,一个密封充水的荧光池和一个 10 x 10 毫米的荧光池9910101900
  • YAG荧光粉
    YAG荧光粉由Y3Al5O12:Ce闪烁体或Y3Al5O12:Ce荧光体直接加工而成,这款YAG荧光粉是欧洲进口的优质Ce:YAG荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。YAG荧光粉,全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

荧光材料相关的仪器

  • 荧光粉及荧光胶品管解决方案 白光LED 封装制程中,蓝光晶片的发光特性和荧光粉发光特性决定白光LED 的光色特性;特别是荧光粉的发光效率将直接影响白光LED 的光色坐标;本设备为封装厂家提供一个原料及荧光调胶制程的数字化管控工具;
    留言咨询
  • [ 产品简介 ]在对较大样本进行荧光成像时,非焦平面的杂散光往往会使图像模糊,从而降低对比度和分辨率。全新蔡司结构照明Apotome 3光学切片成像组件,可搭载在开方式倒置荧光显微镜、研究级正置荧光显微镜和大视野宏观变倍显微镜等宽场显微镜上。Apotome 3可以自动识别物镜放大倍数,将与之匹配的栅格移动到光路中,利用结构照明,将栅格结构投影到样品的焦平面上,消除样本非焦平面的杂散光,再通过蔡司特有的算法生成更清晰锐利的光学切片,让您获得出色分辨率和高对比度图像。与传统宽场荧光显微图像相比Apotome 3 能够显著提高轴向分辨率,您可以获得支持三维渲染的优质光学切片,厚的样品也不例外。[ 产品特点 ]&bull 优质的光学切片:蔡司Apotome3具有三种不同几何性状的栅格,无论您选择何种放大倍率,都可以保证高分辨率, &bull 自由选择光源和染料:蔡司Apotome 3可适应荧光团和光源。因此,当实验的复杂性和需求发生变化时,您也可以灵活应对。&bull 更多结构化信息:凭借结构照明的专利算法,您甚至可通过反卷积进一步改善图像质量。更好地识别所检查对象的重要结构。[ 应用领域 ]&bull 组织学样品二维、三维荧光光切成像&bull 活细胞样品二维、三维荧光光切成像&bull 全胚胎大视野荧光光切成像 皮质神经元DNA和微管染色的宽场图像(DAPI,A488),Z stack,40X物镜(左图未使用Apotome拍摄,右图使用 Apotome拍摄)
    留言咨询
  • SSP9511荧光材料余辉特性测试仪一、仪器简介SSP9511荧光材料余晖特性测试仪按照DIN 67 510 标准(德标)和GB/T24981.2(国标)设计制作,主要用于荧光材料余辉特性的测试,功能齐全,性能稳定可靠,测量报表完全与国际接轨。测试范围广泛,包括各种余辉发光材料及制品(如颗粒,薄膜,涂料,瓷砖、搪瓷、铭牌等)。二、主要功能 ◆ 测试各种荧光材料的余辉特性,包括发光亮度、余辉时间及余辉亮度曲线。◆ 通过软件设定测量参数,全自动测量过程,操作简单。◆ 自动生成报表,格式可以和国际对比,可根据需要保存测量数据并打印报表。 三、技术参数 仪器标准: 德国DIN 67 510 Part 1激发光源: D65或UV;50lx~2000lx可调探测器: V(λ)一级校准,HAMAMATSU滨松高精度探测器测量方式: 全自动激发时间设定范围: 0.5min~100min测量时间设定范围: 20min~24hour亮度测量范围: 0.1mcd/m2~200cd/m2报表格式: 中英文可选,国际通用格式工作环境: 室内使用环境温度: 10℃~ 35℃主机机械尺寸: 500*328*250 (mm)主机重量: 18 kg 四、配置说明 基本配置:SSP9511主机、探测器系统、激发光源、系统软件光盘、粉料样品池、粒料样品池、电源线、串口连接线。技术要点问答:1 仪器的设计标准是什么答:德国标准DIN 67510-2-2002 ENG DIN和参考国标GB/T2498.2-20102 科研版本和工业版本的差别在那里X答 工业版本的样品池比较大 按照问题1所提的标准设计 ,科研版本用量比较少 ,样品次为非标小样品池。工业夜光材料比较成熟 亮度比较高,比较容易测试。科研用的探测器会比工业型的更加灵敏。3 激发的光源用的是什么答: 现在标准光源用的是D65标准荧光灯 ,可以根据需要更换成紫外激发或者氙灯激发。4 测试的流程怎么样答 :大多数测试流程由计算机控制 。测试一次的流程:测试激发光源照度大约在1000lux附近-装入测试样品-设置点亮时间 - 设置测试时间-点击余辉特性测试 -根据程序测试自动的开灯 关灯 采集数据 软件上显示-自动保存数据-结束测试5 有哪些可以材料可以测试答 :夜光的指示牌 长余辉粉体 长余辉膜 发光陶瓷 夜光纺织品 科研合成夜光材料等 具有蓄光的性能的材料。
    留言咨询

荧光材料相关的方案

荧光材料相关的论坛

  • 荧光光谱合成材料荧光峰偏移

    原来合成的金属纳米簇本来是在438nm处发射出强烈的荧光峰,现在过了个暑假之后重新合成之后发现发射峰偏移至424nm,材料有一种是借的别人的(不是之前的)今天又用之前的材料正在合成,透析袋用完了重新买的新的但不是原来的那个种类,但分子量都是一样的这个荧光没问题,这咋回事呀 那

荧光材料相关的资料

荧光材料相关的资讯

  • 宁波材料所近红外热活化延迟荧光材料与器件研究获进展
    近红外有机发光二极管(NIR-OLEDs)在生物成像、防伪、传感器、远程医疗、显微摄影、夜视显示等方面颇具实际应用价值,已成为有机电致发光器件的重要发展方向之一,而热活化延迟荧光(TADF)材料可以实现100%激子利用率,其量子效率可媲美基于贵重金属的磷光材料,具有应用潜力。受能隙定律的影响,近红外发光材料的基态(S0)和第一单态激发态(S1)势能面接近,近红外发光材料普遍存在严重的非辐射失活现象,在聚集态中表现得尤为严重。非掺杂器件在面板显示和一般照明应用中具有良好的重复性、高稳定性和低成本等优点以及商业化潜力。鉴于TADF材料具有强的分子内电荷转移(ICT)特征,在非掺杂条件下可较易获得深红色甚至近红外发射,因此亟需开发出光亮的NIR-TADF非掺杂材料。  近日,中国科学院宁波材料技术与工程研究所研究员葛子义和副研究员李伟等开发了一种在非掺杂条件下即可实现高效率的NIR-TADF,基于该材料的NIR-OLED最大外量子效率为9.44%,发光峰位于711nm,是目前已报道的基于TADF材料的NIR-OLED最高效率之一。科研团队探究了TADF材料的材料结构、发光特性与聚集态之间的关系。一般认为,非晶态薄膜的无序程度高于有序排列的单晶,薄膜中光团的光致发光量子产率(PLQYs)普遍高于晶体态。已知TADF分子的非辐射淬灭主要受Dexter能量传递(DET)机制主导下的分子间电子交换作用。DET过程的短程特性,在高浓度下会发生激子湮灭,故分子填充模式的微小变化可能对光电子性能产生影响,甚至决定光团的光物理性能。因此,研究团队设计了T-β-IQD单晶来深入探究材料在结晶态和未掺杂态下的高发光量子产率的机理。x射线晶体学分析表明,T-β-IQD具有面对面的堆积结构,且相邻有较大的层间滑动,TIQD晶体呈“头尾”排列。根据Kasha激子模型,T-β-IQD的二聚体跃迁偶极子与对应偶极子对齐方向的夹角(θ)分别为24.92°,为J型聚集体形式,可以提高辐射衰减率。在T-β-IQD晶体中,同时存在分子内和分子间CNH-C和C-Hπ协同作用(图1)。这种适度的分子内C-Hπ相互作用可以锁住β-TPA供体上的分子内叔丁基苯单元和萘,高度限制它们在结晶态下的旋转。同时,在晶体和共轭骨架中没有观察到明显的π-π堆积接触,这降低了浓度淬灭效应(ACQ)。根据DET机制,T-β-IQD晶体的邻腈核之间的远距离(8.50)有望抑制延迟荧光(DF)和三态激射灭(图2)。此外,在TIQD晶体中,相邻的IQD段之间形成了距离为3.35的强分子间π-π相互作用,表明相对于T-β-IQD晶体,分子间的堆积更为紧密,且具有严重的非辐射衰变。分子动力学(MD)模拟表明,T-β-IQD的受体面与二聚体对齐方向的夹角(θ)为27.5°,T-β-IQD在非晶态下倾向于以J-聚集体形式堆积。T-β-IQD的吡咯核间距为4.1。T-β-IQD的平面受体之间距离较大,避免了浓度猝灭效应。T-β-IQD分子的平面受体片段呈现角度错位排列,未观察到明显的共面堆叠,这将有助于抑制非掺杂薄膜中的ACQ效应。  在稀释THF溶液中,T-β-IQD几乎不发射,而当水分数(fw)增加到60%时,PL强度迅速增加,表现出明显的聚集诱导发光(AIE)特征(图2)。T-β-IQD在固体状态下表现出几乎与浓度无关的特性。这种独特的优点可以归结于它的RIR原理的AIE效应、具有C-Hπ和CNH-C分子间相互作用的J聚集性质以及晶体态的大中心到中心距离,这提高了非掺杂薄膜和基于材料的发射效率。  相关研究成果以Highly Efficient Near-Infrared Thermally Activated Delayed Fluorescent Emitters in Non-Doped Electroluminescent Devices为题,作为热点文章发表在《德国应用化学》上。研究工作得到国家杰出青年科学基金、国家重点研发计划、国家自然科学基金、宁波市科技创新2025重大专项等的支持。
  • 复合荧光材料的量子产率分布测量
    1. 引言量子产率是评价荧光材料发光效率的重要参数,复合荧光材料通常由两种或两种以上的材料组成,依据样品的量子产率分布可以确认每种成分的发光效率,助力于样品的精细化分析。 日立荧光分布成像系统能够同时获取样品图像和光谱信息,从而实现精细化测量,此次实验测定了复合荧光材料的量子产率分布。 2. 应用数据 2.1 附件介绍荧光分布成像系统是荧光分光光度计的新附件,包含软件和硬件两部分。入射光通过附件中的积分球均匀照射到样品,通过荧光分光光度计的检测器获取荧光光谱,利用积分球下方的CMOS相机同时获取样品荧光和反射图像。图1 荧光分布成像系统安装示例利用样品的反射图像计算出吸收量,利用荧光图像计算出荧光量,从而计算得到量子产率分布图像。 图2 量子产率分布图像计算过程 2.2 实验部分 实验材料 样品:复合荧光材料 测量设备:日立F-7100,荧光分布成像系统 结果与分析使用日立F-7100测定样品的三维荧光光谱,通过荧光分布成像系统的分析软件对样品三维荧光光谱进行平行因子分析(PARAFAC),得到如图两种成分。图3 样品的三维荧光光谱 通过荧光分布成像系统中的智能光谱算法,将拍摄的样品图像分离为反射成分图像和荧光成分图像,如图所示。图4 样品的拍摄图像和反射、荧光图像在荧光分布成像系统软件中,可以将不同激发波长下样品的图像信息保存为如下缩略图,直接用于文档中。图5 不同激发波长下的样品图像(缩略图)对获得的样品荧光图像和反射图像进行分区,如下图将样品测量区域分成5x5的格子,选取不同的格子,坐标系中便显示对应的光谱。图中选取的两个位置分别对应平行因子分离出的成分1和成分2。图6 样品的荧光图像和荧光光谱图7 样品的反射图像和反射光谱基于以上样品的荧光图像和反射图像,软件自动计算出对应的量子产率分布图像,如下图,通过点击图像中不同的区域,可以获得对应的量子产率曲线。图8 量子产率分布和不同激发波长的量子产率因此使用荧光分布成像系统将样品在不同激发波长下的拍摄图像分离为反射图像和荧光图像,可以计算出影响荧光材料发光效率的量子产率分布图,样品中黄色区域的量子产率约60%,红色区域的量子产率约35%。 3. 总结 荧光分布成像系统是日立首创的全新技术,与日立超高扫描速度的荧光分光光度计联用,助力客户实现更精细化的荧光分析。拨打电话400 630 5821,获取更多信息!
  • 岛津应用:有机电致发光材料的荧光测定
    近年来在电机和电子领域,不断开发出使用有机电致发光(EL)的显示器和照明设备等产品。在有机EL的开发过程中,需要通过光致发光(PL)对新合成物质的光学特性进行确认。这样可以帮助我们找到高效的发光材料,以及研究材料在溶液中发光原理。通过这个过程,以开发符合要求的光色调、满足节能和高效发光等要求的有机EL材料。在检测有机EL材料时,必须在较宽的波长范围内迅速且准确地测定荧光波长。 本次分析在韩国浦项科技大学基础科学研究院(POSTECH:Pohang University of Science and Technology)的协助下,我们使用岛津荧光分光光度计RF-6000对有机EL材料之一的卟啉溶液(溶剂:三氯甲烷)进行了测定。在各种有机EL材料的开发过程中,要求能够在更高灵敏度和更大范围内进行光谱观测。RF-6000不仅能够迅速准确地进行三维测定,还能够进行高达900nm的高灵敏度光谱测定。并且,还可使用选购件积分球测定量子效率(绝对量子产率)。综上所述,使用荧光分光光度计RF-6000可有效对有机EL材料的三维光谱及荧光光谱进行确认。本文向您介绍详细的分析示例 荧光分光光度计RF-6000 了解详情,敬请点击《有机电致发光材料的荧光测定》
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制